[发明专利]高密度封装引线框架结构在审

专利信息
申请号: 202010069586.2 申请日: 2020-01-21
公开(公告)号: CN111128945A 公开(公告)日: 2020-05-08
发明(设计)人: 吴勇军;张春辉 申请(专利权)人: 吴勇军
主分类号: H01L23/495 分类号: H01L23/495
代理公司: 苏州华博知识产权代理有限公司 32232 代理人: 黄丽莉
地址: 415300 湖南省常德市*** 国省代码: 湖南;43
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摘要:
搜索关键词: 高密度 封装 引线 框架结构
【权利要求书】:

1.一种高密度封装引线框架结构,其特征在于,包括依次层叠设置的底部框架、至少一个引线框架和多个用于安装芯片且具有导电性的焊盘或凸起;每个引线框架包括自所述底部框架的顶面依次层叠设置的缓冲层和RDL线路层,所述焊盘或凸起设置于最远离所述底部框架的引线框架的RDL线路层上表面;所述缓冲层为低CTE值绝缘材料层,所述RDL线路层通过导通结构连接于所述底部框架的表面。

2.根据权利要求1所述的高密度封装引线框架结构,其特征在于,所述缓冲层的材质为低CTE值陶瓷类环氧树脂或二氧化硅类树脂。

3.根据权利要求1所述的高密度封装引线框架结构,其特征在于,所述导通结构包括填充铜浆导通孔、填充导热绝缘材料的导通孔或铜柱。

4.根据权利要求1所述的高密度封装引线框架结构,其特征在于,与所述底部框架距离最近的缓冲层为非连续结构,所述底部框架在框架内部形成台阶。

5.根据权利要求1所述的高密度封装引线框架结构,其特征在于,所述底部框架远离所述缓冲层表面设置有焊盘层,用于连接所述底部框架和基板。

6.根据权利要求5所述的高密度封装引线框架结构,其特征在于,所述焊盘层的表面涂覆有镍金层、镍钯金层、OSP层、银层、镍银金层、镍铅锡合金或锡银合金。

7.根据权利要求1所述的高密度封装引线框架结构,其特征在于,所述底部框架为金属铜框架、FR4材质线路板或BT类基板。

8.根据权利要求1所述的高密度封装引线框架结构,其特征在于,所述至少一个引线框架还包括导气槽,所述导气槽形成的气流通道连通所述底部框架和安装的芯片。

9.一种高密度封装结构,其特征在于,包括依次设置的基板、权利要求1-8任意一项所述的高密度封装引线框架结构、芯片;所述芯片通过所述高密度封装引线框架结构连接于所述基板上,且通过所述焊盘或凸起实现电性连接。

10.根据权利要求9所述的高密度封装结构,其特征在于,所述基板为陶瓷类环氧树脂或二氧化硅类树脂,或二氧化硅类PI。

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