[发明专利]半导体集成电路、调试/跟踪电路、以及半导体集成电路操作观测方法

权利要求书

1.一种具有调试功能的半导体集成电路，包括：

主功能结构，执行连续的预定操作，以连续地产生与所述操作相 关联的事件；以及

调试/跟踪电路，所述调试/跟踪电路包括：

控制信息列表保持器，预先存储了控制信息列表，所述控制信息 列表顺序地包括多个条目，以使得基于一系列事件来识别需要观测的 事件，其中每个条目包括检测条件指示信息和操作指示信息组成的集 合，所述检测条件指示信息用于检测目标事件的产生，所述操作指示 信息用于根据所述检测条件指示信息与在所述主功能结构处发生的事 件之间的比较结果来指定操作；

事件检测器，根据所述控制信息列表连续地执行以下操作：将所 述主功能结构处发生的事件与所述控制信息列表中读出位置处的一个 条目的检测条件指示信息相比较；以及

控制器，根据来自所述事件检测器的所述比较的结果，来执行由 与所述检测条件指示信息配对的所述操作指示信息所指定的操作，以 及改变所述控制信息列表的读出位置，以识别所述事件。

2.根据权利要求1所述的半导体集成电路，其中，所述操作指示 信息包括：输出指示信息，规定是否输出事件数据；以及控制指示信 息，规定所述调试/跟踪电路的内部操作。

3.根据权利要求1所述的半导体集成电路，其中，所述操作指示 信息包括：命中控制指示信息，在发生了满足所述检测条件指示信息 的事件时选择操作；以及未命中操作指示信息，在发生了不满足所述 检测条件指示信息的事件时选择操作。

4.根据权利要求1所述的半导体集成电路，其中，

所述主功能结构包括操作单元，

所述操作指示信息包括：操作单元控制指示信息，选择所述操作 单元并指示该操作单元的操作，以及

所述调试/跟踪电路根据所述操作单元控制指示信息向所述操作 单元发送控制信号。

5.根据权利要求1所述的半导体集成电路，其中，

所述操作指示信息包括：性能测量控制指示信息，指示与测量有 关的操作的控制，以及

所述调试/跟踪电路根据所述性能测量控制信息来控制与测量有 关的操作。

6.一种内置于半导体集成电路中的调试/跟踪电路，所述半导体 集成电路包括执行连续预定操作以连续产生与所述操作相关联的事件 的主功能结构，所述调试/跟踪电路包括：

控制信息列表保持器，预先存储了控制信息列表，所述控制信息 列表顺序地包括多个条目，以使得基于一系列事件来识别需要观测的 事件，其中每个条目包括检测条件指示信息和操作指示信息组成的集 合，所述检测条件指示信息用于检测目标事件的产生，所述操作指示 信息用于根据所述检测条件指示信息与在所述主功能结构处发生的事 件之间的比较结果来指定操作；

事件检测器，根据所述控制信息列表连续地执行以下操作：将所 述主功能结构处发生的事件与所述控制信息列表中读出位置处的一个 条目的检测条件指示信息相比较；以及

控制器，根据来自所述事件检测器的所述比较的结果，来执行由 与所述检测条件指示信息配对的所述操作指示信息所指定的操作，以 及改变所述控制信息列表的读出位置，来识别所述事件。

7.根据权利要求6所述的调试/跟踪电路，其中，所述操作指示信 息包括：输出指示信息，规定是否输出事件数据；以及控制指示信息， 规定所述调试/跟踪电路的内部操作。

8.根据权利要求6所述的调试/跟踪电路，其中，所述操作指示信 息包括：命中控制指示信息，在发生了满足所述检测条件指示信息的 事件时选择操作；以及未命中操作指示信息，在发生了不满足所述检 测条件指示信息的事件时选择操作。