专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]一种光伏组件的安装装置-CN202310472619.1在审
  • 刘云洲;孙景雨;仲怀雨 - 汉伏能源技术(南京)有限公司
  • 2023-04-27 - 2023-07-25 - H02S20/00
  • 本发明涉及光伏组件技术领域,特别是一种光伏组件的安装装置,其包括承载组件,包括有基座、设于所述基座一端的万向轮、设于所述基座另一端的侧翼板和设于侧翼板外的手扶架;以及,设于所述基座端面的安置框;以及,可拆卸设于所述安置框内的光伏板本体,设于所述光伏板本体一端的把手和开设与所述光伏板本体另一端的并可与所述把手发生滑动配合的活动通道,本发明可将两个光伏板通过插接的方式进行连接,插接过程中,还将带动一系列组件进行相对运动,从而完成光伏板的多次固定,有效解决现有技术中利用螺栓进行固定的方式而带来的诸多弊端。
  • 一种组件安装装置
  • [发明专利]一种衬底剥离方法-CN202010943817.8有效
  • 何晨光;张康;吴华龙;陈志涛;赵维;贺龙飞;刘云洲;廖乾光 - 广东省科学院半导体研究所
  • 2020-09-09 - 2023-07-11 - H01L21/78
  • 本发明公开了一种衬底剥离方法。本发明的衬底剥离方法包括以下步骤:(1)在第一衬底上沉积AlN材料,形成复合基板,其中,沉积AlN材料过程中的环境气氛掺有氧元素,使得AlN材料中氧原子浓度高于1E16cm‑3;(2)将复合基板置于退火炉中,升温至1400‑2000℃,并在此温度退火0.5‑24h,在退火过程中,在AlN材料与第一衬底的界面上方形成反型边界,退火后降温将复合基板取出;(3)在经过退火的复合基板上外延生长外延层,形成完整的外延片;(4)将激光从第一衬底面照射,激光光斑聚焦在反型边界,使得反型边界上方和下方分离,实现第一衬底的剥离。本发明的剥离方法简单,低成本,良率高,且不受限于短波长、大功率激光器。
  • 一种衬底剥离方法
  • [发明专利]半导体单晶材料的制备方法-CN202211717074.8在审
  • 吴华龙;何晨光;张康;赵维;贺龙飞;廖乾光;刘云洲;陈志涛 - 广东省科学院半导体研究所
  • 2022-12-29 - 2023-05-16 - C30B25/18
  • 本发明公开一种半导体单晶材料的制备方法,其包括以下步骤:采用异质衬底进行材料制备;在200℃‑700℃的温度下,在异质衬底上溅射化合物半导体材料,以得到第一晶圆;对第一晶圆进行次数不少于两次的热处理,以得到热处理成品晶圆,其中,每次热处理的温度比前一次热处理的温度高,第一次热处理的温度高于溅射温度,最后一次热处理温度范围为1300℃‑1800℃;在热处理成品晶圆上沉积化合物半导体材料,以制得半导体单晶材料。由此,化合物半导体材料经过前期低温热处理材质得到了致密化,避免后续进行高温热处理重排形成单晶时因结构松散而出现热分解的问题,以便后续沉积的化合物半导体材料保持单晶状态。
  • 半导体材料制备方法
  • [发明专利]一种单一N极性AlN薄膜制备方法-CN202211414050.5在审
  • 何晨光;吴华龙;张康;陈志涛;赵维;贺龙飞;刘云洲;廖乾光 - 广东省科学院半导体研究所
  • 2022-11-11 - 2023-05-02 - C23C16/34
  • 本发明公开一种单一N极性AlN薄膜制备方法,其包括以下步骤,S10:将第一模板覆盖在通过在耐高温的无硅衬底上沉积AlN薄膜得到的AlN模板中的AlN薄膜的上表面上,其中,第一模板含Al组分和N组分两者中的至少一者且耐高温;S20:将覆盖有第一模板的AlN模板进行高温退火,以在AlN薄膜中形成AlON层,和在所述AlN薄膜中的所述AlON层的两侧分别形成N极性AlN层和Al极性AlN层;S30:刻蚀去除AlON层和Al极性AlN层,以制得具有单一N极性AlN薄膜的AlN模板。由此,耐高温第一模板,可以避免AlN薄膜在高温退火的过程中出现分解或表面受损的问题;而且,可以通过去除AlN模板在高温退火过程中形成的Al极性AlN层和AlON层的方式获得具有单一N极性的AlN薄膜。
  • 一种单一极性aln薄膜制备方法
  • [发明专利]一种半导体结构及其制作方法-CN202211528244.8在审
  • 张康;何晨光;吴华龙;王巧;廖乾光;刘云洲;陈志涛 - 广东省科学院半导体研究所
  • 2022-11-30 - 2023-03-28 - H01L21/02
  • 本申请提供了一种半导体结构及其制作方法,涉及半导体技术领域。该半导体结构包括蓝宝石衬底,位于蓝宝石衬底一侧的AlN缓冲层,位于AlN缓冲层的远离蓝宝石衬底一侧的籽晶层,其中,籽晶层中包括多个间隔设置的基岛,位于籽晶层的远离蓝宝石衬底一侧的合并层,位于合并层的远离蓝宝石衬底一侧且不连续的SiN插入层,位于合并层与插入层的远离蓝宝石衬底的一侧的合拢层;其中,制作籽晶层、合并层以及所述合拢层的材料均为GaN,且AlN缓冲层、籽晶层、合并层、插入层以及合拢层的厚度之和小于1um。本申请提供的半导体结构及其制作方法具有外延晶体质量更高且防止出现外延层翘曲的优点。
  • 一种半导体结构及其制作方法

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