[发明专利]半导体封装件及其制造方法和密封树脂无效

专利信息
申请号: 200780036695.7 申请日: 2007-08-09
公开(公告)号: CN101523588A 公开(公告)日: 2009-09-02
发明(设计)人: 伊藤哲平;和田雅浩;广濑浩 申请(专利权)人: 住友电木株式会社
主分类号: H01L21/60 分类号: H01L21/60;C08L63/00;H01L21/56;H01L23/29;H01L23/31
代理公司: 隆天国际知识产权代理有限公司 代理人: 吴小瑛;刘春生
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明提供了通过抑制裂缝而具有高可靠性的倒装芯片半导体封装件及其制造方法裂缝。在倒装芯片半导体封装件中,使电路板1的半导体芯片连接用电极表面与半导体芯片2的电极表面倒装芯片连接,在电路板1和半导体芯片2之间注入密封树脂4,通过在半导体芯片的边缘部分提供密封树脂4形成圆角部分4b,圆角部分4b具有从半导体芯片边缘部分2a的上缘朝电路板向外延伸出来的斜面,其中在邻近半导体芯片边缘部分2a的上缘处,斜面与半导体芯片2的边缘部分之间形成的倾斜角为50度或更小。
搜索关键词: 半导体 封装 及其 制造 方法 密封 树脂
【主权项】:
1. 倒装芯片半导体封装件,其通过以下工序制得:使电路板的半导体芯片连接用电极表面与半导体芯片的电极表面倒装芯片连接,在电路板和半导体芯片之间注入密封树脂,通过在所述半导体芯片的边缘部分提供密封树脂而形成圆角部分,所述圆角部分具有从半导体芯片边缘部分的上缘向外朝电路板延伸得到的斜面,其中在邻近半导体芯片边缘部分的上缘处,斜面与半导体芯片的边缘部分之间形成的倾斜角为50度或更小。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于住友电木株式会社,未经住友电木株式会社许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/200780036695.7/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top