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[发明专利]用于提高自准直仪测量精度的光源频率调制装置及方法-CN201811633257.5有效
发明人：昌明;赵建科;刘峰;郭梁;乔卫东;曹昆;薛勋;李晶;李跃;巩立 -专利权人：中国科学院西安光学精密机械研究所;西安理工大学
申请日： 2018-12-29 - 公布日： 2020-05-19 - 主分类号： G01B11/26 文献下载
摘要：本发明公开的用于提高自准直仪测量精度的光源频率调制系统，包括频率发生装置，频率发生装置用于发出3路频率相同、占空比和延时分别可调的脉冲频率源，1路用于对自准直仪的激光光源进行频率调制；1路用于对PSD器件背景光产生的光电信号进行采样保持；1路用于对PSD器件脉冲光产生的光电信号进行采样保持。本发明还公开了光源调制方法，通过控制采样时机，获取稳定的光电信号，为后续处理电路提供正确可信的信号。本发明公开的系统在仪器研制期间可灵活更改，并且，具有延时可调功能，避免了错误信号的混入，进而提高测量精度。
用于提高准直仪测量精度光源频率调制装置方法

[发明专利]一种成像系统空间测试装置、对比度及频率测试方法-CN201911386114.3在审
发明人：曹昆;张洁;周艳;李坤;刘尚阔;昌明;薛勋;焦璐璐 -专利权人：中国科学院西安光学精密机械研究所
申请日： 2019-12-29 - 公布日： 2020-04-03 - 主分类号： H04N17/00 文献下载
摘要：本发明属于光电测试领域，为解决现有技术中无法获得连续变化靶标、不易实现精细模拟，以及不适用于高亮度测试的问题，提供一种成像系统空间测试装置、对比度及频率测试方法，测试装置包括积分球、平行光管、移动台、采集控制单元和光电探测组件，积分球入光口处设有光阑，光阑的正上方设有第一光源，分球入光口与积分球出光口所对应的圆心角为90°，平行光管的外表面设有第二光源；第二光源位于移动台的背面，与移动台相对设置并留有间隙，平行光管的出光口处放置待测相机。对比度及空间频率测试方法，先采用与分辨率测试卡白条和黑底相同的白色测试卡和黑色测试卡进行标定，再进行测试，能够同时测试亮目标和暗目标。
一种成像系统空间测试装置对比度频率方法

[发明专利]一种摄像装置环境试验稳定性的检测装置及方法-CN201811653814.X有效
发明人：昌明;赵建科;周艳;乔卫东;郭梁;王争锋;薛勋;李晶;巩立;李跃 -专利权人：中国科学院西安光学精密机械研究所;西安理工大学
申请日： 2018-12-29 - 公布日： 2019-10-29 - 主分类号： G01M11/00 文献下载
摘要：本发明公开的一种摄像装置环境试验稳定性的检测方法，首先安装好检测装置，包括光学平台，光学平台上间隔安装剪切架I和剪切架II，所述剪切架I上放置PSD自准直仪，剪切架II上放置摄像装置，调整剪切架I和剪切架II的高度控制PSD自准直仪的光轴与摄像装置的光轴等高，调整自准直仪与摄像装置光轴位置，确保自准直仪的偏差角度为零；然后摄像装置采集自准直仪的图像判断十字分划板的像在图像中的位置，对比试验前后的十字分划板的像在图像中的位置，确定摄像装置在经历规定的环境试验后的稳定性。本发明公开的检测方法结构简单，调整便捷，便于在试验现场快速搭建和测量，受环境影响因素小的特点。
摄像装置剪切架环境试验自准直十字分划板光学平台检测装置自准直仪光轴图像环境影响因素摄像装置光轴对比试验高度控制间隔安装图像判断检测等高测量采集试验

[实用新型]一种摄像装置环境试验稳定性的检测装置-CN201822275371.7有效
发明人：昌明;赵建科;周艳;乔卫东;郭梁;王争锋;薛勋;李晶;巩立;李跃 -专利权人：中国科学院西安光学精密机械研究所;西安理工大学
申请日： 2018-12-29 - 公布日： 2019-10-29 - 主分类号： G01M11/00 文献下载
摘要：本实用新型公开的一种摄像装置环境试验稳定性的检测装置，包括光学平台，光学平台上间隔安装剪切架I和剪切架II，所述剪切架I上放置PSD自准直仪，剪切架II上放置摄像装置，调整剪切架I和剪切架II的高度控制PSD自准直仪的光轴与摄像装置的光轴等高。本实用新型公开的检测装置结构简单，调整便捷，便于在试验现场快速搭建和测量，受环境影响因素小的特点。
剪切架摄像装置检测装置本实用新型光学平台环境试验光轴环境影响因素高度控制间隔安装自准直仪自准直等高测量试验

