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[发明专利]物体捕捉装置-CN202310458972.4在审
发明人：森利宏;山本明人;前田昌之;笠原隆弘 -专利权人：北阳电机株式会社
申请日： 2018-02-08 - 公布日： 2023-07-25 - 主分类号： G01S7/48 文献下载
摘要：提供一种即使是处于附近的物体也能够准确地进行检测的物体捕捉装置。该物体捕捉装置对存在于测定对象空间的物体进行捕捉，其中，所述物体捕捉装置具备：发光部；受光部；以及光扫描部，其使从所述发光部出射的规定波长的测定光朝向测定对象空间扫描，并将针对所述测定光的来自测定对象空间的物体的反射光向所述受光部引导，所述光扫描部具备光引导部，所述光引导部对将通过偏转镜而偏转了的测定光向测定对象空间引导的光路与将所述反射光向所述受光部引导的光路进行划分，在所述光引导部的测定光光路侧配置有将所述反射光向所述受光部引导的半透镜。
物体捕捉装置

[发明专利]物体捕捉装置、捕捉对象物及物体捕捉系统-CN201880012152.X有效
发明人：森利宏;山本明人;前田昌之;笠原隆弘 -专利权人：北阳电机株式会社
申请日： 2018-02-08 - 公布日： 2023-07-04 - 主分类号： G01S17/931 文献下载
摘要：一种物体捕捉装置，其能够判别物体是否为捕捉对象物，该物体捕捉装置具备：发光部；受光部；光扫描部，其使从发光部出射的测定光朝向测定对象空间扫描，并将针对测定光的来自物体的反射光向受光部引导；距离运算部，其基于反射光相对于测定光的相位差或延迟时间，将距物体的距离与光扫描部的扫描角度建立对应关系地算出；以及物体判别部，其基于由距离运算部算出的相邻的扫描角度下的各距离的差量成为规定的阈值以下的扫描角度范围是否与代表各距离的基准距离所对应的捕捉对象物的基准扫描角度范围相对应、以及该扫描角度范围内的反射光的强度分布是否与来自所述捕捉对象物的反射光的基准强度分布相对应，来判别物体是否为所述捕捉对象物。
物体捕捉装置对象系统

[发明专利]物体捕捉装置-CN201880012165.7有效
发明人：森利宏;山本明人;前田昌之;笠原隆弘 -专利权人：北阳电机株式会社
申请日： 2018-02-08 - 公布日： 2023-06-23 - 主分类号： G01S7/499 文献下载
摘要：一种对存在于测定对象空间的物体进行捕捉的物体捕捉装置，其中，该物体捕捉装置具备：发光部；受光部；光扫描部，其使从发光部出射的规定波长的测定光朝向测定对象空间扫描，并将针对测定光的来自测定对象空间的物体的反射光向所述受光部引导；以及偏振滤波器，其具备配置于光扫描部且仅使测定光中的沿着第一方向振动的光透过的偏振片和仅使反射光中的沿着与第一方向正交的第二方向振动的光透过的检偏振器。
物体捕捉装置

[发明专利]移动架装置-CN201980084366.2有效
发明人：高川夏生;平塚胜也;坂本大树;青木健;山本明人;笠原隆弘 -专利权人：株式会社大福
申请日： 2019-12-06 - 公布日： 2023-05-09 - 主分类号： B65G1/10 文献下载
摘要：在具备能够相对移动的多个架的移动架装置处总是适当地检测在形成于架与架之间的架间通路存在的障碍物。移动架装置(10)在沿着水平面的第1方向(M)上具备相向的第1架和第2架，并且第1架和第2架被设置成在第1方向(M)上能够相对移动，在第1架和第2架离开的状态下在第1架和第2架之间形成架间通路(E)，具备障碍物传感器和距离传感器，前述障碍物传感器在形成架间通路(E)的状态下检测在架间通路(E)存在的障碍物(B)，前述距离传感器检测第1架和第2架在第1方向M上相向的距离即架间距离(D)，障碍物传感器和距离传感器由通过传送光而接收来自对象物的反射光来检测对象物的单一主动传感器(5)构成，障碍物传感器的检测范围(S)被与架间距离(D)对应地动态地可变设定。
移动装置

