[发明专利]特性阻抗测试系统及方法无效
申请号: | 200910301998.8 | 申请日: | 2009-04-30 |
公开(公告)号: | CN101876674A | 公开(公告)日: | 2010-11-03 |
发明(设计)人: | 梁献全;李昇军;陈永杰;许寿国 | 申请(专利权)人: | 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司;鸿海精密工业股份有限公司 |
主分类号: | G01R27/02 | 分类号: | G01R27/02 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 518109 广东省深圳市*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 特性 阻抗 测试 系统 方法 | ||
技术领域
本发明涉及一种测试系统及方法,尤其是一种特性阻抗测试系统及方法。
背景技术
随着电子科学技术的发展,印刷电路板(Printed Circuit Board,PCB)已成为各种电器设备(如计算机)不可缺少的重要组成部分。由于印刷电路板的电路中传递有超高频率的微波信号,若要保证印刷电路板在使用时的可靠性,就必须在出厂时对其零件的特性阻抗进行检测。所述特性阻抗是指如果零件(如信号线)无限长所具有的阻抗,单位为欧姆。
以往传统的检测方法需要依靠作业员的手工操作,由于检测的范围广、功能多,因此,在检测时常常忙得不可开交,不仅劳动强度大,工作效率低,而且容易产生人为错误,检测的数据也不易管理。
发明内容
鉴于以上内容,有必要提供一种特性阻抗测试系统,其可自动测试印刷电路板上零件的特性阻抗。
鉴于以上内容,还有必要提供一种特性阻抗测试方法,其可自动测试印刷电路板上零件的特性阻抗。
一种特性阻抗测试系统,运行于测试电脑中,该测试电脑通过交换机与控制电脑和时域反射仪相连,该系统包括:文档设置模块,用于设置不同类型的印刷电路板的测试文档,所述测试文档包括:待测零件在印刷电路板中的坐标位置、待测零件特性阻抗的标准值及测试结果存储路径;参数获取模块,用于当测试开始时,从所述测试文档中获取待测零件在印刷电路板中的坐标位置;探针定位模块,用于根据待测零件在印刷电路板中的坐标位置向控制电脑发出探针定位指令,由该控制电脑根据该探针定位指令控制机械手臂的探针抓取装置将时域反射仪的探针定位到印刷电路板上的待测零件;所述探针定位模块,还用于判断探针定位是否准确;所述测试电脑还包括:信号测试模块,用于当探针定位准确时,获取时域反射仪采集到的待测零件的特性阻抗;所述信号测试模块,还用于根据设定的待测零件特性阻抗的标准值对待测零件的特性阻抗进行分析,以判断待测零件的特性阻抗是否在设定的标准值范围内;所述信号测试模块,还用于生成测试报告,并将该测试报告存储在设定的测试结果存储路径中。
一种特性阻抗测试方法,应用于测试电脑中,该测试电脑通过交换机与控制电脑和时域反射仪相连,该方法包括如下步骤:于测试电脑中设置不同类型的印刷电路板的测试文档,所述测试文档包括:待测零件在印刷电路板中的坐标位置、待测零件特性阻抗的标准值及测试结果存储路径;当测试开始时,测试电脑从所述测试文档中获取待测零件在印刷电路板中的坐标位置;测试电脑根据待测零件在印刷电路板中的坐标位置,通过交换机向控制电脑发出探针定位指令;控制电脑根据该探针定位指令控制机械手臂的探针抓取装置将时域反射仪的探针定位到印刷电路板上的待测零件;当探针定位准确时,时域反射仪通过交换机将采集到的待测零件的特性阻抗返回至测试电脑;测试电脑根据设定的待测零件特性阻抗的标准值对待测零件的特性阻抗进行分析,以判断待测零件的特性阻抗是否在设定的标准值范围内;测试电脑生成测试报告,并将该测试报告存储在设定的测试结果存储路径中。
相较于现有技术,所述的特性阻抗测试系统及方法,可以自动测试印刷电路板上零件的特性阻抗,避免了人工作业的错误发生,提高了测试的可靠度及效率。
附图说明
图1是本发明特性阻抗测试系统较佳实施例的硬件架构图。
图2是图1中所示特性阻抗测试系统的功能模块图。
图3是本发明特性阻抗测试方法较佳实施例的流程图。
具体实施方式
如图1所示,是本发明特性阻抗测试系统较佳实施例的系统架构图,该特性阻抗测试20系统运行于测试电脑2中。其中,所述测试电脑2通过交换机4与控制电脑1和时域反射仪3相连,所述控制电脑1与机械手臂5相连。所述机械手臂5上安装有探针抓取装置50,该探针抓取装置50用于抓取时域反射仪3的探针。所述印刷电路板6放置于测试机台7上,在其它实施例中,所述印刷电路板6也可以用其它电子设备替代。
当测试开始后,特性阻抗测试系统20向控制电脑1发出探针定位指令,所述控制电脑1根据该探针定位指令控制机械手臂5的探针抓取装置50将时域反射仪3的探针定位到印刷电路板6上的待测零件。然后,时域反射仪3将测试到的数据通过交换机4返回至测试电脑2。测试电脑2中的特性阻抗测试系统20对该测试数据进行分析处理。
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