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[发明专利]在已部署的汽车平台上执行自测的测试系统-CN201980081439.2在审
发明人： A·卡尔娃;吴珏 -专利权人：辉达公司
申请日： 2019-10-10 - 公布日： 2021-07-23 - 主分类号： G01R31/3187 文献下载
摘要：在各种示例中，提供了一种测试系统，用于在现场部署的集成电路上执行内建自测(BIST)。集成电路可以包括第一设备和第二设备，第一设备可以直接访问存储测试数据的外部存储器，第二设备可以通过第一设备间接访问外部存储器。除了提供允许第一设备和第二设备并发运行测试的机制外，硬件和软件还可以减少与运行测试序列相关联的存储器需求和运行时间，从而使得可能在部署中进行实时BIST。此外，一些实施例允许单个外部存储器映像满足不同的SKU配置。
部署汽车平台执行自测测试系统

[发明专利]用于在汽车应用部署中执行内建自测的测试系统-CN201980072487.5在审
发明人： A·卡尔娃;吴珏 -专利权人：辉达公司
申请日： 2019-08-30 - 公布日： 2021-06-11 - 主分类号： G01R31/3185 文献下载
摘要：在各个示例中，提供了一种用于根据.JTAG和IEEE 1500在现场部署的芯片上执行内建自测(BIST)的测试系统。硬件和软件选择性地连接到IEEE 1500串行接口上，用于在芯片在部署中(例如在自动驾驶汽车中)使用时运行BIST。除了提供一种连接到串行接口上的机制之外，硬件和软件还可以减少与运行测试序列相关联的内存需求和运行时间，从而使BIST在部署中成为可能。此外，一些实施例包括被配置为在运行BIST之前存储时钟、电源和输入/输出的功能状态的组件，这允许在BIST之后恢复功能状态。
用于汽车应用部署执行自测测试系统