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[发明专利]一种识别栅极上连续排列的M0图形集群的方法-CN202110184687.9在审
发明人： 潘伟伟;杨璐丹 -专利权人：杭州广立微电子股份有限公司
申请日： 2021-02-11 - 公布日： 2022-07-19 - 主分类号： G06V10/22 文献下载
摘要：本发明提供了一种识别栅极上连续排列的M0图形集群的方法，获取版图信息；识别仅连接一根栅极且与有源区不存在重叠区域的矩形M0为第一目标M0；将第一目标M0的侧边分别按预设的第一距离向外平移后形成第一区；识别存在重叠区域的第一区合成的一个多边形为第一多边形；将所述第一多边形的侧边分别向内按预设的第二距离平移形成第二区，所述第二区即为栅极上连续排列的M0图形集群。能够识别具有特定数量M0图形集群，还可以区分每个M0图形在集群中的相对位置，过程简洁，结果直观准确，有利于工艺的改进和效率提高。
一种识别栅极连续排列 m0 图形集群方法

[发明专利]一种光刻缺陷热点图形的识别方法及图形结构-CN202110264926.1在审
发明人： 潘伟伟;胡佳南 -专利权人：杭州广立微电子股份有限公司
申请日： 2021-03-11 - 公布日： 2022-07-19 - 主分类号： G03F7/20 文献下载
摘要：本发明提供了一种光刻缺陷热点图形的识别方法，包括：确定版图的待识别层，即目标图形所在层；预设宽度范围，识别初始边；预设第一间距范围和第二间距范围；识别第一间隔区、第二间隔区；识别第一边、第二边；将所述初始多边形中，满足一侧轮廓边为第一边并且另一侧轮廓边为第二边的多边形区域识别为目标图形，即光刻缺陷热点图形。能快捷准确的识别出光刻缺陷图形，利于改进生产工艺，步骤简洁。本发明还提供一种光刻缺陷热点图形结构，通过本发明的光刻缺陷热点图形的识别方法得到，能快速辨别图形是否有引起光刻缺陷风险。
一种光刻缺陷热点图形识别方法结构

[发明专利]一种识别光刻缺陷热点图形的方法及图形结构-CN202110264931.2在审
发明人： 潘伟伟;蓝帆 -专利权人：杭州广立微电子股份有限公司
申请日： 2021-03-11 - 公布日： 2022-07-19 - 主分类号： G06T7/00 文献下载
摘要：本发明提供了识别光刻缺陷热点图形的方法，包括：确定版图的待识别层；预设宽度范围，识别初始边；预设RightSpace范围和LeftSpace范围，识别Edge_out；将所述plg_out中，满足一侧边为Fit_width_e_LSW且另一侧边为Fit_width_e_RSW的多边形区域识别为plg_out_plus，即目标图形。本发明的方法能快捷准确的识别出光刻缺陷图形，利于改进生产工艺，步骤简洁。本发明还提供了一种光刻缺陷热点图形结构，能快速辨别图形是否有引起光刻缺陷风险。
一种识别光刻缺陷热点图形方法结构

[发明专利]测试芯片的焊盘排布方法、设计方法及系统、测试芯片-CN202210344491.6在审
发明人：杨璐丹;潘伟伟;尤炎;万晶;曾祥芮 -专利权人：杭州广立微电子股份有限公司
申请日： 2022-03-31 - 公布日： 2022-07-08 - 主分类号： G06F30/398 文献下载
摘要：本发明提供一种测试芯片的焊盘排布方法，包括：在测试芯片上以两个焊盘组在第一方向上间隔交错摆放焊盘的方式，摆放多个焊盘组，形成若干个沿着第一方向的焊盘序列；在所述焊盘序列的两侧区域，分别形成所述焊盘序列中焊盘的可选区域，实现对焊盘的可选区域的布局，用于焊盘连接其可选区域内的测试对象引脚以形成测试通路。通过交错焊盘的摆放策略，在整个芯片中排出更多的可选区域；在继续支持单排独立测试或双排并行测试的情况下，能够在测试芯片上连出更多的待测器件。本发明还提供的测试芯片设计方法、测试芯片设计系统及测试芯片具有相应优势。
测试芯片排布方法设计系统

