[发明专利]半导体光刻胶组合物和使用所述组合物形成图案的方法在审
申请号: | 202110349838.1 | 申请日: | 2021-03-31 |
公开(公告)号: | CN113495429A | 公开(公告)日: | 2021-10-12 |
发明(设计)人: | 禹昌秀;姜恩美;金宰贤;金智敏;金兑镐;南宫烂;文京守;田桓承;蔡承龙;韩承 | 申请(专利权)人: | 三星SDI株式会社 |
主分类号: | G03F7/004 | 分类号: | G03F7/004;G03F7/00 |
代理公司: | 北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205 | 代理人: | 杨贝贝;臧建明 |
地址: | 韩国京畿道龙仁*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 半导体 光刻 组合 使用 形成 图案 方法 | ||
1.一种半导体光刻胶组合物,包括:
由化学式1表示的有机金属化合物、光酸产生剂以及溶剂:
[化学式1]
其中,在化学式1中,
R为经取代或未经取代的C1到C20烷基、经取代或未经取代的C3到C20环烷基、包含至少一个双键或三键的经取代或未经取代的C2到C20脂肪族不饱和有机基团、经取代或未经取代的C6到C30芳基、乙氧基、丙氧基或其组合,
X、Y以及Z独立地为-OR1或-OC(=O)R2,
R1为经取代或未经取代的C1到C20烷基、经取代或未经取代的C3到C20环烷基、经取代或未经取代的C2到C20烯基、经取代或未经取代的C2到C20炔基、经取代或未经取代的C6到C30芳基或其组合,且
R2为氢、经取代或未经取代的C1到C20烷基、经取代或未经取代的C3到C20环烷基、经取代或未经取代的C2到C20烯基、经取代或未经取代的C2到C20炔基、经取代或未经取代的C6到C30芳基或其组合。
2.根据权利要求1所述的半导体光刻胶组合物,其中所述光酸产生剂包括由化学式2、化学式3或化学式4表示的阳离子化合物:
[化学式2]
[化学式3]
[化学式4]
其中,在化学式2到化学式4中,
M1为氟、氯、溴或碘,
M2为氧、硫、硒或碲,
M3为氮、磷、砷或锑,且
R3到R11独立地为经取代或未经取代的C1到C20烷基、经取代或未经取代的C3到C20环烷基、包含至少一个双键或三键的经取代或未经取代的C2到C20脂肪族不饱和有机基团、经取代或未经取代的C6到C30芳基或其组合。
3.根据权利要求1所述的半导体光刻胶组合物,其中所述光酸产生剂包括由化学式5或化学式6表示的阳离子化合物:
[化学式5]
[化学式6]
其中,在化学式5和化学式6中,
R3到R7独立地为经取代或未经取代的C1到C20烷基、经取代或未经取代的C3到C20环烷基、包含至少一个双键或三键的经取代或未经取代的C2到C20脂肪族不饱和有机基团、经取代或未经取代的C6到C30芳基或其组合。
4.根据权利要求1所述的半导体光刻胶组合物,其中包含呈99:1到60:40的重量比的由化学式1表示的所述有机金属化合物和所述光酸产生剂。
5.根据权利要求1所述的半导体光刻胶组合物,其中包含呈95:5到85:15的重量比的由化学式1表示的所述有机金属化合物和所述光酸产生剂。
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