[发明专利]半导体集成电路、调试/跟踪电路、以及半导体集成电路操作观测方法

说明书

技术领域

本发明涉及半导体集成电路中的操作跟踪。

背景技术

随着最近内置器件的复杂度的不断提高，已要求建立一种用于在 开发阶段执行高效调试的技术。对于调试大多数内置器件，已使用了 使用在线仿真器设置断点的方法、执行步骤的方法、以及其他方法。 然而，在许多情况下，在需要系统具有实时特性时，由于不可能使操 作定时与周围电路的定时相适应导致无法使用这些方法。

在这样的环境下，通过跟踪器件内部的操作来观测状态改变和行 为的重要性提高了。

另一方面，为了降低内置器件的制造成本，通常存在以下情况： 关于内部存储器容量和CPU性能，这些器件没有太多的余量。因此， 以服务器和个人计算机为代表的一般计算机设备所使用的通过软件处 理来存储操作日志的方法，无法令人满意地由内置器件使用。此外， 在内置器件中，通常使用定制系统LSI，使得对不能通过软件处理来独 自观测的总线行为、外围电路行为等进行观测通常是重要的。

为此，通常提供了一种通过监控终端来提取用于检验系统LSI的 操作状态的信号的技术，这是一种有效的方法，该方法通过使用监控 终端来将操作状态的改变存储为跟踪数据并对该数据进行分析。在日 本专利申请特开2002-24201(下文中将被称作“文献1”)中公开了使用 这种方法的技术。

图1是示出了文献1中所描述的系统LSI的内部配置的框图。图1中 的系统LSI包括：MPU核(控制电路)91；内置RAM(随机存取存储 器、存储电路)92，用于存储操作MPU核91的程序；外围电路93，用 于与MPU核91之间执行信号的发送和接收。系统LSI还与系统LSI外围 设备5连接，使得在两者之间发送和接收信号。除了用于操作MPU核 91的程序以外，内置RAM 92还并入了调试支持功能程序。

此外，在MPU核91内部提供并入了信号选择电路931的调试支持 电路914。外围电路93并入了信号选择电路932。此外，还提供了用于 选择最终监控信号的信号选择电路933。由监控信号控制电路4来控制 信号选择电路931至933中的每一个的选择操作。

文献1中的系统LSI包括：信号选择电路931，用于选择MPU核91 中的任一内部信号；信号选择电路932，用于选择外围电路93中的任一 内部信号；以及信号选择电路933，用于选择来自这两个信号选择电路 931和932的输出中的任一个，并且系统LSI可以根据需要任意切换信号 选择电路931至933中的每一个的选择操作。因此，可能实时地对系统 LSI的内部操作进行详细分析。此外，即使监控终端是有限的，也可能 容易地切换和输出多个监控信号。

发明内容

然而，文献1所公开的跟踪系统有一些问题。

文献1所公开的跟踪系统工作的前提是：向LSI的外部输出跟踪数 据，使得每单位时间的可观测的跟踪数据量受到至外部的通信线路的 速度、内置缓冲器容量等的限制。因此，会出现以下情况：在内部操 作速度高的系统等中不能检查期望的操作。

此外，由于在文献1所公开的跟踪系统中，要观测的信号局限于 那些所选的信号，使得降低了跟踪数据量，所以基于要观测的所有信 号的行为在特定条件下做出判定是不可能的。

本发明的一个目的是提供一种途径，使得在对要观测的任意信号 进行观测的同时能够观测期望的操作，而不受所连接的通信线路和内 置缓冲器容量的限制。

为了实现上述目的，根据本发明一个实施例模式的半导体集成电 路是一种具有调试功能的半导体集成电路，包括：

主功能结构，执行连续的预定操作，以连续地产生与所述操作相 关联的事件；以及

调试/跟踪电路，预先存储了控制信息列表，所述控制信息列表顺 序地包括多个条目，以使得基于一系列事件来识别需要进行观测的事 件，其中每个条目包括检测条件指示信息和操作指示信息组成的集合， 所述检测条件指示信息用于检测目标事件的产生，所述操作指示信息 用于根据对所述检测条件指示信息与在所述主功能结构处发生的事件 之间的比较结果来指定操作，以及所述调试/跟踪电路根据所述控制信 息列表连续地执行以下操作：将所述主功能结构处发生的事件与所述 控制信息列表中一个条目的检测条件指示信息相比较，以及根据所述 比较的结果来执行由与所述检测条件指示信息配对的所述操作指示信 息所指定的操作，以识别所述事件。