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[发明专利]试验装置、试验方法及程序-CN202280017795.X在审
发明人：长谷川宏太郎;宫内康司 -专利权人： 爱德万测试株式会社
申请日： 2022-05-18 - 公布日： 2023-10-17 - 主分类号： G01R31/26 文献下载
摘要：本发明提供一种试验装置，其包含：发光控制部，使成为试验对象的多个发光元件发光；光测定部，接收来自多个发光元件的光，并测定所接收的光的波长；及判定部，基于光测定部测得的来自多个发光元件的光的波长的强度分布，判定多个发光元件中的至少1个发光元件是否存在异常。试验装置可还包含：光源；光学系统，将来自光源的光照射到多个发光元件；及电测定部，测定将多个发光元件各自被照射的光进行光电转换所得的光电信号；且光测定部可经由光学系统接收来自多个发光元件的光。
试验装置试验方法程序

[发明专利]试验装置、试验方法及计算机可读取媒体-CN202310472588.X在审
发明人：长谷川宏太郎;宫内康司;歌丸刚 -专利权人： 爱德万测试株式会社
申请日： 2020-04-14 - 公布日： 2023-07-14 - 主分类号： G01M11/02 文献下载
摘要：本发明所要解决的问题在于：利用以下方法无法一并检查复数个LED的光学特性，所述方法是使成为检查对象的一对LED中的一个发光，并以另一个受光，使用通过光电效应所输出的电流的电流值，来检查LED的光学特性。为了解决上述问题，本发明提出一种试验装置，具备：电性连接部，其电性连接至成为试验对象的复数个LED各自的端子；光源部，其一并对复数个LED照射光；测定部，其测定光电信号，所述光电信号是复数个LED分别对被光源部照射的光进行光电转换，并经由电性连接部输出；及，判定部，其基于测定部的测定结果来判定复数个LED各自的良否。
试验装置试验方法计算机读取媒体

[发明专利]试验装置、试验方法及计算机可读取媒体-CN202010290804.5有效
发明人：长谷川宏太郎;宫内康司;歌丸刚 -专利权人： 爱德万测试株式会社
申请日： 2020-04-14 - 公布日： 2023-05-16 - 主分类号： G01M11/02 文献下载
摘要：本发明所要解决的问题在于：利用以下方法无法一并检查复数个LED的光学特性，所述方法是使成为检查对象的一对LED中的一个发光，并以另一个受光，使用通过光电效应所输出的电流的电流值，来检查LED的光学特性。为了解决上述问题，本发明提出一种试验装置，具备：电性连接部，其电性连接至成为试验对象的复数个LED各自的端子；光源部，其一并对复数个LED照射光；测定部，其测定光电信号，所述光电信号是复数个LED分别对被光源部照射的光进行光电转换，并经由电性连接部输出；及，判定部，其基于测定部的测定结果来判定复数个LED各自的良否。
试验装置试验方法计算机读取媒体

[发明专利]边沿选择装置-CN202210809530.5在审
发明人：伊藤猛 -专利权人： 爱德万测试株式会社
申请日： 2022-07-11 - 公布日： 2023-04-04 - 主分类号： G06F13/42 文献下载
摘要：本发明提供一种边沿选择装置，其具备：第1输出部，响应于复数个信号的至少一个上升的情形而输出第1脉冲；第2输出部，响应于复数个信号的至少一个下降的情形而输出第2脉冲；检测部，每当成为脉冲的非检测状态时，检测第1脉冲及第2脉冲中被最先输出的先行脉冲；及选择部，选择检测部检测到的先行脉冲的边沿，作为频率中所含的频率脉冲的边沿。
边沿选择装置

[发明专利]测试间中的具有不同外观尺寸的被测装置的自动化搬运-CN201811039847.5有效
发明人：罗兰德·沃夫 -专利权人： 爱德万测试株式会社
申请日： 2018-09-06 - 公布日： 2023-02-21 - 主分类号： B65G1/04 文献下载
摘要：公开一种用于使用自动测试设备(ATE)执行测试的系统。所述系统包括机器人，所述机器人包括用于拾取DUT并将所述DUT转入和转出基块中的测试槽的末端执行器。所述系统进一步包括系统控制器，所述系统控制器包括存储器和处理器并用于控制所述机器人。并且，所述系统包括测试机架，所述测试机架包括多个基块，其中所述基块是包括用于对多个DUT进行测试的多个槽的模块化装置，并且其中所述机器人配置成使用所述末端执行器接近所述测试机架内的所述多个基块中的槽。
测试中的具有不同外观尺寸装置自动化搬运

