[实用新型]一种半导体晶片抛光后拆卸用冲水装置有效
申请号: | 202121547144.0 | 申请日: | 2021-07-08 |
公开(公告)号: | CN215911399U | 公开(公告)日: | 2022-02-25 |
发明(设计)人: | 张春宇;赵波 | 申请(专利权)人: | 保定通美晶体制造有限责任公司 |
主分类号: | H01L21/67 | 分类号: | H01L21/67;B08B3/02;B08B13/00 |
代理公司: | 北京科亿知识产权代理事务所(普通合伙) 11350 | 代理人: | 李兴林 |
地址: | 072650 河北省保定市定兴*** | 国省代码: | 河北;13 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 半导体 晶片 抛光 拆卸 冲水 装置 | ||
本实用新型公开了一种半导体晶片抛光后拆卸用冲水装置,包括可转动底板和冲水管,所述可转动底板设置为半导体晶片抛光后工作盘的承载台,所述可转动底板的旁边设置有冲水管,所述可转动底板的下部设置为方形底座,所述可转动底板的上部设置为圆形平板,连接方形底座和圆形平板的中间设置为圆形转轴。工作盘放置在可转动底板上,保证去离子水覆盖所有半导体晶片表面,避免污染物附着,同时还能冲洗掉残余抛光液,依次卸取半导体晶片,工作方便快捷,提高了生产效率,通过可转动底板和冲水管的配合使用,提高了半导体晶片卸片过程中的成品率,结构简单成本低,可操作性强,从源头解决了实际生产中问题。
技术领域
本实用新型涉及半导体晶片加工技术领域,尤其涉及一种半导体晶片抛光后拆卸用冲水装置。
背景技术
在半导体晶片抛光加工完成后,将半导体晶片从抛光工作盘上拆卸取出过程中,拆卸取出前使用去离子水快速冲去表面残留抛光液,快速卸片并放入装满水的盒子里盛放,但是半导体晶片在放入水盒前会有一段时间暴露在空气中,半导体晶片容易吸附空气中的颗粒物和水汽,极易造成晶片表面污染和氧化,从而降低产品总体质量合格率,表面污染物数据升高造成最终成品率的降低,反复抛光改善会增加加工成本,造成生产成本升高。
实用新型内容
本实用新型的目的是提供一种半导体晶片抛光后拆卸用冲水装置,解决半导体晶体抛光后拆卸过程中与空气接触污染的问题。
为解决上述技术问题,本实用新型采用如下技术方案:
本实用新型一种半导体晶片抛光后拆卸用冲水装置,包括可转动底板和冲水管,所述可转动底板设置为半导体晶片抛光后工作盘的承载台,所述可转动底板的旁边设置有冲水管。
进一步的,所述可转动底板的下部设置为方形底座,所述可转动底板的上部设置为圆形平板,可转动底板的中间设置有圆形转轴,所述圆形转轴的顶面和所述圆形平板连接,所述圆形转轴的底部贯穿所述方形底座。
进一步的,所述冲水管包括喷水主管和喷头,多个喷头并排设置连接在所述喷水主管上,所述喷水主管的进水端通过供水管道与水源连通,所述喷水主管的长度不小于工作盘的直径,所述供水管道上连接有控制阀,所述喷头的出水孔一侧朝向所述可转动底板,且所述喷头的高度不低于可转动底板的顶面高度。
进一步的,所述冲水管里面的清洁用水为去离子水。
进一步的,所述圆形平板上均布多个防滑胶带,所述工作盘通过所述防滑胶带定位在所述所述圆形平板的顶面上。
与现有技术相比,本实用新型的有益技术效果:
本实用新型一种半导体晶片抛光后拆卸用冲水装置,包括可转动底板和冲水管,可转动底板上面的圆形平板施力可以转动,半导体晶片卸片过程在可转动底板上完成,同时冲水管通去离子水,半导体晶片卸片过程中,开启冲水管保证去离子水覆盖所有半导体晶片表面,避免污染物附着,同时还能冲洗掉残余抛光液,避免抛光液的化学性引起的缺陷增加,推动工作盘可以旋转,依次卸取半导体晶片,工作方便快捷,提高了生产效率,通过可转动底板和冲水管的配合使用,提高了半导体晶片卸片过程中的成品率,结构简单成本低,可操作性强,从源头解决了实际生产中问题。
附图说明
下面结合附图说明对本实用新型作进一步说明。
图1为本实用新型半导体晶片抛光后拆卸用冲水装置示意图;
图2为本实用新型可转动底板结构示意图;
图3为本实用新型可转动底板与工作盘配合正视图;
图4为本实用新型冲水管结构示意图;
附图标记说明:1、工作盘;2、可转动底板;3、冲水管;201、方形底座;202、圆形平板;203、圆形转轴;204、防滑胶布;301、喷水主管;302、喷头; 303、控制阀。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造