专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]一种修复外延层缺陷的方法-CN202211244493.4在审
  • 旷明胜;郑洪仿;于倩倩 - 佛山市国星半导体技术有限公司
  • 2022-10-11 - 2023-04-04 - H01L33/00
  • 本发明公开了一种修复外延层缺陷的方法,涉及半导体外延技术领域,包括以下步骤:在带缺陷的外延层上沉积第一金属薄层;退火处理,使第一金属薄层中的金属颗粒在外延层的缺陷处形成金属团聚物,并使第一金属薄层保持对外延层的非缺陷区域的覆盖形成缓冲层;等离子体轰击,使金属团聚物的金属颗粒与缺陷处紧密嵌合成一体,并且通过缓冲层将轰击能量间接传递到外延层的表面,使外延层的表面粗糙化;金属团聚物和缓冲层被等离子体轰击后在外延层的表面成型有第二金属薄层;采用化学药液去除外延层表面的所述第二金属薄层。本发明的方法通过修复外延层表面的缺陷,能有效地改善LED芯片的欧姆接触,提高芯片的出光效率,增强芯片的亮度性能。
  • 一种修复外延缺陷方法
  • [发明专利]一种低翘曲度键合片的键合方法-CN202211314579.X在审
  • 郑洪仿;旷明胜;陈慧秋 - 佛山市国星半导体技术有限公司
  • 2022-10-25 - 2023-01-17 - H01L33/62
  • 本发明公开了一种低翘曲度键合片的键合方法,涉及半导体制造领域,包括以下步骤:在外延层、硅衬底的预键合面形成第一、第二键合材料,对准后置入具有弧面的石墨盘中进行键合;使其升温至第一温度并对其施加第一压力,保持第一时间以使键合材料熔化融合;使温度从第一温度按温度差值以等差数列的形式分段递减降至预设温度,同时将压力从第一压力按压力差值以等差数列的形式分段递减降至预设压力,且每阶段按照预设时间值保持一段时间。本发明的方法通过使用具有弧面的石墨盘进行键合,而且控制温度与压力阶段性同时降低且每阶段保持一定时间,能减小键合结构中的应力,降低键合结构的翘曲度,获得具有低翘曲度的键合片。
  • 一种曲度键合片方法
  • [发明专利]倒装LED芯片及其制作方法-CN201510351127.2在审
  • 徐亮;郑洪仿 - 佛山市国星半导体技术有限公司
  • 2015-06-19 - 2015-09-09 - H01L33/54
  • 本发明提供了一种倒装LED芯片及其制作方法,包括:制作倒装LED芯片的半成品,所述半成品至少包括透明衬底和位于所述透明衬底一侧的氮化镓外延层,所述氮化镓外延层包括N型氮化镓层、有源层和P型氮化镓层;将所述半成品固定在切割台上,所述半成品的透明衬底一侧背离所述切割台;对所述透明衬底进行图形化切割,以使所述透明衬底具有凹凸不平的表面,从而能够部分消除透明衬底与空气相接触的表面的全反射现象,进而能够提高倒装LED芯片的出光效率,提高倒装LED芯片的亮度。
  • 倒装led芯片及其制作方法

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