[发明专利]ZnTe系化合物半导体单晶的制造方法和ZnTe系化合物半导体单晶及半导体器件无效
申请号: | 02807865.9 | 申请日: | 2002-03-20 |
公开(公告)号: | CN1500160A | 公开(公告)日: | 2004-05-26 |
发明(设计)人: | 山本哲也;荒川笃俊;佐藤贤次;朝日聪明 | 申请(专利权)人: | 株式会社日矿材料 |
主分类号: | C30B29/48 | 分类号: | C30B29/48 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人: | 钟守期;庞立志 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明是关于制造载流子浓度高、而且低电阻的n型ZnTe系化合物半导体单晶的方法和ZnTe系化合物半导体单晶、以及使用该ZnTe系化合物半导体作为基体而制造的半导体器件。具体地说,其特征是,将ZnTe系化合物半导体的导电型控制成第1导电型的第1掺杂剂和将导电型控制成与上述第1导电型不同的第2导电型的第2掺杂剂,以上述第2掺杂剂的原子个数比上述第1掺杂剂的原子个数少地被同时掺杂。按照本发明,在以比以往少的掺杂量就能够达到所希望的载流子浓度同时,能够提高所得到的晶体中的结晶性。 | ||
搜索关键词: | znte 化合物 半导体 制造 方法 半导体器件 | ||
【主权项】:
1.ZnTe系化合物半导体单晶的制造方法,其特征在于,在使ZnTe系化合物半导体单晶在基片上进行外延生长时,将ZnTe系化合物半导体的导电型控制成第1导电型的第1掺杂剂和将导电型控制成与所述第1导电型不同的第2导电型的第2掺杂剂,以所述第2掺杂剂的原子个数比所述第1掺杂剂的原子个数少地被同时掺杂在ZnTe系化合物半导体单晶中。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于株式会社日矿材料,未经株式会社日矿材料许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/02807865.9/,转载请声明来源钻瓜专利网。