[发明专利]半导体装置在审
申请号: | 202110023207.0 | 申请日: | 2021-01-08 |
公开(公告)号: | CN114188411A | 公开(公告)日: | 2022-03-15 |
发明(设计)人: | 吉冈启;矶部康裕;洪洪;小林仁;大野哲也;杉山亨 | 申请(专利权)人: | 株式会社东芝;东芝电子元件及存储装置株式会社 |
主分类号: | H01L29/778 | 分类号: | H01L29/778;H01L27/085;H01L23/528 |
代理公司: | 永新专利商标代理有限公司 72002 | 代理人: | 牛玉婷 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 半导体 装置 | ||
1.一种半导体装置,具备:
基板;
设于所述基板上的第一氮化物半导体层;
第二氮化物半导体层,设于所述第一氮化物半导体层之上,带隙比所述第一氮化物半导体层大;
设于所述第二氮化物半导体层之上的第一源极电极;
设于所述第二氮化物半导体层之上的第二源极电极;
第一栅极电极,设于所述第一源极电极与所述第二源极电极之间的所述第二氮化物半导体层之上;
第二栅极电极,设于所述第二源极电极与所述第一栅极电极之间的所述第二氮化物半导体层之上;
漏极电极,设于所述第一栅极电极与所述第二栅极电极之间的所述第二氮化物半导体层之上,并具有:
第一布线;
第二布线,设于所述第二栅极电极与所述第一布线之间;
元件分离区域,设于所述第一布线与所述第二布线之间的下方的所述第二氮化物半导体层;和
第四布线,设于所述第一布线、所述第二布线以及所述元件分离区域之上,并与所述第一布线以及所述第二布线电连接;以及
绝缘膜,设于所述元件分离区域与所述第四布线之间。
2.根据权利要求1所述的半导体装置,还具备:
第五布线,设于所述第一布线与所述第四布线之间,将所述第一布线与所述第四布线电连接;以及
第六布线,设于所述第二布线与所述第四布线之间,将所述第二布线与所述第四布线电连接。
3.一种半导体装置,具备:
基板;
设于所述基板上的第一氮化物半导体层;
第二氮化物半导体层,设于所述第一氮化物半导体层之上,带隙比所述第一氮化物半导体层大;
第一源极电极,设于所述第二氮化物半导体层之上,沿与所述基板的基板面平行的第一方向延伸;
第二源极电极,设于所述第二氮化物半导体层之上,沿所述第一方向延伸;
第一栅极电极,设于所述第一源极电极与所述第二源极电极之间的所述第二氮化物半导体层之上,沿所述第一方向延伸;
第二栅极电极,设于所述第二源极电极与所述第一栅极电极之间的所述第二氮化物半导体层之上,沿所述第一方向延伸;
漏极电极,设于所述第一栅极电极与所述第二栅极电极之间的所述第二氮化物半导体层之上,并具有:
沿所述第一方向延伸的第一布线;
第二布线,设于所述第二栅极电极与所述第一布线之间,沿所述第一方向延伸;
多个元件分离区域,沿所述第一方向分别分离地设置在所述第一布线与所述第二布线之间的下方的所述第二氮化物半导体层;
多个第三布线,设于所述多个元件分离区域之间的所述第二氮化物半导体层之上,将所述第一布线与所述第二布线电连接;以及
第四布线,设于所述第一布线、所述第二布线、所述多个元件分离区域以及所述多个第三布线之上;以及
绝缘膜,设于所述多个元件分离区域与所述第四布线之间。
4.根据权利要求3所述的半导体装置,
所述多个第三布线的高度比所述第一布线的高度以及所述第二布线的高度高,所述多个第三布线电连接于所述第四布线。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于株式会社东芝;东芝电子元件及存储装置株式会社,未经株式会社东芝;东芝电子元件及存储装置株式会社许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202110023207.0/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种新型八字钉生产设备
- 下一篇:磁盘装置以及读处理方法
- 同类专利
- 专利分类