[发明专利]一种半导体激光器件计数装置及方法

说明书

本申请公开了一种半导体激光器件的计数装置及方法，包括光源，用于照射待检测的半导体激光器件；图像采集装置，相对固定设置于光源上，用于采集半导体激光器件的图像，以得到采集图像；图像处理装置，与图像采集装置连接，用于启动图像采集装置运行，并接受和处理采集图像，以得到半导体激光器件的统计个数。通过采用图像处理装置对采集图像进行半导体激光器件计数的方式，可以提升半导体激光器件的计数效率和准确率。

技术领域

本申请涉及图像识别计数技术领域，特别是涉及一种半导体激光器件计数装置及方法。

背景技术

半导体激光器件是以半导体材料为基础而产生激光的器件，具有体积小、重量轻、耗电少、转换效率高、可靠性高、工作寿命长且易于与各种光电子器件实现光电子集成等优点，因而获得了广泛的应用。

经本申请的发明人长期研究发现，在半导体激光器件的工业生产过程中，由于半导体激光器件的数量多且形状小，人工计数成千上万个半导体激光器件耗费的时间往往需要几十分钟甚至更久，所以人工对其进行计数盘点的效率低；而且人工计数出错导致计数结果的准确率低；并且人工累积计数时间长易造成人眼视觉疲劳的缺点。

发明内容

本申请提供一种半导体激光器件计数装置及方法，能够提高半导体激光器件的计数效率和准确率。

为解决上述技术问题，本申请采用的一个技术方案是提供一种半导体激光器件的计数装置，该技术装置包括光源，用于照射待检测的半导体激光器件；图像采集装置，相对固定设置于光源上，用于采集半导体激光器件的图像，以得到采集图像；图像处理装置，与图像采集装置连接，用于控制图像采集装置运行，并接受和处理采集图像，以得到半导体激光器件的统计个数。通过采用图像采集装置采集待检测的半导体激光器件的图像，并用图像处理装置处理采集图像，花费的时间可控制在数秒级别，并且准确率至少大于95％，最优达到100％半导体激光器件个数识别，因此可以快速准确得到半导体激光器件的统计个数，从而提高了半导体激光器件的计数效率和准确率，进而避免了人工计数时间长而造成的人眼视觉疲劳。

其中，图像处理装置运行计数软件，接受采集图像，RGB二值化处理采集图像以得到连通域，并卷积处理连通域以得到无裂缝的连通域，连通域表示一个或多个半导体激光器件的像素面积，并倍数比较每个连通域的像素面积与预设的一个半导体激光器件像素面积，得出每个连通域的像素面积包含的半导体激光器个数。通过运行计数软件，可以触发图像采集装置的启动拍照可得到待检测的半导体激光器件的采集图像，并能接受采集图像，对采集图像进行RGB二值化处理，在识别待检测的半导体激光器件的图像区域时同时转换半导体激光器件的图像区域颜色区分与周围环境的颜色，半导体激光器件的图像区域形成连通域，可得到每个连通域的像素面积，以方便之后的倍数比较过程，通过倍数比较每个连通域的像素面积与预设的一个半导体激光器件像素面积，可以得到每个连通域里包含的半导体激光器个数，相比于累积像素面积再做倍数比较的方式，累积个数的方式可以减小统计的误差。

其中，图像处理装置还用于在卷积处理之后，判断连通域的像素面积是否小于个半导体激光器件的像素面积的预设阈值：

若是，则过滤连通域代表的像素面积，以减小统计误差；

若否，则保留连通域的像素面积；

图像处理装置还用于在判断处理之后，将判断处理得到的连通域像素面积与预设的一个半导体激光器件像素面积相除，接近N则为N，N表示N个半导体激光器件，N为大于等于1的正整数；

图像处理装置还用于在相除处理之后进行个数累加，以得出待测半导体激光器件的总个数。通过判断连通域的像素面积是否小于单个半导体激光器件的像素面积的预设阈值，可以使得图像处理装置辨别包含有半导体激光器件的连通域，过滤掉不需要的像素面积，只对包含有半导体激光器件的连通域进行处理，从而既减小了对图像数据的处理量，也得出了可靠的数据。