[发明专利]测定装置及测定方法-CN202210389822.8在审
发明人：一山清隆 -专利权人： 爱德万测试株式会社
申请日： 2022-04-14 - 公布日： 2022-11-11 - 主分类号： H04L43/087 文献下载
摘要：本发明的测定装置具备：时钟产生部，产生采样时钟，该采样时钟具有比包含预定符号数量的符号的被测定码型的符号周期长的采样周期；采样部，根据采样时钟来对重复输入的被测定码型进行采样；以及测定部，根据重复输入的被测定码型的作为抖动测量对象的符号跳变所对应的时间点的采样时钟，来测定采样部的采样结果。
测定装置方法

[发明专利]三维积层造形装置及积层造形方法-CN201810906708.1有效
发明人：菅谷慎二;西名繁树;松本纯;泷泽昌弘;相马実;山田章夫 -专利权人： 爱德万测试株式会社
申请日： 2018-08-10 - 公布日： 2022-11-04 - 主分类号： H01J37/30 文献下载
摘要：本发明提供一种一面由装置本身决定用来确实地将粉末层熔融结合的照射条件，一面进行电子束(EB)照射的三维积层造形装置及积层造形方法。本发明提供一种三维积层造形装置(100)，它具有：柱部(200)，输出电子束(EB)，并使电子束(EB)朝粉末层(32)的表面内方向偏转；电子检测器(72)，检测通过照射电子束(EB)而从粉末层(32)的表面朝指定方向释出的电子；熔融判断部(410)，基于电子检测器(72)的检测信号强度产生熔融信号；以及偏转控制部(420)，接收熔融信号并决定电子束的照射条件。
三维造形装置方法

[发明专利]试验装置、试验方法及计算机可读存储介质-CN202111613077.2在审
发明人：长谷川宏太郎;宫内康司;歌丸刚 -专利权人： 爱德万测试株式会社
申请日： 2021-12-27 - 公布日： 2022-08-30 - 主分类号： G01R31/26 文献下载
摘要：本发明所要解决的问题在于，利用以下方法无法一并检查复数个LED的光学特性，所述方法是使成为检查对象的一对LED中的一个发光，并以另一个受光，使用通过光电效应所输出的电流的电流值，来检查LED的光学特性。为了解决上述问题，本发明提供一种试验装置，具备：电性连接部，其电性连接至成为试验对象的复数个发光元件各自的端子；光源部，其对复数个发光元件一并照射光；电性测定部，其测定光电信号，所述光电信号是复数个发光元件分别对从光源部照射的光进行光电转换后而得的；发光控制部，其使成为发光处理的对象的至少一个发光元件发光；光测定部，其对成为发光处理的对象的至少一个发光元件发出的光进行测定；及判定部，其基于电性测定部的测定结果及光测定部的测定结果，来判定复数个发光元件各自的良否。
试验装置试验方法计算机可读存储介质

[发明专利]判定装置、试验系统、判定方法及判定程序-CN202180007757.1在审
发明人：池田皓甫;杉村一 -专利权人： 爱德万测试株式会社
申请日： 2021-01-14 - 公布日： 2022-08-12 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：提供一种判定装置，其具备：结果获取部，其获取对被测定器件进行的复数个项目的试验的试验结果；及，第1判定部，其判定是否对试验失败的被测定器件进行重新试验；并且，第1判定部，基于预先对复数个被测定器件进行复数次试验时的试验结果的再现性来进行判定。
判定装置试验系统方法程序

[发明专利]试验装置、试验方法及计算机可读存储介质-CN202111335464.4在审
发明人：长谷川宏太郎;宫内康司;歌丸刚 -专利权人： 爱德万测试株式会社
申请日： 2021-11-11 - 公布日： 2022-07-29 - 主分类号： G01R31/26 文献下载
摘要：[要解决的问题]在使成为检查对象的一对LED中的一个LED发光，并由另一个LED接收光，使用通过光电效应而输出的电流的电流值来检查LED的光学特性的方法中，无法一起检查多个LED的光学特性。[解决方案]一种试验装置，包括：电连接部，电连接于发光元件面板，所述发光元件面板具有沿着行方向及列方向排列且分别包含发光元件的多个单元；光源部，对多个单元一起照射光；读出部，针对发光元件面板的各行，在沿着列方向排列的2个以上单元的各单元中读出利用发光元件将光进行光电转换后的光电信号；测定部，测定从多个单元的各单元读出的光电信号；以及判定部，基于测定部的测定结果来判定多个单元的各单元是否良好。
试验装置试验方法计算机可读存储介质

