[发明专利]自组装InGaN量子点及其制备方法在审

专利信息
申请号: 202210672225.6 申请日: 2022-06-14
公开(公告)号: CN115020557A 公开(公告)日: 2022-09-06
发明(设计)人: 杨文献;陆书龙;张雪;金山;邱海兵;魏铁石;顾颖;张鹏 申请(专利权)人: 中国科学院苏州纳米技术与纳米仿生研究所
主分类号: H01L33/06 分类号: H01L33/06;H01L33/00;H01S5/343
代理公司: 苏州三英知识产权代理有限公司 32412 代理人: 周仁青
地址: 215123 江苏*** 国省代码: 江苏;32
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 组装 ingan 量子 及其 制备 方法
【说明书】:

发明公开了一种自组装InGaN量子点及其制备方法,所述制备方法包括:S1、基于分子束外延工艺,持续通入In源、Ga源及N源,在衬底上外延生长InGaN浸润层;S2、基于分子束外延工艺,持续通入In源及Ga源,周期性通入和/或中断N源,在InGaN浸润层上进行InGaN量子点的成核及生长。本发明采用两步生长法实现InGaN量子点的自组装生长,相对于S‑K模式直接生长或中断生长法,本发明对InGaN量子点生长动力学过程有更强的调控能力,一方面有利于促进In原子并入,拓展发光波长,另一方面可以改善量子点的微观形貌,提高其密度,以及尺寸和分布的均匀性。

技术领域

本发明属于半导体材料技术领域,具体涉及一种自组装InGaN量子点及其制备方法。

背景技术

自InGaN蓝光发光二极管(LED)被发明以来,GaN基发光二极管在固态照明、新型显示、可见光通信等领域获得了广泛应用,其有源区一般采用InGaN/GaN多量子阱结构。但是,随着In组分的增加,InGaN材料中位错密度会增加,制备更为困难;另外异质结构中存在很强的极化电场,导致能带倾斜,造成电子空穴波函数的空间分离,波函数交叠量减少,引起发光效率降低,即量子限制斯塔克效应(QCSE),这极大地限制了绿光甚至红光器件的发光性能。

InGaN量子点作为一种零维材料,可以通过释放外延层中的应力而降低位错密度,并且能够减小InGaN/GaN异质结构中的压电极化而显著抑制QCSE的影响,因此InGaN量子点及异质结构具有更高的晶体质量,更强的发光性能,更短的载流子寿命,有望克服传统InGaN量子阱器件所面临的挑战,在高效三基色Mini/Micro-LED、激光器和可见光探测器等器件有广泛的应用潜力,在照明、显示、可见光通信、生物医疗等领域有重要应用价值。

通常InGaN量子点采用Stranski-Krastanov(S-K)模式进行自组织生长,主要包括三个步骤,首先会形成一层很薄的二维外延层,称为浸润层,随着厚度的增加,外延层中的晶格应变能会积累,当超过一定厚度时发生弹性弛豫形成三维岛,即量子点结构形成。目前,现有技术中提出一种中断生长方法,即在生长InGaN量子点的过程中,间隔性同时关闭In、Ga和N源一段时间(通常是十几秒),随后同时打开三个源,以此反复,来生长InGaN量子点。

然而,基于S-K模式生长方法,InGaN量子点的尺寸和分布具有很大的随机性,并且由于应力效应对In的并入有一定的抑制作用,因此很难获得高质量的高In组分InGaN量子点。采用时间中断生长方法,主要是通过改变中断时间这一变量,对量子点生长的调控能力较弱,这一方法虽然对量子点的微观结构和光学性质都有所提高,但此方法制备的InGaN量子点密度比较低,并且量子点的尺寸、分布均匀性依然较差,即难以获得高发光效率器件所需要的高质量、高密度的InGaN量子点。

因此,针对上述技术问题,有必要提供一种自组装InGaN量子点及其制备方法。

发明内容

有鉴于此,本发明的目的在于提供一种自组装InGaN量子点及其制备方法。

为了实现上述目的,本发明一实施例提供的技术方案如下:

一种自组装InGaN量子点的制备方法,所述制备方法包括:

S1、基于分子束外延工艺,持续通入In源、Ga源及N源,在衬底上外延生长InGaN浸润层;

S2、基于分子束外延工艺,持续通入In源及Ga源,周期性通入和/或中断N源,在InGaN浸润层上进行InGaN量子点的成核及生长。

一实施例中,所述步骤S1和/或步骤S2中,In源的束流等效压强为1×109~9×109Torr,Ga源的束流等效压强为1×109~9×109Torr,N源的流量为0.5~3.0sccm,N源的等离子激发功率为150~500W。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院苏州纳米技术与纳米仿生研究所,未经中国科学院苏州纳米技术与纳米仿生研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202210672225.6/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top