[发明专利]光学特性测定方法以及光学特性测定系统有效
| 申请号： | 201811312188.8 | 申请日： | 2018-11-06 |
| 公开（公告）号： | CN109752091B | 公开（公告）日： | 2023-01-10 |
| 发明（设计）人： | 西田吉彦;江南世志;井上展幸 | 申请（专利权）人： | 大塚电子株式会社 |
| 主分类号： | G01J1/42 | 分类号： | G01J1/42;G01M11/00 |
| 代理公司： | 北京品源专利代理有限公司 11332 | 代理人： | 吕琳;朴秀玉 |
| 地址： | 日本大阪*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明提供一种在使用对象物的拍摄图像来测定该对象物的光学特性的构成中，能得到更良好的测定结果的光学特性测定方法以及光学特性测定系统。光学特性测定方法是测定对象物的光学特性的光学特性测定方法，包括：使用与所述对象物离开规定距离地进行配置、能维持所述规定距离的同时使相对于所述对象物的位置变化的摄像装置，来获取作为包括所述对象物的图像的一个或者多个拍摄图像的步骤；以及基于所获取的所述拍摄图像，生成来源于位于下述位置的一个或者多个解析点的包括所述对象物的虚拟图像的步骤，其中该位置是包括所述摄像装置的移动轨迹的面以外的位置。 | ||
| 搜索关键词： | 光学 特性 测定 方法 以及 系统 | ||
【主权项】：
1.一种光学特性测定方法，测定对象物的光学特性，所述光学特性测定方法包括：使用与所述对象物离开规定距离地进行配置、能维持所述规定距离的同时使相对于所述对象物的位置变化的摄像装置，来获取作为包括所述对象物的图像的一个或者多个拍摄图像的步骤；以及基于所获取的所述拍摄图像，生成来源于位于下述位置的一个或者多个解析点的包括所述对象物的虚拟图像的步骤，其中该位置是包括所述摄像装置的移动轨迹的面以外的位置。
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