专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]存储装置-CN202210911539.7在审
  • 福田夏树;井口直 - 铠侠股份有限公司
  • 2022-07-28 - 2023-10-10 - H01L23/538
  • 实施方式提供具有更小的面积的存储装置。在实施方式的存储装置中,多个第1导电体相互分离而沿着第1轴排列。存储柱沿着第1轴延伸,与多个第1导电体相对向,包括半导体和将半导体包围的膜。多个接触插塞沿着第1轴延伸,各自包括第2导电体和将第2导电体包围的第1绝缘体。第1绝缘体位于多个第1导电体与第2导电体之间。多个接触插塞各自在下表面与多个第1导电体中的不重复的一个第1导电体的上表面相接。多个接触插塞包括第1接触插塞~第3接触插塞。第1接触插塞和第2接触插塞沿着与第1轴相交的第2轴而相邻地配置。第3接触插塞在第2轴上位于第1接触插塞与第2接触插塞之间,在与第1轴以及第2轴正交的第3轴上配置在不同的位置。
  • 存储装置
  • [发明专利]半导体存储装置及其制造方法-CN201910090397.0有效
  • 大贺淳;原川秀明;永岛贤史;福田夏树 - 铠侠股份有限公司
  • 2019-01-30 - 2023-07-18 - H10B41/27
  • 实施方式涉及半导体存储装置及其制造方法。实施方式的半导体存储装置包括:第1层叠体,包括第1半导体层、第1存储膜、多个第1布线层、第2半导体层、第2存储膜以及多个第2布线层;接合部件,设置于第1半导体层以及第2半导体层上;第1层,配置在接合部件的上方,覆盖第1半导体层以及第1存储膜;第2层,配置在接合部件的上方,覆盖第2半导体层以及第2存储膜;以及第2层叠体。第2层叠体包括第3半导体层、第3存储膜、多个第3布线层、第4半导体层、第4存储膜以及多个第4布线层。第5半导体层设置于第1层与第2层之间,将第3半导体层与第4半导体层电连接并且电连接于接合部件。
  • 半导体存储装置及其制造方法
  • [发明专利]半导体存储装置-CN202210232396.7在审
  • 井口直;福田夏树 - 铠侠股份有限公司
  • 2022-03-07 - 2023-04-04 - H10B41/30
  • 实施方式提供容易高集成化的半导体存储装置。实施方式的半导体存储装置具备:基板,具备在第1方向上排列的存储区域及接合区域;及多个存储构造,在与第1方向交叉的第2方向上排列。多个存储构造具备:多个导电层,在与基板的表面交叉的第3方向上排列,跨存储区域及接合区域地在第1方向上延伸;及多个接触电极,设置于接合区域,在第3方向上延伸,具备由多个导电层的一部分包围的外周面,分别连接于多个导电层中的任一者。接合区域具备在第1方向上排列的第1区域和第2区域。第1区域包括第1接触电极及第2接触电极,第2区域包括第3接触电极。第3接触电极的第3方向的长度比第1接触电极的第3方向的长度长且比第2接触电极的第3方向的长度短。
  • 半导体存储装置
  • [发明专利]半导体存储装置-CN202210229394.2在审
  • 福田夏树;井口直 - 铠侠股份有限公司
  • 2022-03-09 - 2023-03-28 - H10B41/30
  • 实施方式提供一种能够良好地制造的半导体存储装置。实施方式的半导体存储装置具备:衬底,具备第1区域及第2区域;多个第1导电层,排列在与衬底表面交叉的方向;第1半导体层,设置在第1区域,与多个第1导电层相对向;电荷储存层,设置在多个第1导电层与第1半导体层之间;接触电极,设置在第2区域,连接于多个第1导电层中的一个;以及多个第1构造及多个第2构造,设置在第2区域,外周面被多个第1导电层包围。第1构造包括:第2半导体层,与多个第1导电层相对向,包含与第1半导体层共通的半导体材料;及第1绝缘层,设置在多个第1导电层与第2半导体层之间,包含与电荷储存层共通的绝缘材料。第2构造不包含所述半导体材料及所述绝缘材料。
