[发明专利]基于摄像头阵列的触屏物体分析方法、系统及存储介质

权利要求书

1.一种基于摄像头阵列的触屏物体分析方法，其特征在于，所述方法包括：

获取触屏物体的特征属性；

根据所述特征属性获取触屏物体的采集时间和识别准确率；

根据所述采集时间获取触屏物体的识别效率；

根据所述识别效率、识别准确率和阈值从特征属性中获取优选特征属性；

所述特征属性包括静态特征属性、底面特征属性、立体特征属性和动态特征属性；所述底面特征属性包括单屏底面特征属性和整体底面特征属性；

所述整体底面特征属性的获取方法包括：

通过多屏拼接算法对所述单屏底面特征属性进行处理，获取整体底面特征属性；

所述多屏拼接算法如下：

式中，N、S、E、W分别表示当前单屏i的上下左右四个方向，K表示当前触屏物体的标识，i为第K个触屏物体在第i个屏上的标识，d表示此方向边缘上的触屏点数量，Q_i表示当前多屏拼接的总面积，Q_K表示触屏物体的总底面积，A_i表示当前多屏拼接的底面特征属性集，A_iN、A_iS、A_iE、A_iW分别表示在当前触屏物体上下左右四个方向的单屏底面特征属性集。

2.根据权利要求1所述的一种基于摄像头阵列的触屏物体分析方法，其特征在于，所述动态特征属性包括基准中心点、基准顶点、运动速度、旋转角速度、运动方向和运动轨迹。

3.根据权利要求2所述的一种基于摄像头阵列的触屏物体分析方法，其特征在于，所述动态特征属性的获取方法包括：

根据所述底面特征属性获取触屏物体的基准中心点和基准顶点；

根据所述基准中心点和基准顶点的坐标变动计算得到运动速度、旋转角速度、运动方向和运动轨迹。

4.根据权利要求3所述的一种基于摄像头阵列的触屏物体分析方法，其特征在于，所述基准中心点的计算方法如下：

式中，X,Y分别表示当前各点的横纵坐标，K为当前触屏物体的标识，n_k为当前触屏的底面顶点数量，X_i和Y_i为第i个顶点的坐标，X_k，Y_k为第K个触屏物体的基准中心点的横纵坐标。

5.根据权利要求3所述的一种基于摄像头阵列的触屏物体分析方法，其特征在于，所述基准顶点为离识别触屏物体的底面特征属性主摄像头最近的顶点。

6.根据权利要求1所述的一种基于摄像头阵列的触屏物体分析方法，其特征在于，所述识别效率的计算方法包括：

式中，n表示该触屏物体识别效率的记录数量；i表示第i条记录，T_i表示第i条记录的触屏识别时间；B_k表示触屏物体k的识别效率。

7.根据权利要求1所述的一种基于摄像头阵列的触屏物体分析方法，其特征在于，所述识别准确率的计算方法包括：

式中，M表示该触屏物体识别准确率的记录数量；j表示第j条记录；P_j表示第j条记录的触屏识别准确率；C_k表示触屏物体k的识别准确率。