[发明专利]一种故障指示器运行状态评价系统-CN201710748232.9有效
发明人：昌明;梁仕斌;田庆生;王磊;邓飞;杜景琦;侯志丽;杨艳梅 -专利权人：云南电力试验研究院（集团）有限公司
申请日： 2017-08-28 - 公布日： 2019-09-06 - 主分类号： G01R35/00 文献下载
摘要：本申请公开了一种故障指示器运行状态评价系统，包括：信息获取模块、指标计算模块及评级评价处理模块，其中自检信息获取单元获取故障指示器的自检信息、线路故障信息和负荷电流信息，指标计算模块，根据信息获取模块获取的信息计算在线率、线路故障信息正确率和负荷电流采集完整率，评级评价处理模块根据在线率、线路故障信息正确率和负荷电流采集完整率确定故障指示器的运行状态。方便供电单位根据本申请公开的系统指定不同的巡检和消缺策略为故障指示器的运行维护提供支持。
故障指示器线路故障信息运行状态信息获取模块指标计算模块处理模块负荷电流评价系统在线率正确率自检评级采集负荷电流信息信息获取单元供电单位信息计算运行维护巡检申请

[实用新型]用于提高自准直仪测量精度的光源频率调制系统-CN201822267801.0有效
发明人：昌明;赵建科;刘峰;郭梁;乔卫东;曹昆;薛勋;李晶;李跃;巩立 -专利权人：中国科学院西安光学精密机械研究所;西安理工大学
申请日： 2018-12-29 - 公布日： 2019-08-27 - 主分类号： G01B11/26 文献下载
摘要：本实用新型公开的用于提高自准直仪测量精度的光源频率调制系统，包括频率发生装置，频率发生装置用于发出3路频率相同、占空比和延时分别可调的脉冲频率源，1路用于对自准直仪的激光光源进行频率调制；1路用于对PSD器件背景光产生的光电信号进行采样保持；1路用于对PSD器件脉冲光产生的光电信号进行采样保持。本实用新型还公开了光源调制方法，通过控制采样时机，获取稳定的光电信号，为后续处理电路提供正确可信的信号。本实用新型公开的系统在仪器研制期间可灵活更改，并且，具有延时可调功能，避免了错误信号的混入，进而提高测量精度。
本实用新型光电信号频率调制系统频率发生装置采样保持自准直仪测量光源后续处理电路采样时机错误信号光源调制激光光源脉冲频率频率调制延时可调仪器研制背景光可调的脉冲光占空比自准直混入延时可信灵活

[实用新型]光电经纬仪光学系统变形测试系统-CN201821544393.2有效
发明人：赵怀学;周艳;田留德;赵建科;薛勋;潘亮;胡丹丹;刘艺宁;张洁;曹昆;李坤;赛建刚;昌明 -专利权人：中国科学院西安光学精密机械研究所
申请日： 2018-09-20 - 公布日： 2019-05-31 - 主分类号： G01C1/02 文献下载
摘要：本实用新型涉及光学系统变形量测试领域，具体涉及一种光电经纬仪光学系统变形测试系统。系统仅由目标模拟器及夹持机构组成，测试时，将目标模拟器通过夹持机构固定在待测光电经纬仪上，每调整一次光电经纬仪的俯仰角度，记录一次目标脱靶量，最后通过最小二乘法拟合光电经纬仪指向精度系统误差修正曲线，旨在实现光电经纬仪在不同俯仰角下，光学系统方位和俯仰方向变形量的连续采样和高精度测量，提高光电经纬仪指向精度。
光电经纬仪光学系统变形测试系统目标模拟器俯仰夹持机构指向最小二乘法拟合系统误差修正本实用新型变形量测试高精度测量目标脱靶量连续采样变形量俯仰角经纬测试记录

[发明专利]轴线相交度测试装置及方法-CN201610625356.3有效
发明人：赵怀学;周艳;田留德;赵建科;薛勋;潘亮;胡丹丹;段亚轩;张洁;曹昆;李坤;赛建刚;昌明 -专利权人：中国科学院西安光学精密机械研究所
申请日： 2016-08-02 - 公布日： 2019-04-02 - 主分类号： G01B11/14 文献下载
摘要：本发明提供一种轴线相交度的测试方法，首先调整光电自准直仪，对准平面双面反射镜；调整自准直经纬仪瞄准平面双面反射镜十字丝像中心，记录自准直经纬仪读数；将转台水平轴按45°间隔旋转，总共旋转360°，记录自准直经纬仪读数；旋转转台，光电自准直仪监视转台垂直轴旋转180°，调整自准直经纬仪瞄准平面双面反射镜十字丝像中心，记录自准直经纬仪读数再将转台水平轴按45°间隔旋转，总共旋转360°，记录自准直经纬仪读数，根据记录的数据计算轴线相交度，本发明测试方法采用非接触式两轴相交度测试方法，测试精度高，且测量方法不受标准芯棒尺寸的限制。
轴线相交测试装置方法

