[发明专利]一种焊缝缺陷电涡流探伤数据的输出方法及系统有效

专利信息
申请号: 202111101735.X 申请日: 2021-09-18
公开(公告)号: CN113724249B 公开(公告)日: 2023-06-16
发明(设计)人: 杨凯 申请(专利权)人: 西南交通大学
主分类号: G06T7/00 分类号: G06T7/00
代理公司: 成都市集智汇华知识产权代理事务所(普通合伙) 51237 代理人: 李华;温黎娟
地址: 610000 四*** 国省代码: 四川;51
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摘要:
搜索关键词: 一种 焊缝 缺陷 涡流 探伤 数据 输出 方法 系统
【权利要求书】:

1.一种焊缝缺陷电涡流探伤数据的输出方法,其特征在于,所述方法包括:

S1:对焊缝区域进行扫查得到一维信号,对所述一维信号进行拼接得到第一C扫图像信号;

S2:采用多尺度分解小波变换对所述第一C扫图像信号进行处理,所述多尺度分解小波变换包括小波分析和多尺度变换及图像增强功能;

运用所述小波分析将所述第一C扫图像信号进行多分辨率分解,得到不同空间和不同频率的C扫子图像信号,对所述C扫子图像信号进行系数编码;运用所述多尺度变换及图像增强功能自适应的调整所述第一C扫图像信号的小波系数,得到增强后的图像特征,进而得到突出增强的缺陷信息,具体的,

获取所述第一C扫图像信号在小波阈内的四个系数分量矩阵cA、cH、cV和cD;

对所述系数分量矩阵cA进行调整:

在(1)式中,T为变换函数,kij为系数矩阵,cA*为cA变换后的系数分量矩阵;

利用第一C扫图像信号的低频信号分别与cH、cV和cD三个系数分量矩阵进行融合重构,分别得到水平方向的第二C扫图像信号、垂直方向的第二C扫图像信号和对角方向的第二C扫图像信号;

把所述第二C扫图像信号的低频到高频映射到所述第一C扫图像信号对应的低频到高频,得到包括所述缺陷信息的第三C扫图像信号;

S3:对所述缺陷信息进行可视化处理,并将所述缺陷信息与缺陷检测标准阈值进行对比,输出探伤报告。

2.根据权利要求1所述的一种焊缝缺陷电涡流探伤数据的输出方法,其特征在于,所述S1具体为:

S11:所述焊缝区域分为多行路径,运用高频电涡流线圈制成的探头对每行路径进行扫查,得到一维电压信号;

S12:将所述一维电压信号进行逐行拼接,得到第一C扫图像信号。

3.根据权利要求1所述的一种焊缝缺陷电涡流探伤数据的输出方法,其特征在于,对所述水平方向的第二C扫图像信号、垂直方向的第二C扫图像信号和对角方向的第二C扫图像信号进行变换分析,通过辨别缺陷的走向及图像增强的效果,确定第二C扫图像信号。

4.根据权利要求1所述的一种焊缝缺陷电涡流探伤数据的输出方法,其特征在于,所述S3具体为:

S31:对所述缺陷信息进行可视化处理,得到可视化缺陷信息图像;

S32:设置缺陷检测标准阈值,将所述缺陷信息与所述缺陷检测标准阈值进行比对,得到缺陷检测结果;

S33:对所述缺陷检测结果进行汇总处理,输出探伤报告。

5.一种焊缝缺陷电涡流探伤数据的输出系统,其特征在于,所述系统包括:

数据采集单元:用于对焊缝区域进行扫查得到一维信号,对所述一维信号进行拼接得到第一C扫图像信号;

数据处理单元:采用多尺度分解小波变换对所述第一C扫图像信号进行处理,所述多尺度分解小波变换包括小波分析和多尺度变换及图像增强功能;运用所述小波分析将所述第一C扫图像信号进行多分辨率分解,得到不同空间和不同频率的C扫子图像信号,对所述C扫子图像信号进行系数编码;运用所述多尺度变换及图像增强功能自适应的调整所述第一C扫图像信号的小波系数,得到增强后的图像特征,进而得到突出增强的缺陷信息,具体的,获取所述第一C扫图像信号在小波阈内的四个系数分量矩阵cA、cH、cV和cD;对所述系数分量矩阵cA进行调整:在(1)式中,T为变换函数,kij为系数矩阵,cA*为cA变换后的系数分量矩阵;利用第一C扫图像信号的低频信号分别与cH、cV和cD三个系数分量矩阵进行融合重构,分别得到水平方向的第二C扫图像信号、垂直方向的第二C扫图像信号和对角方向的第二C扫图像信号;把所述第二C扫图像信号的低频到高频映射到所述第一C扫图像信号对应的低频到高频,得到包括所述缺陷信息的第三C扫图像信号;

数据输出展示单元:对所述缺陷信息进行可视化处理,并将所述缺陷信息与缺陷检测标准阈值进行对比,输出探伤报告。

6.根据权利要求5所述的一种焊缝缺陷电涡流探伤数据的输出系统,其特征在于,所述数据处理单元还包括图像重构模块,所述图像重构模块包括第一C扫图像信号的低频信号与cH进行水平方向的图像重构、第一C扫图像信号的低频信号与cV进行垂直方向的图像重构和第一C扫图像信号的低频信号与cD进行对角线方向的图像重构。

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