[发明专利]试验装置、试验方法及计算机可读存储介质-CN202111470510.1在审
发明人：长谷川宏太郎;宫内康司;歌丸刚 -专利权人： 爱德万测试株式会社
申请日： 2021-12-03 - 公布日： 2022-07-19 - 主分类号： G01M11/02 文献下载
摘要：[要解决的问题]在使成为检查对象的一对LED中的一个LED发光，并由另一个LED接收光，使用通过光电效应而输出的电流的电流值来检查LED的光学特性的方法中，无法一次检查多个LED的光学特性。[解决方案]一种试验装置，包含：电连接部，电连接于成为试验对象的多个发光元件各自的端子；光源部，对多个发光元件一起照射光；测定部，测定多个发光元件分别将被光源部照射的光进行光电转换并经由电连接部输出的光电信号；获取部，获取包含修正值的修正图，所述修正值是用来修正光源部对多个发光元件各自的位置照射的光的强度不均；及判定部，基于测定部的测定结果、及由获取部获取的修正图，判定多个发光元件各自是否良好。
试验装置试验方法计算机可读存储介质

[发明专利]维护装置、维护方法及维护程序-CN202080068241.3在审
发明人：杉村一;酒井裕二 -专利权人： 爱德万测试株式会社
申请日： 2020-09-28 - 公布日： 2022-05-13 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本发明提供一种维护装置，具备：取得部，其将经由复数个治具依序分别对不同的复数个被测量组件进行试验时的复数个试验结果，针对每个治具加以取得；算出部，其使用复数个试验结果，针对每个治具算出试验结果的变动；及，决定部，其基于试验结果的变动来决定治具的维护时机。
维护装置方法程序

[发明专利]检查装置、检查方法及检查程序、以及学习装置、学习方法及学习程序-CN202080043817.0在审
发明人：池田皓甫;伊拉·莱文塔尔;基思·肖布 -专利权人： 爱德万测试株式会社
申请日： 2020-05-11 - 公布日： 2022-01-28 - 主分类号： G06T7/00 文献下载
摘要：提供一种检查装置，其具备：对象影像取得部，其取得对检查对象进行拍摄而得的对象影像；对象影像遮蔽部，其遮蔽对象影像的一部分；遮蔽区域预测部，其针对对象影像中的被遮蔽的遮蔽区域的影像加以预测；再现影像产生部，其使用针对复数个遮蔽区域的各者所预测出的复数个预测影像，来产生再现影像；及，差异检测部，其检测对象影像和再现影像的差异。
检查装置方法程序以及学习学习方法

[发明专利]三维积层造形装置及积层造形方法-CN201810893355.6有效
发明人：菅谷慎二;西名繁树;松本纯;泷泽昌弘;相马実;山田章夫 -专利权人： 爱德万测试株式会社
申请日： 2018-08-07 - 公布日： 2021-11-23 - 主分类号： B22F3/105 文献下载
摘要：本发明提供一种一面由装置本身决定用来将粉末层确实地熔融结合的照射条件，一面进行电子束(EB)照射的三维积层造形装置及积层造形方法。本发明所提供的三维积层造形装置(100)具有：柱部(200)，输出电子束(EB)，使电子束(EB)朝粉末层(32)的表面内方向偏向；绝缘部，使三维构造物(36)与接地部件电绝缘；电流计(73)，测定经由三维构造物(36)流向接地部件的电流值；熔融判断部(410)，基于电流计(73)所测定的电流值来检测粉末层(32)的熔融，产生熔融信号；以及偏向控制部(420)，接收熔融信号，决定电子束的照射条件。
三维造形装置方法

[发明专利]解析装置、解析方法及解析程序-CN201980062668.X在审
发明人：酒井裕二;杉村一 -专利权人： 爱德万测试株式会社
申请日： 2019-03-26 - 公布日： 2021-05-04 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：提供一种解析装置，其具备：取得部，其取得对受测器件进行测量而得的复数个测量值；机器学习部，其使用复数个测量值，通过机器学习来学习位置依存成分的模型，所述位置依存成分依存于对受测器件进行测量的位置；以及，解析部，其从复数个测量值将位置依存成分分离出来，且所述位置依存成分是使用已通过机器学习部学习到的模型来算出的。另外，提供一种解析方法。另外，提供一种解析程序。
解析装置方法程序

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