[发明专利]半导体装置及半导体装置的制作方法有效

专利信息
申请号: 200380102145.2 申请日: 2003-10-23
公开(公告)号: CN1708852A 公开(公告)日: 2005-12-14
发明(设计)人: 高山彻;丸山纯矢;大野由美子;村上雅一;浜谷敏次;桑原秀明;山崎舜平 申请(专利权)人: 株式会社半导体能源研究所
主分类号: H01L27/12 分类号: H01L27/12;H01L21/336;H01L29/786
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 代理人: 杨凯;叶恺东
地址: 日本神奈*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 发明的课题是提供在各种各样的基体材料粘贴被剥离层的轻量的半导体装置及其制作方法。本发明在衬底上形成被剥离层,在该被剥离层上用粘接材料粘贴设有刻蚀阻止膜的密封衬底,然后,仅刻蚀或研磨去除密封衬底。残留的刻蚀阻止膜直接作为阻挡膜。另外,粘接材料也可采用粘接磁片。
搜索关键词: 半导体 装置 制作方法
【主权项】:
1.一种半导体装置,其特征在于,以强磁性材料组成的片作为支持体,包括与上述强磁性材料组成的片连接的粘接材料和该粘接材料连接的绝缘膜上的元件。
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