[实用新型]应变半导体覆绝缘层型基底无效

专利信息
申请号: 200420049975.5 申请日: 2004-05-17
公开(公告)号: CN2720639Y 公开(公告)日: 2005-08-24
发明(设计)人: 杨育佳;李文钦 申请(专利权)人: 台湾积体电路制造股份有限公司
主分类号: H01L27/12 分类号: H01L27/12;H01L21/84;H01L21/02
代理公司: 北京三友知识产权代理有限公司 代理人: 王一斌
地址: 台湾省新竹*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要: 实用新型提出一种应变半导体覆绝缘层型基底的结构。首先提供一标的晶片和一施体晶片,施体晶片包括一主体半导体基底和位于其上的一应变半导体层,其中主体半导体基底的晶格常数不同于半导体层的自然晶格常数。接着将施体晶片黏着标的晶片的表面后,将应变半导体层自施体晶片分离,使应变硅层黏结至标的晶片。
搜索关键词: 应变 半导体 绝缘 基底
【主权项】:
1.一种应变半导体覆绝缘层型基底,其特征在于包含:一主体半导体基底,其具有一不同于硅的晶格常数;一施体晶片,其具有一应变硅层在该主体半导体基底上,且该施体晶片具有一上表面;一标的晶片,其包含有一基底以及位于该基底上的一绝缘层,该绝缘层包含一高应力层,且该标的晶片具有一上表面;以及该施体晶片上表面位于该标的晶片上表面之上,且两者的上表面相互键结。
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