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[发明专利]解压缩电路的生成方法和装置-CN202080104733.3在审
发明人：黄宇 -专利权人：华为技术有限公司
申请日： 2020-10-28 - 公布日： 2023-06-23 - 主分类号： G01R31/3187 文献下载
摘要：一种解压缩电路的生成方法和装置，涉及IC芯片测试领域，解压缩电路的生成方法包括：根据扫描链的输入端的位置坐标确定驱动异或门的位置坐标，以及，驱动异或门与扫描链的输入端的耦合关系(S601)；根据扫描链的输入端的位置坐标确定中间异或门的位置坐标，以及，中间异或门与驱动异或门的耦合关系(S602)；根据中间异或门的位置坐标确定CA寄存器的位置坐标，以及，CA寄存器与中间异或门的耦合关系(S603)。
解压缩电路生成方法装置

[发明专利]基于弹性元件应变的嵌入式高温位移测试方法-CN202011585344.5有效
发明人：宁克焱;兰海;庞惠仁;杨玲玲;张万昊;汪银风;韩明;王志勇;金孔杰 -专利权人：中国北方车辆研究所
申请日： 2020-12-28 - 公布日： 2023-01-13 - 主分类号： G01R31/3187 文献下载
摘要：本发明属于位移测试技术领域，具体涉及一种基于弹性元件应变的嵌入式高温位移测试方法。本发明采用高温应变测试方式实现变形测试，进一步把变形转换为位移测试结果，在紧凑型制动器加压作动装置上实现高可靠性、耐高温的、对加压装置不产生附加影响的嵌入式位移测试的目的。本发明基于制动器已有弹性元件在满足原有紧凑空间布置需求的前提下，采用耐高温微型应变片的嵌入式贴片实现了大于300℃高温制动器加压作动元件的位移测试，不仅能够实现静态位移测试，而且也能实现不小于20Hz的动态位移测试。该方法和传感器对被测对象没有附加影响，尤其适用于高温、振动冲击大、布置空间紧张等随产品装车测试等状态检测、故障诊断等用途。
基于弹性元件应变嵌入式高温位移测试方法

[发明专利]一种片上电压测量电路-CN202210145202.X在审
发明人：谭晓慧;钱海涛 -专利权人：上海燧原科技有限公司
申请日： 2022-02-17 - 公布日： 2022-05-27 - 主分类号： G01R31/3187 文献下载
摘要：本发明公开了一种片上电压测量电路。片上电压测量电路包括：振荡环模块、相位采样器、相位计算器、流水寄存器和相位减法器。振荡环模块自激产生周期性的振荡信号，统计振荡环模块的振荡周期数；相位采样器在采样时钟信号的控制下，对振荡信号和振荡周期数进行采样，得到采样振荡信号和采样振荡周期数；相位计算器根据采样振荡信号和采样振荡周期数计算振荡环模块的累积相位；流水寄存器在采样时钟信号的控制下，输出振荡环模块在上一采样周期的累积相位；相位减法器根据当前累积相位和振荡环模块在上一采样周期的累积相位计算当前采样周期内振荡环模块的相位变化值；相位变化值表征片上电压。本发明可以实现对芯片内部电压准确高速的测量。
一种电压测量电路

[发明专利]用于测试雷达集成电路的方法及设备-CN202080039940.5在审
发明人： K·苏布拉杰;Z·I·帕卡尔;K·丹杜;V·杜迪亚 -专利权人：德州仪器公司
申请日： 2020-05-29 - 公布日： 2022-01-07 - 主分类号： G01R31/3187 文献下载
摘要：本发明描述用于测试雷达集成电路的方法、设备、系统及制品。雷达电路(102)包括：本地振荡器(LO)(110)；发射器(112a)，其耦合到所述LO(110)且经配置以耦合到传输网络(104)；接收器(118a)，其经配置以耦合到所述传输网络(104)；及控制器(108)，其耦合到所述LO(110)、所述发射器(112a)及所述接收器(118a)，所述控制器(108)用以致使所述LO(110)产生频率调制连续波形(FMCW)，致使所述发射器(112a)将所述FMCW调制为经调制FMCW，致使所述发射器(112a)经由所述传输网络(104)及所述接收器(118a)传输所述经调制FMCW以从所述传输网络(118a)获得接收到的FMCW，且响应于从所述接收器(118a)获得所述接收到的FMCW，基于所述接收到的FMCW产生所述雷达电路(102)的性能特性。
用于测试雷达集成电路方法设备

[发明专利]在已部署的汽车平台上执行自测的测试系统-CN201980081439.2在审
发明人： A·卡尔娃;吴珏 -专利权人：辉达公司
申请日： 2019-10-10 - 公布日： 2021-07-23 - 主分类号： G01R31/3187 文献下载
摘要：在各种示例中，提供了一种测试系统，用于在现场部署的集成电路上执行内建自测(BIST)。集成电路可以包括第一设备和第二设备，第一设备可以直接访问存储测试数据的外部存储器，第二设备可以通过第一设备间接访问外部存储器。除了提供允许第一设备和第二设备并发运行测试的机制外，硬件和软件还可以减少与运行测试序列相关联的存储器需求和运行时间，从而使得可能在部署中进行实时BIST。此外，一些实施例允许单个外部存储器映像满足不同的SKU配置。
部署汽车平台执行自测测试系统

