专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]一种晶体结构数据库构建方法及结构搜索方法-CN202010488751.8有效
  • 高森;杜云飞;陈品;颜辉;莫晴;许泽鑫 - 中山大学
  • 2020-06-02 - 2022-11-08 - G16C20/90
  • 本发明涉及晶体材料结构数据库的构建领域,更具体地,涉及一种晶体结构数据库构建方法及结构搜索方法,构建方法包括以下步骤:步骤S1:从晶体结构文件中获取初始晶体结构信息;步骤S2:从数据库中获取比较集;所述比较集为数据库查重后的晶体结构信息的集合;步骤S3:将初始晶体结构信息与比较集中的晶体结构信息进行匹配;若比较集中存在与初始晶体结构相同的晶体结构,将初始晶体结构标记为相似结构,否则根据初始晶体结构信息计算出初始晶体指纹后,将初始晶体结构信息和初始晶体指纹存入数据库本发明能有效地规避了常规方法在材料分析中的误差,避免了传统晶体分类方法中数据库产生的晶体数据的冗余。
  • 一种晶体结构数据库构建方法结构搜索
  • [发明专利]一种原子点缺陷的制备方法和具有原子点缺陷的结构-CN202211397554.0在审
  • 李倩;康健彬;姚尧;苏娟 - 中国工程物理研究院电子工程研究所
  • 2022-11-09 - 2023-02-03 - C23C16/56
  • 本申请公开了一种本申请所提供的原子点缺陷的制备方法,包括:准备衬底;在所述衬底的上表面生长非晶体结构的薄膜,所述非晶体结构的薄膜在所述衬底的所述上表面呈岛状;对所述非晶体结构的薄膜进行退火处理,在所述非晶体结构的薄膜中形成原子点缺陷本申请中在制备原子点缺陷时,通过在准备好的衬底上生长非晶体结构的薄膜,由于薄膜是非晶体结构的,不需要考虑薄膜的晶体生长质量,非晶体结构的薄膜中不存在原子点缺陷,通过对非晶体结构的薄膜进行退火,激活非晶体结构的薄膜中的原子点缺陷,以及在非晶体结构的薄膜中形成原子点缺陷,从而得到原子点缺陷,本申请的制备方法工艺简单,制备难度低。本申请还提供一种具有原子点缺陷的结构
  • 一种原子点缺陷制备方法具有结构
  • [发明专利]晶体转晶路径的搜索方法、转晶判断方法及装置-CN202111501120.6在审
  • 刘聪聪;金颖滴 - 上海智药科技有限公司
  • 2021-12-09 - 2022-04-29 - G16C10/00
  • 本申请公开了一种晶体转晶路径的搜索方法、转晶判断方法及装置,该方法包括:将同一物质的第一晶体结构和第二晶体结构转换至目标空间群;在所述目标晶体空间群下,获取所述第一晶体结构中所有分子和所述第二晶体结构中所有分子之间的至少一种匹配关系;确定至少一种所述匹配关系下的所述第一晶体结构和所述第二晶体结构之间的低能路径;将所述低能路径确定为第一晶体结构与第二晶体结构之间的转晶路径。通过上述方式,本申请能够实现晶体转晶路径的高效搜索,提高判断有机化合物不同晶型之间能否发生相变的效率。
  • 晶体路径搜索方法判断装置
  • [发明专利]一种半导体器件制备方法和半导体器件-CN202310225159.2在审
  • 李果;杜明峰;李杰;王学毅 - 联合微电子中心有限责任公司
  • 2023-03-10 - 2023-06-30 - H10B10/00
  • 本发明提供半导体器件制备方法和半导体器件,所述方法包括:在半导体衬底上制备第一上拉晶体结构、第二上拉晶体结构、第一下拉晶体结构、第二下拉晶体结构、第一存取晶体结构和第二存取晶体结构;在所述第一上拉晶体结构和所述第二上拉晶体结构之间形成第一伪介电阻隔墙;在所述第一上拉晶体结构上制备第一外延结构,以及在所述第二上拉晶体结构上制备第二外延结构,得到所述半导体器件;本发明使第一外延结构和第二外延结构之间存在用于隔离的第一伪介电阻隔墙,因此在增大第一外延结构和第二外延结构的侧向生长体积时,不会存在外延结构相互连接影响半导体的性能,可以在提高半导体器件效能的同时还能满足性能要求。
  • 一种半导体器件制备方法
  • [发明专利]一种材料晶体结构特征的自动化获取方法-CN202010287897.6在审
  • 杨小渝 - 北京迈高材云科技有限公司
  • 2020-04-14 - 2020-07-17 - G16C60/00
