[实用新型]晶圆表面淀积层生长装置无效
申请号: | 200620047810.3 | 申请日: | 2006-11-15 |
公开(公告)号: | CN201016122Y | 公开(公告)日: | 2008-02-06 |
发明(设计)人: | 代洪刚;冯春暖 | 申请(专利权)人: | 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司 |
主分类号: | C23C16/00 | 分类号: | C23C16/00;H01L21/02;H01L21/67 |
代理公司: | 上海智信专利代理有限公司 | 代理人: | 王洁 |
地址: | 2012*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本实用新型公开一种晶圆表面淀积层生长装置,其是一种晶圆制程装置,包括气体分离器,设置在气体分离器下方的加热带,射频(RF)带,底座及设置在底座上的固定块;晶圆放置在加热带上,气体分离器用于产生在晶圆表面生成淀积层所需的气体,射频带连接在固定块与加热带之间,该装置还包括设置在射频带外部的防护罩,其是一个封闭腔体,可以完全封闭射频带。与现有技术相比,本实用新型的防护罩可以完全封闭射频带,从而防止气体分离器产生的气体腐蚀射频带,增加射频带的寿命,不用频繁检查射频带,从而有效提高了生产效率并降低了制造成本。 | ||
搜索关键词: | 表面 淀积层 生长 装置 | ||
【主权项】:
1.一种晶圆表面淀积层生长装置,包括用于产生在晶圆表面生成淀积层所需气体的气体分离器,设置在气体分离器下方的加热带,射频带,底座及设置在底座上的固定块;晶圆放置在加热带上,射频带连接在固定块与加热带之间,其特征在于,该装置还包括设置在射频带外部的防护罩,其是一个封闭腔体,可以完全封闭射频带。
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C23 对金属材料的镀覆;用金属材料对材料的镀覆;表面化学处理;金属材料的扩散处理;真空蒸发法、溅射法、离子注入法或化学气相沉积法的一般镀覆;金属材料腐蚀或积垢的一般抑制
C23C 对金属材料的镀覆;用金属材料对材料的镀覆;表面扩散法,化学转化或置换法的金属材料表面处理;真空蒸发法、溅射法、离子注入法或化学气相沉积法的一般镀覆
C23C16-00 通过气态化合物分解且表面材料的反应产物不留存于镀层中的化学镀覆,例如化学气相沉积
C23C16-01 .在临时基体上,例如在随后通过浸蚀除去的基体上
C23C16-02 .待镀材料的预处理
C23C16-04 .局部表面上的镀覆,例如使用掩蔽物的
C23C16-06 .以金属材料的沉积为特征的
C23C16-22 .以沉积金属材料以外之无机材料为特征的
C23C 对金属材料的镀覆;用金属材料对材料的镀覆;表面扩散法,化学转化或置换法的金属材料表面处理;真空蒸发法、溅射法、离子注入法或化学气相沉积法的一般镀覆
C23C16-00 通过气态化合物分解且表面材料的反应产物不留存于镀层中的化学镀覆,例如化学气相沉积
C23C16-01 .在临时基体上,例如在随后通过浸蚀除去的基体上
C23C16-02 .待镀材料的预处理
C23C16-04 .局部表面上的镀覆,例如使用掩蔽物的
C23C16-06 .以金属材料的沉积为特征的
C23C16-22 .以沉积金属材料以外之无机材料为特征的