[发明专利]半导体设备有效

专利信息
申请号: 03156853.X 申请日: 2003-09-10
公开(公告)号: CN1494147A 公开(公告)日: 2004-05-05
发明(设计)人: 石川泰久;渡边敦;寺田幸弘;池内亮;大谷扩 申请(专利权)人: 三美电机株式会社
主分类号: H01L23/60 分类号: H01L23/60;H01L27/04;H01L29/78
代理公司: 北京银龙专利代理有限公司 代理人: 张敬强
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 发明提供一种半导体设备,包括一衬底、形成于衬底上一阱区,形成于阱区上一场效应晶体管、以及一扩散区。该扩散区穿过了阱区和衬底以将背栅电位提供给阱区,并且该扩散区与其外围一起形成了一PN结。场效应晶体管和PN结连接在终端之间以吸收过载电流,这样保护了与终端相连的内电路。
搜索关键词: 半导体设备
【主权项】:
1.一种半导体设备,该设备包括:一衬底;一阱区,形成于衬底上;一场效应晶体管,形成于阱区上;一扩散区,该扩散区穿过了阱区和衬底以将背栅电位提供给阱区,并且该扩散区与其外围一起形成了一PN结,其中场效应晶体管和PN结在终端之间连接以吸收过载电流,这样保护了与终端相连的内电路。
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