[发明专利]半导体集成电路器件有效

专利信息
申请号: 01815004.7 申请日: 2001-12-17
公开(公告)号: CN1449581A 公开(公告)日: 2003-10-15
发明(设计)人: 篠崎雅雄;西本賢二;秋岡隆志;小原豊;衫田早苗;宫田修作;中里伸二 申请(专利权)人: 株式会社日立制作所;日立超大规模集成电路系统株式会社
主分类号: H01L23/12 分类号: H01L23/12;H01L21/768
代理公司: 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 代理人: 王永刚
地址: 暂无信息 国省代码: 暂无信息
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摘要: 在半导体衬底某一主表面上给出构成电路的电路元件和布线,以及与该电路电相连的第一电极。在电路上除了第一电极表面上的开口的地方形成有机绝缘膜。在有机绝缘膜上给出第一和第二外部连接电极。在有机绝缘膜上安置至少一层用以电连接第一、第二外部连接电极和第一电极的导电层。
搜索关键词: 半导体 集成电路 器件
【主权项】:
1.半导体集成电路器件,包括:半导体衬底;电路元件和布线,在半导体衬底某一主表面上给出,构成电路;第一电极,在这一主表面上给出并与电路电相连;有机绝缘膜,在电路上除了第一电极表面上的开口以外的地方给出;第一和第二外部连接电极,在有机绝缘膜上给出;以及导电层,用以将第一、第二外部连接电极与第一电极电连接,其中导电层置于有机绝缘膜上。
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