[实用新型]一种测量半导体光放大器SOA线宽增强因子的装置

权利要求书

1.一种测量半导体光放大器SOA线宽增强因子的装置，其特征在于，包括光源部分、被测半导体光放大器SOA(8)、光纤斐索干涉仪(10)；

所述光源部分包括用于发出波长为λ₁信号光的第一激光器LD1(1)和用于发出波长为λ₂控制光的第二激光器LD2(2)；

所述第一激光器LD1(1)发出的λ₁信号光通过光纤依次经过第一偏振控制器PC1(3)和第一波分复用器WDM1(7)进入被测半导体光放大器SOA(8)；

所述第二激光器LD2(2)发出的λ₂控制光通过光纤经过调制器(5)将连续光变为脉冲光后，再依次经过第二偏振控制器PC2(4)和第一波分复用器WDM1(7)进入被测半导体光放大器SOA(8)；

所述调制器(5)上连接有用于调制信号的码型发生器PPG；

所述λ₁信号光和λ₂控制光通过第一波分复用器WDW1合束后经过被测半导体光放大器SOA(8)输出后经过用于滤波的第二波分复用器WDM2(9)，第二波分复用器WDM2(9)的光输出端通过光纤与所述光纤斐索干涉仪(10)的输入端连接；

所述光纤斐索干涉仪(10)内设有用于接收光的环行器(11)，环行器(11)设有第一端口(12)、第二端口(13)和第三端口(14)；

所述第一端口(12)与第二波分复用器WDM2(9)的输出端相连接，用于接收第二波分复用器WDM2(9)滤出后的光；

所述环行器(11)的第二端口(13)的一侧依次连接具有一定部分反射/部分透射的自聚焦透镜(15)和用于反射光线的反射镜(16)；

所述环行器(11)的第三端口(14)的一侧通过光纤连接用于检测干涉信号的光电探测器(17)，其后连接用于记录波形及相应数据的高速示波器(18)。

2.根据权利要求1所述的一种测量半导体光放大器SOA线宽增强因子的装置，其特征在于，经过所述被测半导体光放大器SOA(8)增益G引起的相移为：

其中，β_c为SOA的线宽增强因子。

3.根据权利要求1所述的一种测量半导体光放大器SOA线宽增强因子的装置，其特征在于，当λ₂光分别为“0”和“1”时，所述半导体光放大器SOA(8)的增益分别为G₁和G₂；

则λ₁光的相移分别为这样经过λ₂光的调制后，λ₁光的相位变化为：