[发明专利]旋转基座装置及半导体工艺设备在审
| 申请号: | 202210268587.9 | 申请日: | 2022-03-18 |
| 公开(公告)号: | CN114649256A | 公开(公告)日: | 2022-06-21 |
| 发明(设计)人: | 夏俊涵 | 申请(专利权)人: | 北京北方华创微电子装备有限公司 |
| 主分类号: | H01L21/687 | 分类号: | H01L21/687;H01L21/67 |
| 代理公司: | 北京天昊联合知识产权代理有限公司 11112 | 代理人: | 彭瑞欣;王婷 |
| 地址: | 100176 北京*** | 国省代码: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 旋转 基座 装置 半导体 工艺设备 | ||
本发明提供一种旋转基座装置及半导体工艺设备,旋转基座装置,应用于半导体设备的工艺腔室中,包括基座组件、至少两个磁旋转件和至少两组磁驱动组件,其中:基座组件设置于工艺腔室中,用于承载晶圆;磁旋转件与基座组件连接;磁驱动组件固定设置于工艺腔室外,磁旋转件和磁驱动组件均沿基座组件的周向均匀分布,每组磁驱动组件包括两个磁驱动件,磁驱动件通过磁性耦合可带动磁旋转件旋转,进而磁旋转件带动基座组件绕自身的轴线旋转。本发明提供的旋转基座装置及半导体工艺设备,能够提高晶圆旋转的水平度及同心性,改善工艺结果。
技术领域
本发明涉及半导体设备技术领域,具体地,涉及一种旋转基座装置及半导体工艺设备。
背景技术
在硅外延生长工艺中,工艺腔室内承载晶圆的基座的旋转,对晶圆上生长的外延层的厚度及电阻率的均匀性具有影响,控制基座旋转的摆幅,保证晶圆在旋转过程中的同心性,对硅外延生长工艺的工艺结果至关重要。
如图1所示,现有技术中的一种旋转基座装置包括基座11、旋转升降驱动件12、旋转传动件和升降传动件,基座11用于承载晶圆9,旋转升降驱动件12通过旋转传动件与基座11连接,并与升降传动件连接。在工艺过程中,旋转升降驱动件12通过驱动升降传动件升降,使升降传动件的部分穿过基座11与机械手配合,实现晶圆9在基座11与机械手之间的传递,旋转升降驱动件12通过驱动旋转传动件旋转,来带动基座11旋转,实现晶圆9的旋转。
但是,现有的这种旋转基座装置,为了精确控制基座11的水平度,对于基座11、旋转升降驱动件12和旋转传动件之间的安装具有较高要求,并且,旋转传动件中的旋转轴13受热易发生变形,导致晶圆9在旋转时易发生摆动(上下摆动和/或左右摆动),影响晶圆9旋转的水平度,影响工艺结果。
发明内容
本发明旨在至少解决现有技术中存在的技术问题之一,提出了一种旋转基座装置及半导体工艺设备,其能够提高晶圆旋转的水平度及同心性,改善工艺结果。
为实现本发明的目的而提供一种旋转基座装置,应用于半导体设备的工艺腔室中,包括基座组件、至少两个磁旋转件和至少两组磁驱动组件,其中:
所述基座组件设置于所述工艺腔室中,用于承载晶圆;
所述磁旋转件与所述基座组件连接;
所述磁驱动组件固定设置于所述工艺腔室外,所述磁旋转件和所述磁驱动组件均沿所述基座组件的周向均匀分布,每组所述磁驱动组件包括两个磁驱动件,所述磁驱动件通过磁性耦合可带动所述磁旋转件旋转,进而所述磁旋转件带动所述基座组件绕自身的轴线旋转。
可选的,同一组所述磁驱动组件中的两个所述磁驱动件相对的一侧磁极相同。
可选的,所述磁旋转件为导磁材料,所述磁驱动件为感应线圈。
可选的,所述基座组件包括基座和支撑连接环,所述基座用于承载所述晶圆,所述支撑连接环与所述基座连接,所述磁旋转件设置在所述支撑连接环中;所述支撑连接环设置有基底部和插接部,所述插接部设置在所述基底部上,所述基底部沿所述工艺腔室的内周壁延伸设置,且与所述工艺腔室的内周壁之间具有间隙;所述基座的底面设置有插接槽,所述插接槽用于插接所述插接部。
可选的,所述插接部与所述插接槽接触的表面之间具有摩擦层,所述摩擦层用于增大所述插接部与所述插接槽之间的摩擦力。
可选的,所述插接部与所述插接槽接触的表面之间还具有隔热层,所述隔热层用于降低所述基座与所述插接部之间的热量传递。
可选的,所述摩擦层和隔热层均为黑石英层。
可选的,所述支撑连接环中设置有冷却通道,所述冷却通道用于供冷却液通入至所述支撑连接环中,以对所述支撑连接环和所述磁旋转件进行冷却。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造





