[实用新型]一种半导体器件用封装结构有效

专利信息
申请号: 202221292209.6 申请日: 2022-05-23
公开(公告)号: CN217405415U 公开(公告)日: 2022-09-09
发明(设计)人: 詹鑫源 申请(专利权)人: 湖北方晶电子科技有限责任公司
主分类号: H01L23/367 分类号: H01L23/367;H01L23/373;H01L23/31
代理公司: 无锡智睿风行知识产权代理事务所(普通合伙) 32631 代理人: 凤婷
地址: 443600 湖北省*** 国省代码: 湖北;42
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摘要:
搜索关键词: 一种 半导体器件 封装 结构
【权利要求书】:

1.一种半导体器件用封装结构,包括外壳和位于外壳内部的芯片,其特征在于:所述外壳由上外壳(2)和位于上外壳(2)下方的下外壳(1)构成,且上外壳(2)通过连接框(13)与下外壳(1)连接,所述连接框(13)顶部的两侧均开设有一组散热凹槽(6),每组所述散热凹槽(6)的内部均插接有导热片(7),每组所述导热片(7)的一端与一个吸热片(8)一侧连接,每组所述导热片(7)的另一端均固定连接有连接片(10),两组所述连接片(10)的自由端均与散热片(11)对应的侧边连接,两个所述吸热片(8)靠近芯片的一侧均设置有多个吸热凸体(9),所述散热片(11)靠近上外壳(2)的一侧均设置有多个散热凸体(12)。

2.根据权利要求1所述的一种半导体器件用封装结构,其特征在于:所述芯片由内芯(3)和与内芯(3)侧边连接的两组接线脚(4)构成,所述连接框(13)底部的两侧均开设有一组接线凹槽(5),所述下外壳(1)在与每个接线凹槽(5)位置相对应的部位均开设有一个通槽,且每个通槽的内部尺寸与对应接线凹槽(5)的内部尺寸相同,每个通槽与对应接线凹槽(5)构成一个矩形槽,每个所述接线脚(4)的一端穿过对应的矩形槽。

3.根据权利要求1所述的一种半导体器件用封装结构,其特征在于:所述连接框(13)通过焊接方式与下外壳(1)和上外壳(2)进行连接。

4.根据权利要求1所述的一种半导体器件用封装结构,其特征在于:每个所述散热凹槽(6)的内部均填充有导热硅脂。

5.根据权利要求1所述的一种半导体器件用封装结构,其特征在于:每组所述导热片(7)的数量至少设置为五个。

6.根据权利要求1所述的一种半导体器件用封装结构,其特征在于:每个所述导热片(7)的一端与对应连接片(10)的一端通过焊接方式连接,同一侧的多个导热片(7)的另一端与对应吸热片(8)的一侧通过焊接方式连接,同一侧的多个连接片(10)的另一端通过焊接方式与散热片(11)对应的侧边连接。

7.根据权利要求2所述的一种半导体器件用封装结构,其特征在于:每个所述矩形槽的内部均填充有导热硅脂。

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