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- [发明专利]测距装置-CN201980050201.3有效
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杉本真太郎;五味正人
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株式会社小糸制作所
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2019-07-19
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2023-08-22
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G01C3/06
- 透光盖(12)覆盖发光元件(41)和受光元件(42),形成车辆的外表面的一部分。处理器(15)基于从由发光元件(41)发射检测光(L1)起至反射光(L2)入射到受光元件为止的时间,计算距发生了反射光(L2)的物体(200)为止的距离。处理器(15)至少在经过了从检测光(L1)被发射起至由透光盖(12)的内表面(12a)反射的反射光(L3)入射受光元件(42)为止的时间后,进行距离的计算。
- 测距装置
- [发明专利]位移传感器-CN202180082421.1在审
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高岛润
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欧姆龙株式会社
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2021-03-02
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2023-08-15
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G01C3/06
- 提供一种位移传感器,其能够抑制移动分辨率及受光量的下降,并且实现适当的计测精度、计测速度。位移传感器(11)包含:光源(110),其输出白色光;导光部(201),其包含至少一个光纤;传感器头(300),其收纳使经由导光部(201)入射的白色光沿着光轴方向产生色差的衍射透镜(310),将产生了色差的光照射至计测对象物(TA);以及分光器(120),其经由导光部(201)取得被计测对象物(TA)反射并由传感器头(300)会聚后的反射光,计测反射光的光谱,与传感器头(300)连接的光纤具有比与分光器(120)连接的光纤大的芯径。
- 位移传感器
- [发明专利]光电检测装置、电子设备和测距系统-CN202180080846.9在审
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冈崎睦;大竹悠介
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索尼半导体解决方案公司
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2021-12-22
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2023-08-08
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G01C3/06
- 提供了一种摄像装置,其包括像素阵列单元,所述像素阵列单元包括以矩阵形式布置在半导体基板(100)上并且检测光的多个像素(10),所述像素各自包括像素分离壁(120),所述像素分离壁围绕所述像素并且将所述像素彼此分离;光电转换单元(102),所述光电转换单元设置在所述半导体基板内部并且响应于光生成电荷;倍增区域,所述倍增区域设置在所述半导体基板内部并且使来自所述光电转换单元的电荷倍增;以及第一反射部和第二反射部,其将被引导出所述半导体基板的光反射到所述半导体基板中,所述第一反射部(122)设置在所述半导体基板的接收光的第一表面上,以从所述像素分离壁朝向像素中央突出,并且所述第二反射部(130,132)设置在所述半导体基板的与所述第一表面相对的第二表面上。
- 光电检测装置电子设备测距系统
- [发明专利]图像处理装置-CN202080012454.4有效
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的野春树;大里琢马
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日立安斯泰莫株式会社
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2020-02-03
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2023-07-28
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G01C3/06
- 本发明提供一种能够评价每个像素的测定值的可靠度的图像处理装置。图像存储部(330)至少存储图像(I0)(第一图像)和图像(I1)(第二图像)。偏移赋予部(391)对图像(I1)(第二图像)赋予纵向的偏移。移动量计算部(340)(测定值计算部)在赋予偏移的前后,根据图像(I0)(第一图像)的像素和与其对应的图像(I1)(第二图像)的像素计算移动量(测定值)。移动量的差计算部(360)(差分计算部)计算赋予偏移的前后的移动量(测定值)的差分。可靠度计算部(370)根据移动量(测定值)的差分计算每个像素的可靠度。
- 图像处理装置
- [发明专利]测距成像系统、测距成像方法和程序-CN202080022206.8有效
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薄田学;香山信三;小田川明弘
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松下知识产权经营株式会社
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2020-03-09
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2023-07-25
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G01C3/06
- 本公开所解决的问题是获得将亮度信息和距离信息彼此相关联的数据。测距成像系统(1)包括:第一获取单元(21),从成像单元(4)获取指示第一亮度图像的信息的第一亮度信息;第二获取单元(22),从测距单元(5)获取指示第一距离图像的信息的第一距离信息;第三获取单元(23),从检测单元(6)获取指示第二亮度图像的信息的第二亮度信息,并且获取指示第二距离图像的信息的第二距离信息;以及计算单元(3)。成像单元(4)获取目标空间(S1)的第一亮度图像。测距单元(5)获取对到存在于目标空间(S1)中的对象(O1)的距离加以指示的第一距离图像。在同轴光学系统中,检测单元(6)获取目标空间(S1)的第二亮度图像,并且获取对到存在于目标空间中的物体(O1)的距离加以指示的第二距离图像(S1)。计算单元(3)执行:在第一亮度信息与第二亮度信息之间建立关联的处理以及在第一距离信息与第二距离信息之间建立关联的处理。
- 测距成像系统方法程序
- [发明专利]光接收元件、光探测器和测距系统-CN202180072089.0在审
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铃木淳贵;大竹悠介
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索尼半导体解决方案公司
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2021-11-05
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2023-07-18
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G01C3/06
- 本发明提供了一种光接收元件(10),其设置在半导体基板(100)中并由像素分离壁(110)包围。该光接收元件(10)包括:放大电荷的倍增区域(101);设置在所述倍增区域(101)的与光接收表面相反的一侧的表面上的阴极单元;设置为覆盖所述光接收表面和所述像素分离壁(110)的内侧面的空穴累积区域(104);以及设置在覆盖所述像素分离壁(110)的内侧面的所述空穴累积区域(104)的表面的一部分上的阳极单元,该表面的一部分在与所述光接收表面相反的一侧。当从与所述光接收表面相反的一侧的表面上方观察所述半导体基板(100)时,所述倍增区域(101)设置为使得所述倍增区域(101)的中心点(Oc)比所述光接收元件(10)的中心点(Ob)距所述阳极单元更远。
- 接收元件探测器测距系统
- [发明专利]光检测装置及光检测系统-CN202180071653.7在审
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池田泰二
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索尼半导体解决方案公司
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2021-09-02
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2023-07-14
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G01C3/06
- 根据本公开的光检测装置包括:多个光接收部(31A,31B),其生成包含与光接收的结果对应的脉冲的脉冲信号;多个边缘检测器,其通过检测由对应的光接收部生成的脉冲信号中的脉冲的边缘来生成检测信号;以及加法器(33),其根据多个检测信号来生成表示脉冲数的检测值。边缘检测器(40A,40B)均包括:第一锁存电路(41),通过基于第一时钟信号锁存脉冲信号来生成第一信号;第二锁存电路(42),通过基于第二时钟信号锁存第一信号来生成第二信号,第二时钟信号是第一时钟信号的反相信号;组合电路(43,44),基于所述脉冲信号、所述第一信号和所述第二信号生成第三信号;以及第三锁存电路(45),通过基于第一时钟信号锁存第三信号生成检测信号。
- 检测装置系统
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