[发明专利]用于∑-△调制器的内建自测试电路-CN201610491425.6有效
发明人：方舟;黄松;梁超;刘毅峰;张旺根 -专利权人：恩智浦美国有限公司
申请日： 2016-06-29 - 公布日： 2021-02-05 - 主分类号： G01R31/3187 文献下载
摘要：一种用于∑‑△调制器的内建自测试(BIST)电路，与处理器和∑‑△调制器(SDM)连接并且包括求均值电路、参考信号发生器和比较器。求均值电路计算SDM输出信号的一组位信号之和在一段时间内的均值，并生成均值SDM信号。参考信号发生器基于SDM输入信号来生成参考SDM信号。比较器将均值SDM和参考SDM信号的电压电平与阈值进行比较，并且基于该比较而生成测试输出信号。
用于调制器测试电路

[实用新型]一种高速高增益放大器的内部自测电路-CN202020284735.2有效
发明人：李俊;夏建宝;危长明;陈良生;刘勋;罗志国 -专利权人：上海胤祺集成电路有限公司
申请日： 2020-03-10 - 公布日： 2020-11-13 - 主分类号： G01R31/3187 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种高速高增益放大器的内部自测电路，包括单端信号转差分信号电路，差分满摆幅电路转差分可调摆幅电路，可调偏置电流控制电路，所述单端信号转差分信号电路采用两路反相器级联的架构且差分输出端加上锁存电路来对齐上升下降沿口，所述差分满摆幅电路转差分可调摆幅电路采用两级相同的电流模式逻辑电路，所述差分满摆幅电路转差分可调摆幅电路的第一级先将满摆幅信号缩小，所述差分满摆幅电路转差分可调摆幅电路的第二级用来产生需要的可调摆幅信号，所述可调偏置电流控制电路采用控制信号控制不同电流串的打开和关断。本实用新型，精度很高，成本很小的内部自检电路测试方案，可以很好解决片外测试精度不高，成本昂贵的问题。
一种高速增益放大器内部自测电路

[发明专利]具有低功耗扫描触发器的集成电路-CN201410711767.5有效
发明人：陆思安;王浩 -专利权人：恩智浦美国有限公司
申请日： 2014-09-29 - 公布日： 2019-11-08 - 主分类号： G01R31/3187 文献下载
摘要：本发明涉及具有低功耗扫描触发器的集成电路。一种扫描‑可测试集成电路，包括第一触发器和第二触发器。第一触发器包括第一锁存器和第二锁存器，以及第二触发器包括第三锁存器和第四锁存器以及逻辑电路。在扫描测试的扫描‑移位模式期间，第一触发器将测试模板的第一比特移入第二触发器。接着第一触发器将测试模板的第二比特移入第二触发器。当第一比特和第二比特的逻辑状态相同时，逻辑电路将提供给第三锁存器的时钟信号失效，其中第三锁存器是主锁存器。第三锁存器和第四锁存器的输出端子保持在与第一比特相对应的逻辑状态，由此减小功率损耗。
具有功耗扫描触发器集成电路

[发明专利]可于异常状态下进行调试的系统芯片及其调试方法-CN201510018017.4有效
发明人：钱阔;胡德才;杨睿 -专利权人：扬智科技股份有限公司
申请日： 2015-01-14 - 公布日： 2019-03-05 - 主分类号： G01R31/3187 文献下载
摘要：一种可于异常状态下进行调试的系统芯片及其调试方法。切换单元经由第一路径连接功能模块并经由第二路径连接至处理器的调试连接接口。引脚单元经由第三路径连接切换单元。控制模块接收输入数据并输出选择信号至切换单元，并且依据输入数据来决定选择信号的电平。切换单元根据选择信号而选择将第三路径导通至第一路径与第二路径其中之一。当第三路径导通至第二路径，调试平台经由调试连接接口对处理器进行调试程序。
异常状态进行调试系统芯片及其方法

[发明专利]用于提供输出参数的装置和方法以及传感器设备-CN201510895391.2有效
发明人： A·莫里奇;H·维奇尼希 -专利权人：英飞凌科技股份有限公司
申请日： 2015-10-14 - 公布日： 2018-12-04 - 主分类号： G01R31/3187 文献下载
摘要：本发明涉及用于提供输出参数的装置和方法以及传感器设备。一种用于提供输出参数的装置包括配置为重复地确定输出参数值的输出参数发生器电路。输出参数发生器电路包括强制用于确定输出参数值的至少一个电路块。此外，该装置包括：输出接口电路，配置为重复地传输输出参数到接收器；以及测试电路，配置为重复地测试输出参数发生器电路的至少一个强制电路块的基本功能。输出参数发生器电路的至少一个强制电路块在基本功能测试期间不可用于确定输出参数值。
输出参数发生器电路电路块传感器设备输出重复配置基本功能测试输出接口电路接收器测试电路基本功能测试传输

