[发明专利]具有InGaN层的半导体器件有效

专利信息
申请号: 201010508579.4 申请日: 2010-10-13
公开(公告)号: CN102088163A 公开(公告)日: 2011-06-08
发明(设计)人: F·勒泰特 申请(专利权)人: S.O.I.TEC绝缘体上硅技术公司
主分类号: H01S5/183 分类号: H01S5/183;H01S5/187;H01S5/343
代理公司: 北京戈程知识产权代理有限公司 11314 代理人: 程伟;王锦阳
地址: 法国*** 国省代码: 法国;FR
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摘要: 发明涉及具有InGaN层的半导体器件。本发明还涉及一种制造垂直光电结构的方法,包括以下步骤:a)提供第一衬底和形成在第一衬底上的InGaN晶种层的堆叠;b)在InGaN晶种层上生长InGaN层,以便获得衬底上InGaN结构;c)形成覆盖InGaN层的表面的第一反光镜层;d)分离第一衬底;以及e)形成覆盖InGaN的相对表面的第二反光镜层。
搜索关键词: 具有 ingan 半导体器件
【主权项】:
一种制造垂直光电结构的方法,包括以下步骤:a)提供第一衬底(1)和形成在所述第一衬底(1)上的InGaN晶种层(3)的堆叠;b)在所述InGaN晶种层(3)上生长InGaN层(4),以便获得衬底上InGaN结构;c)形成覆盖InGaN层(4)的表面的第一反光镜层(6);d)分离第一衬底(1);以及e)形成覆盖InGaN(4)的相对表面的第二反光镜层(7)。
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  • 一种垂直腔面发射激光器(即,VCSEL)可包括:形成具有选定的周期、深度和占空因数的光栅结构的至少一个层,其中,所述光栅结构的周期、深度和占空因数配置为实现:大于VCSEL的阈值效率水平,小于由与光栅结构相关的高阶衍射所带来的功率损失引起的阈值电流增加,以及大于VCSEL的发射波长处的阈值偏振选择。本发明还涉及一种垂直腔面发射激光器的高效混合光栅以及一种光学系统。
  • 一种分布布拉格反射镜的制备方法及垂直腔面发射激光器-201910471847.0
  • 赵勇明;杨国文;张艳春;赵卫东 - 度亘激光技术(苏州)有限公司
  • 2019-05-31 - 2019-08-23 - H01S5/183
  • 本发明涉及半导体激光器技术领域,具体公开一种分布布拉格反射镜的制备方法及垂直腔面发射激光器,其中,方法包括:衬底;依次在所述衬底上交替生长分布布拉格反射镜的第一折射率层以及第二折射率层;其中,所述衬底的晶格常数位于所述第一折射率层的晶格常数与所述第二折射率层的晶格常数之间。本发明通过采用晶格常数位于第一折射率层与第二折射率层的晶格常数之间的衬底,使得生长在衬底上的第一折射率层以及第二折射率层的应力相互抵消,即采用应变补偿的方式消除因晶格失配产生的应力,实现无应变分布布拉格反射镜的生长,避免外延片出现翘曲的问题。
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