  • 半导体存储装置
  • [发明专利]半导体存储装置-CN202110649704.1在审
  • 福田夏树;井口直 - 铠侠股份有限公司
  • 2021-06-10 - 2022-09-06 - H01L27/11548
  • 实施方式提供一种容易高集成化的半导体存储装置。实施方式的半导体存储装置具备:基板;在第1方向上排列并在第2方向上延伸的多个导电层;在第1方向上延伸并与多个导电层相对的半导体层;在第3方向上排列的n个接触电极区域。n是2的幂。接触电极区域具有在第2方向上排列的多个接触电极。多个导电层包括第1导电层和第2导电层,所述第2导电层是从第1导电层开始数的第n个导电层。多个接触电极包括与第1导电层连接的第1接触电极、与第2导电层连接的第2接触电极、以及设置在第1接触电极和第2接触电极之间的第3接触电极。第1接触电极、第2接触电极以及第3接触电极在第2方向或第3方向上排列。
  • 半导体存储装置
  • [发明专利]半导体存储装置-CN202010817821.X在审
  • 大贺淳;福田夏树;矢吹宗 - 铠侠股份有限公司
  • 2020-08-14 - 2021-09-14 - H01L25/18
  • 本发明的实施方式提供一种得当地动作的半导体存储装置。实施方式的半导体存储装置具备第1芯片及第2芯片。第1芯片具备半导体衬底、及设置在半导体衬底的表面的多个晶体管。第2芯片具备多个第1导电层、多个第1半导体层、以及设置在多个第1导电层与多个第1半导体层的交叉部的多个存储单元。另外,第2芯片具备:第2半导体层,比多个第1导电层离半导体衬底远,且相接在多个第1半导体层;第3半导体层,比第2半导体层离半导体衬底远,且相接在第2半导体层;及第1绝缘层,包含比第3半导体层离半导体衬底远的部分、及相接在第2半导体层的部分。
  • 半导体存储装置
  • [发明专利]半导体存储装置-CN201910679391.7在审
  • 福田夏树;永嶋贤史;诸冈哲;石原典隆 - 东芝存储器株式会社
  • 2019-07-22 - 2020-09-15 - H01L27/11529
  • 实施方式提供一种能够谋求电特性的提高的半导体存储装置。实施方式的半导体存储装置具有衬底、第1配线、第2配线、第1通道部、第2通道部、第1电荷蓄积部、第2电荷蓄积部、第1选择晶体管、第2选择晶体管、及中空部。所述第1电荷蓄积部设置于与所述衬底的表面隔开第1距离的第1位置,且设置于所述第1配线与所述第1通道部之间。所述第1选择晶体管设置于与所述衬底的表面隔开比所述第1距离大的第2距离的第2位置。所述中空部设置于所述第1通道部与所述第2通道部之间。
  • 半导体存储装置
  • [发明专利]可变电阻元件及其制造方法-CN201280028327.9有效
  • 西冈浩;堀田和正;福田夏树;菊地真;邹弘纲 - 株式会社爱发科
  • 2012-06-07 - 2014-02-19 - H01L27/105
  • 本发明提供一种不需进行成型处理,就能够降低元件的电力消耗及实现精细化的可变电阻元件及其制造方法。本发明的一个实施方式中,可变电阻元件(1)具有下部电极层(3)、上部电极层(5)及氧化物半导体层(4)。氧化物半导体层(4)形成在下部电极层(3)和上部电极层(5)之间。氧化物半导体层(4)具有第1金属氧化物层(41)和第2金属氧化物层(42)。第1金属氧化层(41)与下部电极层(3)欧姆接合。第2金属氧化物层(42)形成在第1金属氧化层(41)和上部电极层(5)之间,并与上部电极层(5)欧姆接合。
  • 可变电阻元件及其制造方法

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