[发明专利]光电传感器以及光测距装置-CN202180056997.0在审
发明人： 山本明人;笠原隆弘;有马谕;百鸟达裕 -专利权人：北阳电机株式会社
申请日： 2021-08-18 - 公布日： 2023-04-28 - 主分类号： G01C3/06 文献下载
摘要：提供不使用多个跨阻放大器能在宽的动态范围内合适地检测光的廉价的光电传感器。具备：投光部，其输出测定光；受光部，其将测定光碰到物体而漫反射的反射光变换成电流信号；前置放大器，其将在受光部变换的电流信号变换成电压信号；第1信号处理系统，其具备将前置放大器的输出信号以第1放大率A1进行放大的第1放大器和将第1放大器的输出信号以第1阈值Vth1进行二值化的第1二值化电路；和第2信号处理系统，其具备将前置放大器的输出信号以第2放大率A2进行放大的第2放大器和将第2放大器的输出信号以第2阈值Vth2进行二值化的第2二值化电路，第1阈值和第2阈值、以及第1放大率和第2放大率设定成满足以下的关系式1＜(Vth2/Vth1)＜α＝(A2/A1)。
光电传感器以及测距装置

[发明专利]磁存储器-CN202111623227.8在审
发明人：下村尚治;梅津信之;近藤刚;上田善宽;大寺泰章;山本明人;冈岛睦;门昌辉;中西务;M·A·坎萨 -专利权人：铠侠股份有限公司
申请日： 2021-12-28 - 公布日： 2023-03-07 - 主分类号： G11C11/16 文献下载
摘要：本发明提供磁存储器，具备：电极，沿包含第1方向及与第1方向交叉的第2方向的平面延伸；第1布线，沿第1方向延伸；多个第2布线，配置于电极与第1布线之间，沿第2方向延伸且沿第1方向排列；多个第1磁性部件，与第1布线对应设置，各自具备电连接于第1布线的第1部分和电连接于电极的第2部分，沿与第1方向及第2方向交叉的第3方向从第1部分向第2部分延伸，从第3方向观察时，与多个第2布线中相邻的2个之间对应地分别存在一个第1磁性部件；及控制电路，电连接于电极、第1布线及多个第2布线，在向多个第1磁性部件中的一个写入第1信息时向位于一个第1磁性部件的第1方向的一侧的多个第2布线中的至少2根分别供给第1电流。
磁存储器

[发明专利]物体检测系统、输送台车以及物体检测装置-CN202080021577.4在审
发明人：高川夏生;山本明人;笠原隆弘 -专利权人：北阳电机株式会社;株式会社大福
申请日： 2020-01-29 - 公布日： 2021-11-02 - 主分类号： G05D1/02 文献下载
摘要：一种物体检测装置，具备：扫描光学系统，其在空间扫描从发光元件输出的测定光，并且将相对于测定光的来自物体的反射光引导到受光元件；距离运算电路，其基于测定光与反射光的物理的关系，计算到物体为止的距离以及方向；物体判定电路，其判定由距离运算电路计算出的到物体为止的距离以及方向是否在给定的监视区域的内侧；以及信号输出电路，其在判定为在监视区域的内侧存在物体的情况下，输出物体探测信号，并且具备：模式切换电路，其可切换为第1模式和第2模式中的任一模式，其中，所述第1模式与反射光的强度无关地判定在监视区域的内侧是否存在物体，所述第2模式仅在反射光的强度为给定的阈值以上时判定在监视区域的内侧是否存在物体。
物体检测系统输送台车以及装置