  • 本发明公开了一种材料晶体结构特征的自动化获取方法,包括:A、获取特定材料性质数据作为训练数据集的步骤;B、从所述训练数据集中最大化的提取材料特征构建基础数据特征库的步骤;C、提取有效特征,即与目标值关联度较高特征的步骤;D、将所述有效特征进行组合的步骤;E、将筛选出的晶体结构特征,以及各种晶体结构特征组合,即最合适的晶体结构特征,作为最终用于描述特定化合物类或特定材料体系的晶体结构特征。采用本发明的方法,无需领域知识,就能从给定的晶体结构‑性能训练数据集中,高效提取最合适的晶体结构特征,以解决构建QSPR模型及预测晶体结构的特定目标性质的关键问题。
  • 一种材料晶体结构特征自动化获取方法
  • [发明专利]一种材料的晶体结构搜索方法及装置-CN202111070922.6在审
  • 王宗国;王彦棡;刘志威;郭佳龙;王珏;李杨 - 中国科学院计算机网络信息中心
  • 2021-09-13 - 2021-11-30 - G06F30/27
  • 本申请涉及一种材料的晶体结构搜索方法包括:接收待搜索材料的成分信息及目标性质信息;基于待搜索材料的成分信息和遗传算法确定若干初始化结构种子;对若干初始化结构种子进行遗传搜索;将当前轮次遗传搜索得到的晶体结构输入预训练的材料目标性质预测模型得到当前轮次遗传搜索得到的晶体结构对应的目标性质;基于当前轮次搜索得到的晶体结构和当前轮次遗传搜索得到的晶体结构对应的目标性质进行下一轮次遗传搜索得到下一轮次遗传搜索的晶体结构;基于目标性质信息筛选第N轮次遗传搜索得到的晶体结构确定待搜索材料的目标晶体结构本申请基于遗传算法和机器学习相结合的方法,在有限的资源和时间内,即可快速获取所需材料的稳定晶体结构
  • 一种材料晶体结构搜索方法装置
  • [发明专利]有机晶体结构预测方法、装置、设备及存储介质-CN202310008531.4在审
  • 欧阳德方;叶祝一帆;王南男 - 澳门大学
  • 2023-01-04 - 2023-05-16 - G16C20/30
  • 本申请提供了一种有机晶体结构预测方法、装置、设备及存储介质,其中,该方法包括:根据化合物的条件向量生成至少一个有机晶体结构,确定各有机晶体结构的计算指标参数,并根据化合物的分子结构确定预测指标参数,最后,根据计算指标参数、预测指标参数、计算与预测的指标参数差值阈值以及各中间有机晶体结构,得到稳定有机晶体结构及其排序。通过生成模型进行潜在的有机晶体结构生成,可以探索到更多的有机晶体结构,极大的降低了计算的复杂度。通过判别模型进行有机晶体结构的筛选,可以有效的降低计算量。本申请耦合生成模型和判别模型用于有机晶体结构预测,在确保预测精度的前提下,显著地降低了计算的复杂度,具备很高的实用性。
  • 有机晶体结构预测方法装置设备存储介质
  • [发明专利]完全禁带光子晶体结构、其制备方法及一种发光二极管-CN201210532521.2无效
  • 张雄;郭浩;许洁;崔一平 - 东南大学
  • 2012-12-11 - 2013-04-10 - H01L33/16
  • 本发明公开了一种完全禁带光子晶体结构,包括位于下层的空气孔型光子晶体结构和位于上层的介质柱型光子晶体,空气孔型光子晶体结构和介质柱型光子晶体结构均是由两种或两种以上介电常数的介质材料在平面上呈周期性排列成的阵列,介质柱型光子晶体结构的介质材料对应设置在空气孔型光子晶体结构的介质材料的上表面。本发明还公开了这种光子晶体结构的制备方法,以及一种采用该光子晶体结构的发光二极管。本发明光子晶体结构在LED发光波段实现完全光子禁带特性,极大地提高LED的出光效率,本发明可独立自由调节光子晶体结构参数,拓展了在LED领域中的应用价值;有效地释放晶格失配所产生的应力,进而获得更高质量的氮化镓基外延薄膜
  • 完全光子晶体结构制备方法一种发光二极管
  • [发明专利]重结晶方法-CN00811242.8无效
  • 韦恩·C·黑曾;戴尔李·JR·德纳姆;鲁道夫·普鲁斯日科;戴维·R·鲍曼 - 环境工程公司
  • 2000-08-04 - 2002-09-11 - C30B17/00
  • 本发明提供一种制备多晶型化合物的第一晶体结构晶体的方法,它是通过在一定条件下,其中第一晶体结构的形成是有利的且不蒸发或温度不改变,将第二晶体结构的化合物引入化合物的饱和盐溶液中而实现。由于第二晶体结构的溶解,盐溶液成为过饱和的,这导致了通过形成第一晶体结构晶体消除过饱和。此方法包括控制过饱和及它的消除以获得第一晶体结构的现有晶体的生长而不是成核作用和形成新晶体。根据大小分离的基础,将所得的晶体与不溶的杂质分离。
  • 重结晶方法

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