[发明专利]阵列基板及其制作方法在审

专利信息
申请号: 202111212323.3 申请日: 2021-10-18
公开(公告)号: CN113948533A 公开(公告)日: 2022-01-18
发明(设计)人: 钟德镇;苏子芳;严婷婷 申请(专利权)人: 昆山龙腾光电股份有限公司
主分类号: H01L27/12 分类号: H01L27/12;H01L21/77
代理公司: 上海波拓知识产权代理有限公司 31264 代理人: 蔡光仟
地址: 215301 江*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 阵列 及其 制作方法
【权利要求书】:

1.一种阵列基板,其特征在于,所述阵列基板包括:

基底(11);

形成在所述基底(11)上的扫描线(121)、栅极(122)和触控引线(123),所述触控引线(123)包括导线部(1231)和连接部(1232),所述导线部(1231)位于相邻的两根所述扫描线(121)之间,所述连接部(1232)分别位于所述导线部(1231)的两端并与所述导线部(1231)相连,所述栅极(122)与所述扫描线(121)相连;

对应覆盖在所述扫描线(121)、所述栅极(122)和所述导线部(1231)上的栅极绝缘层(131),所述连接部(1232)上未覆盖有所述栅极绝缘层(131);

形成在所述栅极绝缘层(131)上的第二绝缘层(16),所述第二绝缘层(16)覆盖除所述扫描线(121)、所述栅极(122)和所述触控引线(123)之外的区域,所述连接部(1232)上未覆盖有所述第二绝缘层(16);

形成在所述第二绝缘层(16)上的源极(181)、漏极(182)、数据线(183)和触控桥接部(184),其中,所述源极(181)与所述漏极(182)相互间隔形成沟道区(185),所述数据线(183)与所述源极(181)相连,所述触控桥接部(184)跨越所述扫描线(121),且所述触控桥接部(184)的两端分别与相邻的两根所述触控引线(123)端部的所述连接部(1232)接触,使相邻两根所述触控引线(123)通过所述触控桥接部(184)电性连接。

2.根据权利要求1所述的阵列基板,其特征在于,所述阵列基板还包括:

形成在所述源极(181)、所述漏极(182)、所述数据线(183)和所述触控桥接部(184)上的源极层叠部(192)、漏极层叠部(193)、有源层(191)、数据线层叠部(194)和桥接层叠部(195),所述有源层(191)位于所述沟道区(185),所述源极层叠部(192)与所述源极(181)层叠,所述漏极层叠部(193)与所述漏极(182)层叠,所述数据线层叠部(194)与所述数据线(183)层叠,所述桥接层叠部(195)与所述触控桥接部(184)层叠;

所述源极层叠部(192)、所述漏极层叠部(193)、所述有源层(191)、所述数据线层叠部(194)和所述桥接层叠部(195)由金属氧化物半导体材料制作形成,其中所述源极层叠部(192)、所述漏极层叠部(193)、所述数据线层叠部(194)和所述桥接层叠部(195)经过氢化处理或者离子掺杂处理而由半导体转变为导体化,而所述有源层(191)保留为半导体。

3.根据权利要求2所述的阵列基板,其特征在于,所述阵列基板还包括:

与所述源极层叠部(192)、所述漏极层叠部(193)、所述有源层(191)、所述数据线层叠部(194)和所述桥接层叠部(195)位于同一层且由相同材料制作形成的像素电极(24);

所述像素电极(24)与所述漏极层叠部(193)相连,所述像素电极(24)经过氢化处理或者离子掺杂处理而由半导体转变为导体化。

4.根据权利要求3所述的阵列基板,其特征在于,所述阵列基板还包括:

形成在所述源极层叠部(192)、所述漏极层叠部(193)、所述有源层(191)、所述桥接层叠部(195)、所述数据线层叠部(194)和所述像素电极(24)上的第三绝缘层(23),所述第三绝缘层(23)在对应所述桥接层叠部(195)的位置形成第一导通孔(101);

形成在所述第三绝缘层(23)上的公共电极(25),所述公共电极(25)填入所述第一导通孔(101)内与所述桥接层叠部(195)接触,所述公共电极(25)通过所述桥接层叠部(195)以及所述触控桥接部(184)与所述触控引线(123)导电连接。

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