[发明专利]一种封装结构及封装方法在审
申请号: | 202211130406.2 | 申请日: | 2022-09-16 |
公开(公告)号: | CN115440692A | 公开(公告)日: | 2022-12-06 |
发明(设计)人: | 吕颖义 | 申请(专利权)人: | 西安紫光国芯半导体有限公司 |
主分类号: | H01L23/49 | 分类号: | H01L23/49;H01L21/60 |
代理公司: | 深圳市威世博知识产权代理事务所(普通合伙) 44280 | 代理人: | 强珍妮 |
地址: | 710075 陕西省西安*** | 国省代码: | 陕西;61 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 封装 结构 方法 | ||
1.一种封装结构,其特征在于,所述封装结构包括:
层叠设置的至少两个芯片;
封装层,设置于顶层芯片远离其他芯片的一侧,其中,所述封装层远离所述顶层芯片的一侧设置有焊盘;
除顶层芯片外的其他芯片包括:第一类信号线和第二类信号线,所述第一类信号线穿过所有所述芯片,分别与各芯片以及所述焊盘连接;所述第二类信号线与所述焊盘连接,且所述第二类信号线不穿过所述芯片。
2.根据权利要求1所述的封装结构,其特征在于,
所述第二类信号线从除所述顶层芯片外的其他芯片引出,通过各所述芯片不重叠的位置延伸到所述焊盘,以与所述焊盘连接。
3.根据权利要求1所述的封装结构,其特征在于,
所述顶层芯片或/和至少部分中间层的芯片的设定位置设置有通孔,所述第二类信号线从除所述顶层芯片外的其他芯片引出,穿过所述通孔,与所述焊盘连接。
4.根据权利要求3所述的封装结构,其特征在于,
各所述芯片的通孔沿所述芯片堆叠方向的截面为阶梯状。
5.根据权利要求1~4任一项所述的封装结构,其特征在于,所述第一类信号线、所述第二类信号线贯穿所述封装层。
6.根据权利要求1所述的封装结构,其特征在于,
所述封装结构还包括连接层,所述连接层设置于各所述芯片之间。
7.根据权利要求6任一项所述的封装结构,其特征在于,
所述连接层中还设置有多个重分布线,所述第一类信号线通过所述重分布线穿过所有所述芯片,所述第二类信号线通过所述重分布线从所述底层芯片引出。
8.一种封装方法,其特征在于,所述封装方法包括:
制备至少两个芯片;
制备第一类信号线、第二类信号线,其中,所述第一类信号线穿过所有所述芯片,以分别与各芯片连接,且所述第二类信号线不穿过所述芯片;
在顶层芯片远离其他芯片一侧制作封装层,所述封装层上制作有多个焊盘;
将所述第一类信号线、所述第二类信号线贯穿所述封装层,与所述焊盘连接。
9.根据权利要求8所述的封装方法,其特征在于,在所述将所述第一类信号线、所述第二类信号线贯穿所述封装层,与所述焊盘连接的步骤中,包括:
将所述第二类信号线从除所述顶层芯片外的其他芯片引出;
引出的所述第二类信号线通过各所述芯片不重叠的位置,贯穿所述封装层,与所述焊盘连接。
10.根据权利要求8所述的封装方法,其特征在于,在所述将所述第一类信号线、所述第二类信号线贯穿所述封装层,与所述焊盘连接的步骤中,包括:
在所述顶层芯片或/和至少部分中间层的芯片的设定位置制作通孔;
将所述第二类信号线从除所述顶层芯片外的其他芯片引出后,穿过所述通孔,并贯穿所述封装层,与所述焊盘连接。
11.根据权利要求8所述的封装方法,其特征在于,所述制备至少两个芯片的步骤之后,所述制备第一类信号线、第二类信号线的步骤之前,还包括:
制作至少一层连接层;
将所述连接层设置于各所述芯片之间。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于西安紫光国芯半导体有限公司,未经西安紫光国芯半导体有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202211130406.2/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。