[发明专利]物体检测装置-CN201980077836.2在审
发明人：青木健;山本明人;笠原隆弘 -专利权人：北阳电机株式会社
申请日： 2019-12-09 - 公布日： 2021-07-23 - 主分类号： G01S17/931 文献下载
摘要：物体检测装置能对应于本来不是障碍物的移动体的状态来动态地设定适当的物体检测区域，具备：在测定对象空间扫描测定光并将来自反射体的反射光引导到受光部的光扫描部；检测包含基于测定光和反射光的物理的特性算出的从物体检测装置到反射体的距离、反射光强度和测定光的扫描方向的反射体信息的反射体检测部；基于反射体检测部中检测到的反射体信息来识别反射体是否是给定的基准体的基准体识别部；基于由基准体识别部识别的基准体的反射体信息来划定物体检测区域以使其沿着该基准体的区域划定部；和将存在于由区域划定部划定的物体检测区域且未被基准体识别部识别为基准体的反射体判定为是检测对象物体的物体判定部。
物体检测装置

[发明专利]联合收割机-CN200510084532.9有效
发明人：楢原阳三郎;佐村木仁;森山浩二;新福勇一;丰田功;山本明人 -专利权人：洋马农机株式会社
申请日： 2000-09-28 - 公布日： 2006-02-22 - 主分类号： A01F7/00 文献下载
摘要：本发明的目的是提高脱谷效率和实现收获作业速度的高速化。本发明的联合收割机，在内设有脱粒滚筒(6)的滚筒室(22)侧方，架设送料链(5)，由脱粒滚筒(6)使送料链(5)运送的谷杆脱谷，其特征在于，用脱粒滚筒(6)外周的若干个滚筒弓齿(51)的前后方向中间部，把沿脱谷滚筒(6)旋转方向延设的杆承接体(53)(54)固定在滚筒室(22)底部，从正面看将杆承接体(53)(54)重合在滚筒弓齿(51)的旋转轨迹上。
联合收割机

[发明专利]制造半导体器件的设备和方法及上述设备中用的清洁方法-CN02802932.1无效
发明人：清水敬;山本明人 -专利权人：株式会社东芝
申请日： 2002-07-16 - 公布日： 2005-06-22 - 主分类号： H01L21/205 文献下载
摘要：一种制造半导体器件的设备和方法及上述设备中用的清洁方法。该设备包括：保持要处理的晶片的处理室，将生产气体引入处理室的进气管，从处理室将该气体排放到处理室的外部的排气管，成分测量装置，用于测量在处理室中的气体的成分或者从处理室中的气体、要被引入到处理室的气体和从处理室中排放的气体中选择的至少两种气体的成分，浓度测量装置，该浓度测量装置测量在处理室中的气体的每种成分的浓度或者每种成分的浓度。
制造半导体器件设备方法上述中用清洁

[发明专利]旋转机的寿命预测系统、旋转机的寿命预测方法和具有旋转机的制造装置-CN03134791.6无效
发明人：佐俣秀一;牛久幸广;山本明人;中尾隆;古畑武夫 -专利权人：株式会社东芝
申请日： 2003-09-29 - 公布日： 2004-05-19 - 主分类号： F04B49/10 文献下载
摘要：本发明的课题在于提供一种以廉价的装置，简单、稳定且高精度地对旋转机的寿命进行预测的寿命预测系统。该系统包括：测定旋转机(3)的振动的时间序列加速度数据的振动仪(7)；用含有以包括旋转机的转子的叶片扇数的公式与旋转机固有的基准振动频率的乘积表示的第1解析频率的频带、对所测定的模拟信号的时间序列加速度数据进行滤波的带通滤波器(8)；以及根据经滤波的上述第1解析频率的时间序列加速度数据的特征量，预测上述旋转机的寿命的数据处理单元(6)。
旋转寿命预测系统方法具有制造装置

