[发明专利]一种高能效屏蔽栅沟槽MOSFET及其制造方法有效

专利信息
申请号: 202010815193.1 申请日: 2020-08-14
公开(公告)号: CN112185816B 公开(公告)日: 2022-04-08
发明(设计)人: 黄传伟;夏华秋;诸建周 申请(专利权)人: 江苏东海半导体股份有限公司
主分类号: H01L21/336 分类号: H01L21/336;H01L29/78;H01L29/423
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 214142 江苏省*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 一种 能效 屏蔽 沟槽 mosfet 及其 制造 方法
【权利要求书】:

1.一种高能效屏蔽栅沟槽MOSFET的制造方法,其特征在于:包含以下步骤:

S1:选用N型衬底,并在衬底表面淀积刻蚀掩蔽层,再在刻蚀掩蔽层通过刻蚀形成深槽结构,所述淀积刻蚀掩蔽层的方法包括:先在衬底表面淀积氧化硅,然后再淀积Si3N4和TEOS的复合层;

S2:在沟槽底部注入Phosphor,Phosphor注入能量在30-140Kev之间,其注入剂量为8E11-1E14之间,注入角度为0-30°;

S3:在沟槽内形成栅氧化层,并淀积Poly1,利用Poly1标记光刻、刻蚀形成需要的区域;

S4:在衬底表面淀积一层氧化硅,并对衬底表面进行平坦化;

S5:在衬底表面通过刻蚀形成cell区;

S6:在cell区表面淀积Poly2,进行Poly2回刻至硅表面;

S7:在深槽形成P+区域;

S8:在衬底表面形成N+区域;

S9:在深槽表面淀积ILD层,并运用CONT Mask利用光刻、刻蚀工艺形成接触孔;

S10:再次淀积4um厚的METAL层金属,引出金属电极;

S11:然后进行背金工艺形成背面drain电极。

2.根据权利要求1所述的高能效屏蔽栅沟槽MOSFET的制造方法,其特征在于:所述S3中栅氧化层的形成包括:先通过热氧在沟槽内生长300Å-1000Å的SAC氧化层,并通过湿法刻蚀将氧化层去除,在通过热氧生长为500Å-1500Å的栅氧化层,所述S3中淀积的Poly1中掺杂有phosphor,且Poly1的电阻率在1Ω~20Ω之间。

3.根据权利要求1所述的高能效屏蔽栅沟槽MOSFET的制造方法,其特征在于:所述S4中,淀积氧化硅的工艺为LPCVD,且S4中淀积后氧化硅的厚度在10000Å-20000Å之间。

4.根据权利要求1所述的高能效屏蔽栅沟槽MOSFET的制造方法,其特征在于:所述S5中使用IPO标记通过光刻、刻蚀形成cell区,且IPO的厚度在1000Å-5000Å之间。

5.根据权利要求1所述的高能效屏蔽栅沟槽MOSFET的制造方法,其特征在于:所述S6中淀积在cell区表面的Poly2中掺杂有phosphor,且Poly2的电阻率在1Ω~20Ω之间。

6.根据权利要求1所述的高能效屏蔽栅沟槽MOSFET的制造方法,其特征在于:所述S7中,通过在深槽中注入硼,并高温扩散以形成P+区域。

7.根据权利要求1所述的高能效屏蔽栅沟槽MOSFET的制造方法,其特征在于:所述S9中ILD层为淀积在Poly2外侧的NSG+BPSG的结合。

8.一种高能效屏蔽栅沟槽MOSFET,其特征在于:使用权利要求1-7任一所述的高能效屏蔽栅沟槽MOSFET的制造方法制备得到。

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