[发明专利]光谱分布与亮度可任意调谐的光源及光源调谐方法-CN201710438367.5有效
发明人：李晶;李坤;薛勋;郭毅;赵建科;刘尚阔;昌明;曹昆;王争锋;张洁;胡丹丹 -专利权人：中国科学院西安光学精密机械研究所
申请日： 2017-06-12 - 公布日： 2019-01-22 - 主分类号： F21S2/00 文献下载
摘要：本发明属于光学照明领域，具体涉及一种光谱分布与亮度可任意调谐的光源及光源调谐方法。该光源包括沿光路方向依次排布的复色线光源、准直镜、调谐系统、匀光系统和监测调控系统；调谐系统包括沿光路方向依次排布的分光元件和数字微镜元件；匀光系统是由散射体或者非成像光学系统构成的；监测调控系统包括光谱辐射度计和与光谱辐射度计相连的控制计算机，控制计算机与数字微镜元件相连。本发明通过控制数字微镜元件的子镜开闭状态可以实现对光谱分布和亮度的任意调整，操作简单高效，在空间、海洋、环境及工业视觉等领域，实验室星等模拟、彩色定标、相机辐射定标、光谱仪光谱定标等方面都有着广泛的应用前景。
光谱分布亮度任意调谐光源方法

[发明专利]光电经纬仪光学系统变形测试方法及系统-CN201811100735.6在审
发明人：赵怀学;周艳;田留德;赵建科;薛勋;潘亮;胡丹丹;刘艺宁;张洁;曹昆;李坤;赛建刚;昌明 -专利权人：中国科学院西安光学精密机械研究所
申请日： 2018-09-20 - 公布日： 2019-01-11 - 主分类号： G01C1/02 文献下载
摘要：本发明涉及光学系统变形量测试领域，具体涉及一种光电经纬仪光学系统变形测试方法及系统。系统仅由目标模拟器及夹持机构组成，测试时，将目标模拟器通过夹持机构固定在待测光电经纬仪上，每调整一次光电经纬仪的俯仰角度，记录一次目标脱靶量，最后通过最小二乘法拟合光电经纬仪指向精度系统误差修正曲线，旨在实现光电经纬仪在不同俯仰角下，光学系统方位和俯仰方向变形量的连续采样和高精度测量，提高光电经纬仪指向精度。
光电经纬仪光学系统目标模拟器俯仰变形测试夹持机构指向最小二乘法拟合系统误差修正变形量测试高精度测量目标脱靶量连续采样变形量俯仰角经纬测试记录

[发明专利]矩阵自动阻抗测试仪及测试方法-CN201510870872.8有效
发明人：昌明;赵建科;曹昆;薛勋;周艳;聂申 -专利权人：中国科学院西安光学精密机械研究所
申请日： 2015-12-01 - 公布日： 2019-01-11 - 主分类号： G01R27/02 文献下载
摘要：本发明属于电学测试领域，涉及一种产品电子学阻抗特性的自动测试装置及方法。本发明提供的矩阵自动阻抗测试仪，包括测试盒、数字欧姆表，其特征在于：所述测试盒内设置有n个测试接点，每个测试接点均与数字欧姆表的正端和负端连接为测试通路；测试通路上设置有程控开关；测试仪还包括主控计算机；主控计算机内部安装有两块用于控制数字欧姆表的正负输入端口的数字接口卡；数字接口卡的输出端与所述程控开关的驱动端相连。测试人员不用像以往那样人工走查，手动记录测试数据，而只需要输入测试网表，连接被测设备，就可以把后续的测量活动交给程序自动完成，大幅提高了测试效率，测试安全性和测试准确性。
矩阵自动阻抗测试仪测试方法