[发明专利]制造装置及旋转机的寿命预测方法-CN03160083.2无效
发明人：佐俣秀一;古畑武夫;牛久幸广;山本明人;中尾隆 -专利权人：株式会社东芝
申请日： 2003-09-26 - 公布日： 2004-04-21 - 主分类号： F04C25/02 文献下载
摘要：本发明的目的在于提供一种具有能够进行高灵敏度且稳定的高精度的寿命预测的旋转机的制造装置。在旋转机(3)中，在旋转机的振动的变动不同的位置配置有测定时间序列振动数据的加速度计(36a、36b)。借助频率解析装置(37)，对由加速度计(36a、36b)所测定的时间序列振动数据进行频率解析。在时间序列数据记录部(5)中，根据经频率解析的时间序列振动数据，将与解析对象频率对应的特征量的变动制作成评价用诊断数据，并记录评价用诊断数据。用寿命判定单元(6)，利用评价用诊断数据预测旋转机(3)的寿命。
制造装置旋转寿命预测方法

[发明专利]半导体器件及其制造方法-CN03148584.7有效
发明人：桧山晋;山本明人;赤堀浩史;斋田繁彦 -专利权人：株式会社东芝
申请日： 2003-07-04 - 公布日： 2004-01-28 - 主分类号： H01L21/31 文献下载
摘要：不用添加等离子照射等新的工序，解除形成氧化硅膜时的基底依赖性，实现良好埋入特性。在覆盖栅电极21而形成的膜密度低的氮化硅膜23上，通过在含有TEOS和O₃的气氛中温度500℃以下成膜氧化硅膜24，使基底依赖性消失，获得优良的埋入特性。
半导体器件及其制造方法

[发明专利]半导体器件制造方法、制造装置及其清洗方法和制造系统-CN02160294.8无效
发明人： 山本明人;中尾隆;见方裕一;纲岛祥隆 -专利权人：株式会社东芝
申请日： 2002-08-30 - 公布日： 2003-05-21 - 主分类号： H01L21/00 文献下载
摘要：提供一种半导体器件的制造方法和制造装置，不管处理种类如何，难以受到处理环境制约，并且可以适当状态进行处理，可容易地得到优良的半导体器件。将监测装置8配置成监测部29的外侧暴露于反应容器2内，并开始处理，其中监测装置8包括由可透过和反射包含规定波长的光的材料形成的监测部29；形成为将向该监测部29照射包含规定波长的光的光照射部16、接收监测部29的照射光的反射光的光接收部30、照射光和反射光与反应容器2内的气氛和引入反应容器2内的物质分离的光路保护体15。测定反射光的强度，根据监测部29上淀积的淀积物的淀积量求出晶片3上淀积的膜的厚度。
半导体器件制造方法装置及其清洗系统

[发明专利]半导体制造设备干洗时期判定系统、干洗方法和干洗系统-CN02129077.6无效
发明人：胜井修二;田中正幸;上村昌己;赤堀浩史;水岛一郎;中尾隆;山本明人;齐田繁彦;纲岛祥隆;见方裕一 -专利权人：株式会社东芝
申请日： 2002-08-30 - 公布日： 2003-03-19 - 主分类号： B08B11/00 文献下载
摘要：本发明提供一种干洗系统，该干洗系统根据各种信息，借助于计算机进行综合处理，效率良好地自动地判定对于半导体制造设备来说究竟是进行晶片处理还是进行清洗处理。具体的解决手段涉及用至少含有ClF3等卤族气体除去淀积在半导体制造设备的反应室5内的淀积膜的干洗。第1发明，是对于半导体制造设备来说，自动地判定设备是立即实施成膜等的处理还是必须马上进行清洗的系统。第2发明，在使用至少含有ClF3等卤族气体除去淀积在要形成CVD膜等的半导体制造设备的反应室内的淀积膜时使得存在金属、金属化合物、有机系气体等。可以提高选择比、缩短清洗时间。第3发明，是进行目的为对设备进行效率良好的清洗的控制的系统。
半导体制造设备干洗时期判定系统方法

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