[发明专利]双栅极多位元半导体记忆阵列有效

专利信息
申请号: 200710005001.5 申请日: 2007-02-09
公开(公告)号: CN101026168A 公开(公告)日: 2007-08-29
发明(设计)人: 何家骅;吕函庭 申请(专利权)人: 旺宏电子股份有限公司
主分类号: H01L27/115 分类号: H01L27/115;H01L23/522;H01L29/792;H01L29/423;H01L21/8247;H01L21/768;H01L21/336;H01L21/28;G11C16/02
代理公司: 北京中原华和知识产权代理有限责任公司 代理人: 寿宁;张华辉
地址: 中国台湾新竹*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要: 一种记忆单元阵列,包括一半导体基板、多个记忆单元、多条栅极控制线以及至少一条字元线。其中记忆单元包括一源极区、一漏极区、一第一栅极以及一第二栅极,且上述的记忆单元以多条行以及至少一条列配置于半导体基板上。而多条栅极控制线,对应于上述记忆单元所构成的数行中的一行,且与对应行中的记忆单元的第一栅极连接。字元线,则对应于上述记忆单元所构成之列,且与对应列中的记忆单元的第二栅极连接。
搜索关键词: 栅极 位元 半导体 记忆 阵列
【主权项】:
1.一种记忆单元阵列,其特征在于其包括:一半导体基板;多个记忆单元配置于该半导体基板上的行与列之间;各上述记忆单元包括一源极区、一漏极区、一第一栅极以及一第二栅极;多条栅极控制线,各栅极控制线对应于上述记忆单元所构成的该行之一,且连接该对应行中的该记忆单元的该第一栅极;以及至少一条字元线,各字元线对应于上述记忆单元所构成的该列之一,且连接该对应列中的该记忆单元的该第二栅极。
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