专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]具有多电极控制的高压器件-CN201680036699.4有效
  • S·R·巴尔;M·D·西曼 - 德克萨斯仪器股份有限公司
  • 2016-06-22 - 2021-11-26 - H01L27/098
  • 在所描述的示例中,高压晶体管(HVT)结构(140)使低压晶体管(LVT)(110)适于高压环境。HVT结构(140)包括漏极节点(152)、源极节点(154)、控制栅极(156)和场电极(162、164)。漏极节点(152)和源极节点(154)限定导电沟道(163、165),其中通过控制栅极(156)调节迁移的电荷。当与控制栅极(156)隔离时,场电极(162、164)被配置为响应于场电压,传播迁移的电荷。场电极(162、164)被构造和布线以防止与漏极节点(152)、源极节点(154)或控制栅极(156)中的任一个共享电荷。有利地,所隔离的场电极(162、164)使控制栅极(156)与漏极节点和源极节点(152、154)的电容最小化,使得HVT(140)可在高压环境中以较小的功率损耗和更健壮的性能进行切换。
  • 具有电极控制高压器件
  • [发明专利]一种MOSFET栅氧化层电容校准结构-CN201810800725.7有效
  • 韩晓婧;彭兴伟 - 上海华力微电子有限公司
  • 2018-07-20 - 2021-08-20 - H01L27/098
  • 本发明提出一种MOSFET栅氧化层电容校准结构,包括:有源区本体;栅极,位于所述有源区本体之上;源极和漏极,位于所述有源区本体的两端,且所述源极和所述漏极分别位于所述栅极的两侧;阱区,位于所述有源区本体和栅极外侧,所述阱区上设置有接触孔。本发明提出的MOSFET栅氧化层电容校准结构,在通常的MOSFET栅氧化层电容校准结构中保留有源区和栅极多晶硅,仅去除源漏极和栅极上的contact,可以去除包括源漏互联线对栅的寄生电容、源漏互联线对阱的寄生电容、栅上互联线对阱的寄生电容等在内的一系列寄生电容,从而进行更为精确的校准,得到更准确的MOSFET栅氧化层电容仿真模型。
  • 一种mosfet氧化电容校准结构
  • [发明专利]三端自反馈线性恒流器及其制备方法-CN201110373885.6无效
  • 李泽宏;唐文雄 - 深圳市芯威科技有限公司
  • 2011-11-22 - 2012-05-02 - H01L27/098
  • 本发明公开了一种三端自反馈线性恒流器及其制备方法,要解决的技术问题是高性价比及可靠驱动LED。本发明由场效应晶体、电阻和可调电阻构成,场效应晶体的源端同电阻的一端相连,场效应晶体的栅端连接到电阻的另一端,可调电阻与电阻并联。本发明的制备方法:制备外延层,离子注入与推结,离子注入,化学汽相淀积,多晶硅的淀积与刻蚀,刻蚀接触孔,金属的淀积与刻蚀。本发明与现有技术相比,在交流电压增加时仍保持恒流输出、达到LED阈值电压后LED导通无延迟、低电压时LED保持明亮,以及保持LED免受电压浪涌影响,在宽电压范围下可保持LED亮度恒定,且在高输入电压时保护LED,成本低,具有输出稳定的优点。
  • 反馈线性恒流器及其制备方法
  • [发明专利]半导体装置-CN200910178569.6有效
  • 相沢和也 - 三垦电气株式会社
  • 2009-09-29 - 2010-05-26 - H01L27/098
  • 本发明提供一种半导体装置,其所具有的起动电路具备出色的特性,且适于IC化。形成有在N型外延层(12)形成,并规定漏极区域(121)的P型元件分离区域(13)。在漏极区域(121)内形成基体区域(15),在基体区域(15)内形成N型源极区域(16)。在漏极区域(121)与源极区域(16)之间的沟道区域上配置栅电极(20),形成LDMOS。经由漏极区域(121)、作为栅极发挥功能的P型分离区域(13)和P型元件分离区域(13)基于对漏极区域(121)施加的电压而被反向偏置、使耗尽层延伸的沟道区域,配置JFET的源极引出层(23),形成JFET。
  • 半导体装置
  • [发明专利]点转换系统的极性切换结构-CN200810146921.3有效
  • 廖敏男 - 矽创电子股份有限公司
  • 2008-08-26 - 2009-03-18 - H01L27/098
  • 本发明是关于一种点转换系统的极性切换结构,其是由一第一晶体管与一第二晶体管皆设置于一P型井,一N型井设置于P型井内,并位于第一晶体管与第二晶体管之间,N型井包含一第三晶体管与一第四晶体管,其中,第三晶体管的一端耦接第一晶体管的一端,产生一第一输入端,第四晶体管的一端耦接第二晶体管的一端,产生一第二输入端,并且第一晶体管的另一端、第二晶体管的另一端、第三晶体管的另一端与第四晶体管的另一端相耦接,产生一输出端。如此,通过切换P型井与N型井的电压极性,以达到大范围的电压差输出的目的。
  • 转换系统极性切换结构

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