[实用新型]PST测试与极弱目标模拟系统-CN201820960177.X有效
发明人：薛勋;赵建科;刘尚阔;李坤;曹昆;昌明;李晶;张洁;胡丹丹;赛建刚;王争锋;宋琦;鄂可伟;徐亮 -专利权人：中国科学院西安光学精密机械研究所
申请日： 2018-06-21 - 公布日： 2019-01-04 - 主分类号： G01C25/00 文献下载
摘要：本实用新型涉及一种PST测试与极弱目标模拟系统，系统主要包括点源透过率测试系统、极弱目标模拟系统及主控系统；将点源透过率测试与极弱目标模拟两大系统紧密的结合在一起，实现了主要组件的共用性，并通过低气压环境的构建，本实用新型将点源透过率测试、极弱目标模拟系统的真空度降低到50Pa，点源透过率的测试下限可达到10^‑15，极弱目标模拟下限可至+18Mv；较大程度的解决了环境对这两种测试系统的影响。
弱目标点源透过率模拟系统测试本实用新型测试系统低气压环境主控系统主要组件大系统共用性构建

[实用新型]一种均匀光源角均匀性测试装置-CN201820809288.0有效
发明人：昌明;赵建科;薛勋;周艳;李晶;曹昆;胡丹丹;宋琦 -专利权人：中国科学院西安光学精密机械研究所
申请日： 2018-05-28 - 公布日： 2018-12-21 - 主分类号： G01M11/02 文献下载
摘要：本实用新型属于光学测试领域，涉及一种均匀光源角均匀性测试装置，解决了现有技术存在的一套弧形导轨只能适配一种直径出射面，造成投入过高、资源浪费的问题。本实用新型的技术解决方案是：一种均匀光源角均匀性测试装置，包括X‑Y二维扫描架、旋转平台和光亮度探测器；X‑Y二维扫描架包括横板和竖板，竖板垂直设置在横板上，且竖板可沿横板轴向往复运动；旋转平台设置在竖板上，旋转平台可沿竖板轴向往复运动，还可在竖板上转动，光亮度探测器设置在旋转平台上。
竖板旋转平台均匀性测试装置均匀光源横板光亮度探测器轴向往复运动本实用新型二维扫描垂直设置光学测试弧形导轨出射面适配转动

[发明专利]一种均匀光源角均匀性测试装置及方法-CN201810521754.X在审
发明人：昌明;赵建科;薛勋;周艳;李晶;曹昆;胡丹丹;宋琦 -专利权人：中国科学院西安光学精密机械研究所
申请日： 2018-05-28 - 公布日： 2018-11-09 - 主分类号： G01M11/02 文献下载
摘要：本发明属于光学测试领域，涉及一种均匀光源角均匀性测试装置及方法，解决了现有技术存在的一套弧形导轨只能适配一种直径出射面，造成投入过高、资源浪费的问题。本发明的技术解决方案是：一种均匀光源角均匀性测试装置，包括X‑Y二维扫描架、旋转平台、光亮度探测器和控制计算机；X‑Y二维扫描架包括横板和竖板，竖板垂直设置在横板上，且竖板可沿横板轴向往复运动；旋转平台设置在竖板上，旋转平台可沿竖板轴向往复运动，还可在竖板上转动，光亮度探测器设置在旋转平台上；控制计算机控制竖板沿横板轴向、旋转平台沿竖板轴向运动的位移量及旋转平台的转动角度。本发明同时还提供了一种均匀光源角均匀性测试装置的测试方法。
竖板旋转平台均匀性测试装置均匀光源横板光亮度探测器轴向往复运动控制计算机二维扫描转动垂直设置光学测试弧形导轨轴向运动出射面位移量适配轴向测试

[发明专利]摆镜特性参数测试装置及测试方法-CN201610431205.4有效
发明人：刘尚阔;薛勋;赵建科;周艳;李坤;段亚轩;田留德;昌明;曹昆 -专利权人：中国科学院西安光学精密机械研究所
申请日： 2016-06-16 - 公布日： 2018-11-02 - 主分类号： G01M11/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种摆镜特性参数测试装置及测试方法。装置包括光源组件、显影屏、光斑中心获取系统和放置在光源组件出射光路上的摆镜；在光源组件的出射端口处安装有光阑，光阑具有多个大小不同的圆形通光孔；显影屏位于摆镜的反射光路上，能接收摆镜在各位置的反射光，摆镜的反射光在显影屏上形成光斑；光斑中心获取系统用于记录显影屏上的光斑图像及其中心坐标。方法包括步骤：1)对光源组件、显影屏和光斑中心获取系统的位置关系进行标定；2)打开光源组件，其发出的平行光经摆镜反射后在显影屏上形成光斑；3)获取显影屏上的光斑图像及其中心坐标；4)对步骤3)中所得数据处理，得到摆镜特性参数。本发明测角范围大、测量效率高。
特性参数测试装置方法