[发明专利]用于3D装配缺陷检测的3D内置自测机制的系统及方法-CN201310757204.5有效
发明人：罗祥宝;林翠佩 -专利权人：奥特拉有限公司
申请日： 2013-12-30 - 公布日： 2018-10-19 - 主分类号： G01R31/3187 文献下载
摘要：本发明涉及用于3D装配缺陷检测的3D内置自测系统。提供了用于改进3D装配缺陷检测的内置自测(BIST)机制的技术和机构。根据本公开的实施方式，所描述的机构和技术可以起到检测垂直连接3D器件中不同层的互连中的缺陷的作用，也起到检测3D集成电路的2D层中的缺陷的作用。另外，根据本公开的实施方式，提供技术和机构用于不仅确定集成电路中给定接口组中是否存在缺陷，而且确定缺陷可能存在缺陷的具体接口。
用于装配缺陷检测内置自测系统

[发明专利]片上测量电路及测量方法-CN201410522925.2有效
发明人：杨梁;郑睿 -专利权人：龙芯中科技术有限公司
申请日： 2014-09-30 - 公布日： 2018-09-14 - 主分类号： G01R31/3187 文献下载
摘要：本发明实施例提供一种片上测量电路及测量方法，该电路包括：采样单元和统计单元；所述采样单元，用于对周期性的待测信号进行采样，得到采样信号；所述统计单元，用于统计所述采样单元采样得到的所述采样信号的周期性电平跳变的分布信息。本发明中，将待测信号进行采样得到采样信号后，统计采样信号的周期性电平跳变的分布信息，可以跟踪和捕捉到片上电路中的周期性信号，从而得到片上电路中关键信号的时间不确定性的量化结果，可以在芯片设计以及制造过程中作为参考，以便确定出更合适的裕量。
测量电路测量方法

[发明专利]BIST的测试电路和测试方法-CN201410854937.5有效
发明人：邹定锴 -专利权人：南京天易合芯电子有限公司
申请日： 2014-12-31 - 公布日： 2018-07-13 - 主分类号： G01R31/3187 文献下载
摘要：本发明实施例提供一种BIST的测试电路和测试方法，该测试电路包括：待测试电路、驱动电路、处理电路和计算电路；待测试电路的输入端与驱动电路的输出端连接；待测试电路的输出端与处理电路的输入端连接；处理电路的输出端与计算电路的输入端连接；所述驱动电路用于驱动所述待测试电路；所述处理电路用于消除所述待测试电路发送的数字信号的直流失调，并对消除直流失调后的所述数字信号进行滤波和陷波处理，获取测试信号和有效噪声信号；所述计算电路用于根据所述测试信号和所述有效噪声信号计算获取所述待测试电路的性能指标。通过内部集成处理电路和计算电路，直接获取需要的待测试电路的性能指标，有效提高测试待测试电路的效率。
待测试电路处理电路计算电路测试电路驱动电路输入端连接测试信号数字信号有效噪声直流失调输出端测试输出端连接内部集成信号计算直接获取输入端滤波陷波发送驱动

[发明专利]芯片-CN201410625284.3有效
发明人：王金城 -专利权人：三星半导体（中国）研究开发有限公司;三星电子株式会社
申请日： 2014-11-07 - 公布日： 2018-03-27 - 主分类号： G01R31/3187 文献下载
摘要：本发明提供一种芯片，所述芯片包括用于对芯片进行测试的测试模块，其特征在于，所述芯片还包括加密电路、测试控制电路，其中，加密电路从外部接收输入密码，将接收的输入密码与预定密码进行比较，并根据比较结果输出测试控制信号到测试控制电路，测试控制电路接收测试模块选择信号，并基于测试模块选择信号和测试控制信号输出测试信号到测试模块，以控制对芯片的测试。
芯片

[发明专利]嵌入式测试器-CN201480004919.6有效
发明人：乔舒亚·马松·费里 -专利权人：泰拉丁公司
申请日： 2014-01-07 - 公布日： 2018-02-27 - 主分类号： G01R31/3187 文献下载
摘要：一种待测设备上用于测试待测设备的部件电路的测试器，所述测试器包括逻辑器，所述逻辑器通过固件配置以实施测试电路，所述测试电路包括协议发生器，所述协议发生器可被配置为生成协议；模式发生器，所述模式发生器可被配置为提供可根据所述协议中的一个或多个进行驱动的测试模式；和系统控制器，所述系统控制器用于响应于程序输入来选择用以测试所述部件电路的测试模式和协议。
嵌入式测试

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