[发明专利]特性阻抗测试系统及方法无效
申请号: | 200910301998.8 | 申请日: | 2009-04-30 |
公开(公告)号: | CN101876674A | 公开(公告)日: | 2010-11-03 |
发明(设计)人: | 梁献全;李昇军;陈永杰;许寿国 | 申请(专利权)人: | 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司;鸿海精密工业股份有限公司 |
主分类号: | G01R27/02 | 分类号: | G01R27/02 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 518109 广东省深圳市*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 特性 阻抗 测试 系统 方法 | ||
1.一种特性阻抗测试系统,运行于测试电脑中,该测试电脑通过交换机与控制电脑和时域反射仪相连,其特征在于,该系统包括:
文档设置模块,用于设置不同类型的印刷电路板的测试文档,所述测试文档包括:待测零件在印刷电路板中的坐标位置、待测零件特性阻抗的标准值及测试结果存储路径;
参数获取模块,用于当测试开始时,从所述测试文档中获取待测零件在印刷电路板中的坐标位置;
探针定位模块,用于根据待测零件在印刷电路板中的坐标位置向控制电脑发出探针定位指令,由该控制电脑根据该探针定位指令控制机械手臂的探针抓取装置将时域反射仪的探针定位到印刷电路板上的待测零件;
所述探针定位模块,还用于判断探针定位是否准确;
所述测试电脑还包括:
信号测试模块,用于当探针定位准确时,获取时域反射仪采集到的待测零件的特性阻抗;
所述信号测试模块,还用于根据设定的待测零件特性阻抗的标准值对待测零件的特性阻抗进行分析,以判断待测零件的特性阻抗是否在设定的标准值范围内;及
所述信号测试模块,还用于生成测试报告,并将该测试报告存储在设定的测试结果存储路径中。
2.如权利要求1所述的特性阻抗测试系统,其特征在于,所述探针定位模块根据待测零件在印刷电路板中的坐标位置向控制电脑发出探针定位指令包括:
根据待测零件在印刷电路板中的坐标位置,计算出该待测零件到原点的偏移量,所述的坐标位置是以印刷电路板的中心为原点建立坐标系来确定,探针抓取装置的初始位置定位在坐标系原点位置。
3.如权利要求1所述的特性阻抗测试系统,其特征在于:
所述文档设置模块,还用于在测试文档中设定探针定位失败后,重新定位的次数及每次定位移动的方向;
所述探针定位模块,还用于在探针定位不准确时,重新计算待测零件在印刷电路板中的坐标位置,并向控制电脑发出探针定位指令;
所述控制电脑根据该探针定位指令控制机械手臂的探针抓取装置将时域反射仪的探针定位到该重新计算得到的坐标位置;及
所述探针定位模块,还用于当设定的重新定位次数到达后,如果探针定位仍不准确,则输出定位失败信息,结束测试。
4.如权利要求3所述的特性阻抗测试系统,其特征在于,所述探针定位模块重新计算待测零件在印刷电路板中的坐标位置是指:以待测零件的当前坐标位置为中心,以设定的方向在X轴和Y轴上移动固定的距离,获得待测零件在印刷电路板中新的坐标位置。
5.如权利要求1或3所述的特性阻抗测试系统,其特征在于,所述探针定位模块还用于:
当印刷电路板中包含两个以上的待测零件时,如果测试完第一个待测零件后,根据下一个待测零件在印刷电路板中的坐标位置,计算出下一个待测零件到当前坐标位置的偏移量;及
向控制电脑发出探针定位指令,该探针定位指令包括待测零件到当前坐标位置的偏移量。
6.一种特性阻抗测试方法,应用于测试电脑中,该测试电脑通过交换机与控制电脑和时域反射仪相连,其特征在于,该方法包括如下步骤:
于测试电脑中设置不同类型的印刷电路板的测试文档,所述测试文档包括:待测零件在印刷电路板中的坐标位置、待测零件特性阻抗的标准值及测试结果存储路径;
当测试开始时,测试电脑从所述测试文档中获取待测零件在印刷电路板中的坐标位置;
测试电脑根据待测零件在印刷电路板中的坐标位置,通过交换机向控制电脑发出探针定位指令;
控制电脑根据该探针定位指令控制机械手臂的探针抓取装置将时域反射仪的探针定位到印刷电路板上的待测零件;
当探针定位准确时,时域反射仪通过交换机将采集到的待测零件的特性阻抗返回至测试电脑;
测试电脑根据设定的待测零件特性阻抗的标准值对待测零件的特性阻抗进行分析,以判断待测零件的特性阻抗是否在设定的标准值范围内;及
测试电脑生成测试报告,并将该测试报告存储在设定的测试结果存储路径中。
7.如权利要求6所述的特性阻抗测试方法,其特征在于,所述步骤测试电脑根据待测零件在印刷电路板中的坐标位置,通过交换机向控制电脑发出探针定位指令包括:
根据待测零件在印刷电路板中的坐标位置,计算出该待测零件到原点的偏移量,所述的坐标位置是以印刷电路板的中心为原点建立坐标系来确定,探针抓取装置的初始位置定位在坐标系原点位置。
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