[发明专利]一种甄别处于电流泄露回路中器件的方法-CN202110184686.4在审
发明人： 潘伟伟;胡佳南;杨璐丹;蓝帆 -专利权人：杭州广立微电子股份有限公司
申请日： 2021-02-11 - 公布日： 2022-07-01 - 主分类号： G06F30/398 文献下载
摘要：本发明提供了一种甄别处于电流泄露回路中器件的方法，包括：获取版图信息，将连接至少两个有源区的M0识别为第一M0；将包含相邻的第一M0及其连接的两个有源区所围成的封闭区域分别记为loop_holes，将所述loop_holes分别扩张成最小的矩形识别为第一矩形；扩张后的第一矩形与第一M0的重叠区域识别为第一区；将有效的有源区减去M0后的图形区域中，与所述第一矩形接触的区域记为第一有源区；根据器件的栅极两侧与第一有源区的位置关系判断该器件是否为处于电流泄漏回路中的器件。为设计的优化和生产效率的提高，改善工艺，降低质量风险提供了有效而简洁的方法。
一种甄别处于电流泄露回路器件方法

[发明专利]一种识别光刻有源区热点及其中晶体管的方法-CN202110184688.3在审
发明人： 潘伟伟;杨璐丹;蓝帆 -专利权人：杭州广立微电子股份有限公司
申请日： 2021-02-11 - 公布日： 2022-07-01 - 主分类号： G06F30/392 文献下载
摘要：本发明提供了一种识别光刻有源区热点的方法，包括:获取版图信息；定义初始边；将有源区图形中除去与栅极图形重叠区域后剩余的矩形区域识别为第一矩形，识别与所述第一短边接触的第一矩形为L型不规则有源区，即光刻有源区热点。本发明还提供了一种识别光刻有源区中晶体管的方法，采用本发明的方法识别出的光刻有源区热点，能够识别并获取光刻有源区中晶体管的属性信息，过程简洁，结果直观，有利于生产工艺的改进和效率提高。
一种识别光刻有源热点其中晶体管方法

[发明专利]一种生成SDB隔离效果测试结构的方法及测试结构-CN202110184689.8在审
发明人：胡佳南;潘伟伟;杨璐丹 -专利权人：杭州广立微电子股份有限公司
申请日： 2021-02-11 - 公布日： 2022-07-01 - 主分类号： G06F30/392 文献下载
摘要：本发明提供了一种生成SDB隔离效果测试结构的方法，包括：获取版图信息，并在版图中确定测试区域；在测试区域内识别出第一M0A；将第一SDB及其接触的第一M0A的组合记为SDBseed1_cluster，并将所述SDBseed1_cluster中包含两个第一M0A的组合识别为测试单元；第一M0A上铺设对应的M1，生成条状的梳齿，所述梳齿包括交错间隔设置的第一梳齿和第二梳齿；将第一梳齿组成第一梳状结构，将第二梳齿组成第二梳状结构；将第一梳状结构和第二梳状结构分别连到不同的测试端，用于对测试单元内的SDB隔离效果进行测试。步骤简洁，能够适用于各种实际设计中测试SDB的隔离效果。本发明提供的测试结构具有本发明的方法生成的结构而具有相应优势。
一种生成 sdb 隔离效果测试结构方法

