[发明专利]检查装置、检查方法及检查程序、以及学习装置、学习方法及学习程序在审

专利信息
申请号: 202080043817.0 申请日: 2020-05-11
公开(公告)号: CN113994378A 公开(公告)日: 2022-01-28
发明(设计)人: 池田皓甫;伊拉·莱文塔尔;基思·肖布 申请(专利权)人: 爱德万测试株式会社
主分类号: G06T7/00 分类号: G06T7/00;G06V10/25;G06V10/778;G06V10/774;G06V10/44
代理公司: 深圳新创友知识产权代理有限公司 44223 代理人: 江耀锋
地址: 日本东京都千*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 检查 装置 方法 程序 以及 学习 学习方法
【权利要求书】:

1.一种检查装置,其具备:

对象影像取得部,其取得对检查对象进行拍摄而得的对象影像;

对象影像遮蔽部,其遮蔽所述对象影像的一部分;

遮蔽区域预测部,其针对所述对象影像中的被遮蔽的遮蔽区域的影像加以预测;

再现影像产生部,其使用针对复数个遮蔽区域的各者所预测出的复数个预测影像,来产生再现影像;及,

差异检测部,其检测所述对象影像和所述再现影像的差异。

2.如权利要求1所述的检查装置,其中,所述差异检测部对每个预先决定的区域比较所述对象影像和所述再现影像,并算出所述每个预先决定的区域的所述差异的程度。

3.如权利要求2所述的检查装置,其中,还具备:

判定部,当所述差异的程度未满足预先决定的质量时,判定所述检查对象为不良品。

4.如权利要求3所述的检查装置,其中,所述判定部在当所述每个预先决定的区域的所述差异的程度之中,最大的所述差异的程度超过预先决定的阈值时,判定所述检查对象为不良品。

5.如权利要求3或4所述的检查装置,其中,所述判定部在当已判定所述检查对象为不良品时,利用对被判定为不良品的所述检查对象拍摄而得的所述对象影像,预测所述检查对象的电特性,并且当所述电特性未满足预先决定的质量时,确定所述检查对象为不良品。

6.如权利要求3至5中任一项所述的检查装置,其中,所述判定部在当已判定所述检查对象为不良品时,利用对被判定为不良品的所述检查对象拍摄而得的所述对象影像,预测所述检查对象的电特性,并且当所述电特性满足预先决定的质量时,确定所述检查对象为良品。

7.如权利要求2至6中任一项所述的检查装置,其中,所述差异检测部输出检测地图,所述检测地图对应所述差异的程度而使所述每个预先决定的区域的显示态样有所不同。

8.如权利要求2至7中任一项所述的检查装置,其中,所述差异检测部基于所述对象影像与所述再现影像的欧几里德距离来算出所述差异的程度。

9.如权利要求1至8中任一项所述的检查装置,其中,所述对象影像遮蔽部依序遮蔽将所述对象影像分割而得的复数个单元格之中的1个单元格;

所述再现影像产生部使用针对不同单元格的各者所预测出的复数个预测影像来产生所述再现影像。

10.如权利要求1至9中任一项所述的检查装置,其中,所述对象影像取得部取得对所述检查对象进行拍摄所获得的影像再加以灰阶化后的影像,以作为所述对象影像。

11.如权利要求1至10中任一项所述的检查装置,其中,所述对象影像取得部取得在对所述检查对象进行拍摄所获得的影像中,对所述检查对象进行对象检测而窄化过对象区域的影像,以作为所述对象影像。

12.一种检查方法,其具备以下步骤:

取得对检查对象进行拍摄而得的对象影像;

遮蔽所述对象影像的一部分;

针对所述对象影像中的被遮蔽的遮蔽区域的影像加以预测;

使用针对复数个遮蔽区域的各者所预测出的复数个预测影像,来产生再现影像;及,

检测所述对象影像和所述再现影像的差异。

13.一种检查程序,其通过计算机来执行并使所述计算机作为以下手段来发挥功能:

对象影像取得部,其取得对检查对象进行拍摄而得的对象影像;

对象影像遮蔽部,其遮蔽所述对象影像的一部分;

遮蔽区域预测部,其针对所述对象影像中的被遮蔽的遮蔽区域的影像加以预测;

再现影像产生部,其使用针对复数个遮蔽区域的各者所预测出的复数个预测影像,来产生再现影像;及,

差异检测部,其检测所述对象影像和所述再现影像的差异。

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