[发明专利]工件表面缺陷检测方法、装置、设备及存储介质

权利要求书

1.一种工件表面缺陷检测方法，其特征在于，包括：

获取待测工件表面的灰度图像；

所述获取待测工件表面的灰度图像的形式为获取所述待测工件表面的灰度图像的灰度矩阵；

将所述灰度图像划分为预设大小的多个子图像，包括：

将所述灰度图像的灰度矩阵划分成若干子矩阵；

确定每一个所述子图像的灰度变化幅度，包括：

计算得到每一个所述子矩阵的特征向量；

根据所述特征向量分别确定所述子矩阵在水平方向和垂直方向的灰度变化幅度；

根据所述子矩阵在所述水平方向和所述垂直方向的灰度变化幅度，确定所述子图像的灰度变化幅度；

若将所述灰度图像划分为大小为2*2的多个子图像，则确定每一个子图像的灰度变化幅度，包括：

获取每一个所述子矩阵的第一特征向量V1＝(v11，v21)和第二特征向量V2＝(v12，v22)，其中，v11为所述第一特征向量的横坐标，v21为所述第一特征向量的纵坐标，v12为所述第二特征向量的横坐标，v22为所述第二特征向量的纵坐标；

根据下式确定每一个所述子图像的灰度变化幅度：

其中，GM用于表示所述子图像的灰度变化幅度；HG＝|v11/v21|-1，用于表示所述子矩阵在所述水平方向的灰度变化幅度；VG＝|v12/v22|–1，用于表示所述子矩阵在所述垂直方向的灰度变化幅度；

根据多个所述子图像的灰度变化幅度，对所述待测工件进行缺陷检测；

所述根据多个所述子图像的灰度变化幅度，对所述待测工件进行缺陷检测，包括：

若所述子图像的灰度变化幅度大于等于预设阈值，则将所述子图像标记为缺陷子图像；

根据所述灰度图像中所述缺陷子图像的数量和位置，确定所述待测工件是否为缺陷件。

2.如权利要求1所述的检测方法，其特征在于，所述方法还包括：对检测出的缺陷进行形态学处理。

3.如权利要求1所述的检测方法，其特征在于，所述将所述灰度图像划分为预设大小的多个子图像之前，所述方法还包括：对所述灰度图像进行滤波处理。

4.一种工件表面缺陷检测装置，其特征在于，所述装置包括：

图像获取单元，用于获取待测工件表面的灰度图像；所述获取待测工件表面的灰度图像的形式为获取所述待测工件表面的灰度图像的灰度矩阵；

划分单元，用于将所述灰度图像划分为预设大小的多个子图像，包括：

将所述灰度图像的灰度矩阵划分成若干子矩阵；

确定单元，确定每一个所述子图像的灰度变化幅度，包括：

计算得到每一个所述子矩阵的特征向量；

根据所述特征向量分别确定所述子矩阵在水平方向和垂直方向的灰度变化幅度；

根据所述子矩阵在所述水平方向和所述垂直方向的灰度变化幅度，确定所述子图像的灰度变化幅度；

若将所述灰度图像划分为大小为2*2的多个子图像，则确定每一个子图像的灰度变化幅度，包括：

获取每一个所述子矩阵的第一特征向量V1＝(v11，v21)和第二特征向量V2＝(v12，v22)，其中，v11为所述第一特征向量的横坐标，v21所述为第一特征向量的纵坐标，v12为第二特征向量的横坐标，v22为所述第二特征向量的纵坐标；

根据下式确定每一个子图像的灰度变化幅度：

其中，GM用于表示所述子图像的灰度变化幅度；HG＝|v11/v21|-1，用于表示所述子矩阵在所述水平方向的灰度变化幅度；VG＝|v12/v22|–1，用于表示所述子矩阵在所述垂直方向的灰度变化幅度；

检测单元，用于根据多个所述子图像的灰度变化幅度，对所述待测工件进行缺陷检测；

所述根据多个所述子图像的灰度变化幅度，对所述待测工件进行缺陷检测，包括：

若所述子图像的灰度变化幅度大于等于预设阈值，则将所述子图像标记为缺陷子图像；

根据所述灰度图像中所述缺陷子图像的数量和位置，确定所述待测工件是否为缺陷件。

5.一种工件表面缺陷检测设备，其特征在于，包括：

存储器，用于存储程序；

处理器，用于执行所述存储器的存储程序以实现如权利要求1-3中任一项所述的工件表面缺陷检测方法。

6.一种计算机可读存储介质，其特征在于，包括程序，所述程序能够被处理器执行以实现如权利要求1-3中任一项所述的工件表面缺陷检测方法。