[发明专利]一种光刻通孔热点识别方法-CN202110263882.0在审
发明人：胡佳南;潘伟伟 -专利权人：杭州广立微电子股份有限公司
申请日： 2021-03-11 - 公布日： 2022-07-01 - 主分类号： H01L21/66 文献下载
摘要：本发明提供了一种光刻通孔热点识别方法，包括获取版图信息；将用于连接所述连接层的通孔层的V0的侧边分别向外移动，将移动至触及相邻切断层图形的侧边扫过的矩形区域识别为扩充区；获取所述V0周围的扩充区数量，并根据V0周围的扩充区数量来识别所述V0是否为光刻通孔热点。能够实现方便、有效和快捷地对用于版图设计热点的搜索与分析。过程简洁，识别结果直观准确，有利于生产工艺的改进和效率提高。
一种光刻热点识别方法

[发明专利]一种Z型走线图形及集群的识别方法-CN202110283060.9在审
发明人： 潘伟伟;杨璐丹 -专利权人：杭州广立微电子股份有限公司
申请日： 2021-03-16 - 公布日： 2022-07-01 - 主分类号： G06F30/394 文献下载
摘要：本发明提供了一种Z型走线图形的识别方法包括:目标图形所在层中，全部或部分区域中每个线形图形中相接的轮廓边相互垂直，识别水平初始边和垂直初始边，分别形成space_h和space_v，相应的扩充成能包含其的面积最小的矩形jogging_connection_h和jogging_connection_v，所述jogging_connection_h和jogging_connection_v为目标图形，用于定位Z型走线图形。过程简洁，识别结果直观准确，有利于生产工艺的改进和效率提高。本发明还提供一种Z型走线集群的识别方法基于本发明的Z型走线图形的识别方法具有相应优势。
一种线图集群识别方法

[发明专利]数据聚合方法及系统-CN202210184281.5有效
发明人：应迪;蓝帆;潘伟伟 -专利权人：杭州广立微电子股份有限公司
申请日： 2022-02-28 - 公布日： 2022-06-10 - 主分类号： G06F16/22 文献下载
摘要：本发明提供一种数据聚合方法，定义待聚合数据的每一行为一条数据，每一列为一个字段，聚合方法包括：对待聚合数据进行聚合，得到聚合结果数据，并利用内存暂存聚合结果数据；根据内存使用情况，分若干次将暂存在内存中的聚合结果数据存入聚合结果文件，直至完成对所有待聚合数据的聚合，获得最终的聚合结果文件。该方案的有益效果在于，通过分若干次将内存中的聚合结果数据存入聚合结果文件，及时移入到聚合结果文件中，避免了数据在聚合时内存不足的问题。
数据聚合方法系统

[实用新型]可寻址测试芯片用开关电路及高密度可寻址测试芯片-CN202122335782.2有效
发明人：杨璐丹;尤炎;潘伟伟 -专利权人：杭州广立微电子股份有限公司
申请日： 2021-09-26 - 公布日： 2022-06-10 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本实用新型提供的可寻址测试芯片用开关电路，包括若干待测器件和若干开关，能通过控制所述开关的通断状态以选中指定的待测器件连通测试通路；相邻两个所述待测器件共享位于其中一个待测器件同一端的激励开关和感应开关；所述待测器件、其与相邻待测器件所共享的所述感应开关之间连接有中间开关。本实用新型的开关电路能够在测量选中的器件时，感应端仅有连接选中的待测器件的一端导通而另一端关断，解决了因共享开关而引入的绕线电阻误差，优化了共享电路在小电阻测量应用中精确度。本实用新型还提供的高密度可寻址测试芯片因具有本实用新型的可寻址测试芯片用开关电路而具有相应优势。
寻址测试芯片开关电路高密度

[发明专利]一种测试芯片中外围电路的设计方法及其测试芯片-CN202111501691.X在审
发明人：蓝帆;潘伟伟;杨慎知;郑勇军 -专利权人：杭州广立微电子股份有限公司
申请日： 2021-12-09 - 公布日： 2022-05-13 - 主分类号： G01R31/319 文献下载
摘要：本发明提供一种测试芯片中外围电路的设计方法，包括：获取测试芯片中器件的器件阵列信息、以及器件中选定的待测器件信息；确定用于摆放外围电路的外围电路区域；基于器件阵列的边缘行或/和边缘列设计外围电路；在外围电路区域，为位于边缘行或/和边缘列中的待测器件配置对应的外围电路单元，通过连接线将待测器件与对应的外围电路单元相连形成外围电路。该技术方案有益效果在于，该方法结合考虑器件阵列和外围电路单元进行协同规划，以优化外围电路的摆放设计，能在不影响外围电路的功能和性能的基础上，提升测试芯片的器件密度。还提供一种测试芯片。
一种测试芯片外围电路设计方法及其

