[发明专利]半导体集成电路、调试/跟踪电路、以及半导体集成电路操作观测方法有效
| 申请号： | 200880004634.7 | 申请日： | 2008-01-25 |
| 公开（公告）号： | CN101606132A | 公开（公告）日： | 2009-12-16 |
| 发明（设计）人： | 铃木纪章;鸟居淳 | 申请（专利权）人： | 日本电气株式会社 |
| 主分类号： | G06F11/34 | 分类号： | G06F11/34;G06F11/30 |
| 代理公司： | 中科专利商标代理有限责任公司 | 代理人： | 王波波 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 主功能结构执行连续的预定操作，以连续地产生与所述操作相关联的事件。调试/跟踪电路将主功能结构处发生的事件与控制信息列表中的一个条目的检测条件指示信息相比较，并且根据比较结果来执行由与检测条件指示信息配对的操作指示信息所指定的操作。调试/跟踪电路根据控制信息列表连续地执行该操作，以识别事件。 | ||
| 搜索关键词： | 半导体 集成电路 调试 跟踪 电路 以及 操作 观测 方法 | ||
【主权项】：
1、一种具有调试功能的半导体集成电路，包括：主功能结构，执行连续的预定操作，以连续地产生与所述操作相关联的事件；以及调试/跟踪电路，预先存储了控制信息列表，所述控制信息列表顺序地包括多个条目，以使得基于一系列事件来识别需要观测的事件，其中每个条目包括检测条件指示信息和操作指示信息组成的集合，所述检测条件指示信息用于检测目标事件的产生，所述操作指示信息用于根据所述检测条件指示信息与在所述主功能结构处发生的事件之间的比较结果来指定操作；以及所述调试/跟踪电路根据所述控制信息列表连续地执行以下操作：将所述主功能结构处发生的事件与所述控制信息列表中一个条目的检测条件指示信息相比较、以及根据所述比较的结果来执行由与所述检测条件指示信息配对的所述操作指示信息所指定的操作，以识别所述事件。
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