[发明专利]一种基于级联方案的CV-QKD残余误码分步消除的方法与装置在审

专利信息
申请号: 202210517045.0 申请日: 2022-05-13
公开(公告)号: CN114884519A 公开(公告)日: 2022-08-09
发明(设计)人: 李扬;周创;徐兵杰;黄伟;马荔;杨杰;罗钰杰;张帅;胡金龙;吴梅;张亮亮 申请(专利权)人: 中国电子科技集团公司第三十研究所
主分类号: H03M13/11 分类号: H03M13/11
代理公司: 成都九鼎天元知识产权代理有限公司 51214 代理人: 王会改
地址: 610000 *** 国省代码: 四川;51
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摘要:
搜索关键词: 一种 基于 级联 方案 cv qkd 残余 分步 消除 方法 装置
【权利要求书】:

1.一种基于级联方案的CV-QKD残余误码分步消除的装置,其特征在于,包括N个级联连接的残余误码消除单元,N为正整数;其中,第一级残余误码消除单元用于残余误码的第一次消除,第i级残余误码消除单元用于残余误码的第i次消除,i∈[2,N]。

2.根据权利要求1所述的装置,其特征在于,所述第i级残余误码消除单元设置的第i个门限值小于第i-1级残余误码消除单元设置的第i-1个门限值。

3.根据权利要求1所述的装置,其特征在于,所述第一级残余误码消除单元与所述第i级残余误码消除单元的结构相同。

4.根据权利要求1-3中任一项所述的装置,其特征在于,所述第一级残余误码消除单元设置在CV-QKD系统中的误码纠错模块后;所述第一级残余误码消除单元包括:

检验矩阵存储模块,用于存储发送端校验矩阵;

LLR值存储模块,用于接收并存储译码纠错模块输出的码元比特的LLR值;

错误比特列下标集合生成模块,将LLR值存储模块存储的LLR值与设定的门限做对比,其中小于门限值的LLR值对应的列下标构成标识错误比特所在位置的集合e;然后根据集合e确定不需要纠错的比特对应的列下标集合e';同时还根据接收错误比特纠错模块的结果对集合e进行更新;

校正子计算模块,用于根据校验矩阵存储模块中的校验矩阵,计算错误比特列下标集合生成模块中最新的集合e以及集合e'对应的校正子;

纠错校正子计算模块,用于根据发送端校正子以及校正子计算模块中e'对应的校正子得到用于错误比特纠正的校正子;

矩阵更新模块,用于根据集合e以及e'更新对应的校验矩阵He、He'

错误比特纠错模块,根据校验矩阵He判断是否需要进行纠错,若需要则利用纠错校正子对错误比特进行纠错,并更新集合e,若不需要则输出纠错后的码元比特集合。

5.根据权利要求4所述的装置,其特征在于,所述校正子计算模块中计算过程为:集合e对应的校正子集合e'对应的校正子

其中,He={hi,i∈e}为集合e对应的矩阵,He'={hi,i∈e'}为集合e'对应的矩阵,hi表示矩阵H的第i列,H表示发送端码元比特对应的校验矩阵;校正子Se'可以采用公式简化计算得到,其中是最新的错误比特纠正后码元比特对应的校正子;集合表示接收端译码判决后的码元比特集合,表示集合中下标在集合e中的元素的集合,即表示译码后需要进行错误比特纠正的码元比特集合;表示译码后不需要进行错误比特纠正的码元比特集合。

6.根据权利要求5所述的装置,其特征在于,所述纠错校正子模块中纠错校正子计算方法为:Sc=S^Se';其中S是发送端的校正子。

7.根据权利要求6所述的装置,其特征在于,所述错误比特纠错模块纠错过程为:对于校验矩阵He中每一个行重为1的行,若该行的非零元素对应的行下标为j,列下标为i,则令即用Sc[j]对接收端译码判决后的码元比特集合中的元素进行替换,然后将元素i从集合e中删除以更新集合e。

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