[发明专利]一种版图中孤立通孔的修正方法及系统-CN202111564939.7在审
发明人：王山川;蓝帆;潘伟伟 -专利权人：杭州广立微电子股份有限公司
申请日： 2021-12-20 - 公布日： 2022-04-22 - 主分类号： G03F1/00 文献下载
摘要：本发明提供一种版图中孤立通孔的修正方法，包括：获取版图信息，确定目标通孔层；通过对所述目标通孔层的通孔进行区域扩展，得到所述通孔的通孔周边区，对每个通孔进行判断：通孔周边区内是否还存在其他通孔；若不存在，则判断所述通孔为孤立通孔；确定填充区域；在所述填充区域内填充辅助单元，修正所述孤立通孔。本发明的修正方法在版图设计阶段结合版图设计规则修正孤立通孔，可以在不影响电路原有连接关系的前提下，进行孤立通孔的实时检测和修改，有利于改进版图设计、优化半导体的制程工艺、提高生产效率和产品良率。本发明还提供的一种版图中孤立通孔的修正系统因能基于本发明的修正方法检测修改孤立通孔而具有相应优势。
一种版图孤立修正方法系统

[实用新型]陶瓷外观机器视觉检测装置-CN202121951132.4有效
发明人：刑云增;裴彦明;刘允浩;潘伟伟 -专利权人：深圳市精视智造科技有限公司
申请日： 2021-08-20 - 公布日： 2022-02-18 - 主分类号： G01N21/84 文献下载
摘要：本实用新型公开了陶瓷外观机器视觉检测装置，包括基座，所述基座顶壁两侧固定连接有固定架，两个所述固定架相向一侧侧壁之间固定安装有计算机，所述计算机底部中心位置固定安装有摄像模组，所述基座顶壁中心位置设置有调节机构，所述调节机构上设置有固定机构，所述调节机构包括滑块，所述基座顶壁中心位置开设有环形滑槽。本实用新型通过设置有多外形适应的待检测物件固定机构，实际待检测物件固定以及取出方便，且设置有良好的待检测物件固定机构的调节机构，实际进行待检测物件固定后的调节使用方便，此外设置有良好的陶瓷外观机器视觉检测机构，实际陶瓷外观机器视觉检测工作效率高，同时工作稳定性良好。
陶瓷外观机器视觉检测装置

[实用新型]一种基于机器视觉的产品检测装置-CN202121953738.1有效
发明人：裴彦明;刑云增;刘允浩;潘伟伟 -专利权人：深圳市精视智造科技有限公司
申请日： 2021-08-20 - 公布日： 2022-02-18 - 主分类号： G01N21/84 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种基于机器视觉的产品检测装置，包括两个安装板，两个所述安装板呈上下对称状设置，两个所述安装板一侧侧壁固定连接有同一固定板，两个所述安装板另一侧侧壁固定连接有固定架，两个所述固定架之间设置有视觉检测机构，两个所述安装板之间设置有产品固定机构。本实用新型通过设置有良好的装置本体固定安装机构，实际进行装置本体的固定安装时，其安装便利性以及牢固性良好，且设置有良好的基于机器视觉的产品检测机构散热机构，实际进行基于机器视觉的产品检测工作时，其工作稳定性良好，此外设置有良好的待基于机器视觉检测产品的固定机构，实际进行待基于机器视觉检测产品的固定以及取下方便。
一种基于机器视觉产品检测装置