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[发明专利]一种用于紫外探测器光电性能检测的快速质检装置-CN202310931567.X在审
发明人：刘冶;李梓维 -专利权人：湖南大学
申请日： 2023-07-27 - 公布日： 2023-10-27 - 主分类号： G01M11/02 文献下载
摘要：本发明涉及紫外探测器检测领域，更具体的说是一种用于紫外探测器光电性能检测的快速质检装置，包括循环检测轨道，循环检测轨道内转动设置有抬起驱动器，循环检测轨道的两端分别升降设置有两个灯架支撑台，两个灯架支撑台之间设置有燃弧光电检测夹具，两个灯架支撑台上分别纵向滑动设置有两个燃弧光电检测驱动器，循环检测轨道上固定有用于暗电流测试和噪声特性测试的暗电流检测台和噪声检测台；本发明的有益效果为对刚刚加工制备出的紫外探测器进行快速稳定的批量检测，进而实现对批量的对紫外探测器进行循环式的燃弧光电响应特性测试、暗电流测试和噪声特性测试的快速质检。
一种用于紫外探测器光电性能检测快速质检装置

[发明专利]一种对射型光纤元件测试工装-CN202310943671.0在审
发明人：陈长禄;杨靖 -专利权人：深圳市华怡丰科技有限公司
申请日： 2023-07-28 - 公布日： 2023-10-27 - 主分类号： G01M11/02 文献下载
摘要：本申请涉及光纤元件检测的技术领域，尤其是涉及一种对射型光纤元件测试工装，其包括底座、第一固定架、滤光板、第一驱动组件、光纤元件、第二驱动组件和第三驱动组件。第一固定架设置于底座上；滤光板设置于第一固定架上，且滤光板通过第一可拆卸组件与第一固定架转动连接；第一驱动组件设置于第一可拆卸组件上，光纤元件靠近滤光板一侧设置有供滤光板嵌入的检测槽，检测槽内设置有发射端和接收端，发射端和接收端相互对准对射安装；第二驱动组件设置于底座上，光纤元件通过第二可拆卸组件固定在第二驱动组件上；第三驱动组件设置于第二可拆卸组件上。本申请具有改善传统测试工装难以判断光纤元件是否具有对产品裂纹的感应能力的情况的效果。
一种对射光纤元件测试工装

[发明专利]一种检测吸热塔用定日镜光束的质量评定装置及评定方法-CN202310947127.3在审
发明人：谢宇;张墨耕;贺旭东;刘革;闫好辉;周祖旭 -专利权人：山东电力建设第三工程有限公司;中电建新能源集团股份有限公司
申请日： 2023-07-31 - 公布日： 2023-10-27 - 主分类号： G01M11/02 文献下载
摘要：本发明涉及塔式太阳能热电装置技术领域，具体的涉及一种检测吸热塔用定日镜光束的质量评定装置及评定方法，包括1：将阳光反射到朗伯靶上；2：使光斑中心接近靶心；3：采集光电传感设备数据；4：朗伯靶方法处理，得到光电传感设备数据接近环境光照度值时的光束质量；5：确定光斑中心位置和亮度；6：拟合正态分布，结合步骤3和步骤5采集的光电传感设备数据、光斑中心位置和光斑亮度进行正态分布拟合；7：设定光斑的总能量阈值，根据光斑的总能量阈值和正态分布拟合参数，确定光斑的形状和尺寸，得到光斑对应的光束质量。通过使用本方法，能够通过感光设备来来实现高精度的光束质量评定。
一种检测吸热定日光束质量评定装置方法

[发明专利]一种远距离定日镜反射光斑的光束质量校验方法-CN202310947177.1在审
发明人：代增丽;谢宇;李跃飞;李涛;韩兆辉;刘权武 -专利权人：山东电力建设第三工程有限公司
申请日： 2023-07-31 - 公布日： 2023-10-27 - 主分类号： G01M11/02 文献下载
摘要：本发明涉及塔式太阳能热发电技术领域，具体的涉及一种远距离定日镜反射光斑的光束质量校验方法，包括以下步骤：1：靶背景图像采集，进行靶背景图像噪音涨落估计；2：对靶背景图像进行平均化处理，确定光斑中心区域；3：根据确定好的光斑中心区域，对光斑边缘区域的区块进行划分和处理得到区块中心亮度值；4：结合光斑中心区域和区块中心亮度值的数据，进行正态分布拟合，得到正态分布的拟合参数；5：设定光斑的总能量阈值，根据光斑的总能量阈值和正态分布拟合参数，确定光斑的形状和尺寸，得到光斑对应的光束质量。通过使用本方法，能够对定日镜距离靶很远时，进行定日镜的反射的光斑的光束质量的校验，确定定日镜的反射的光斑的光束质量。
一种远距离定日反射光斑光束质量校验方法

[发明专利]一种激光阵列中激光光斑偏移检测方法、系统及相关设备-CN202310949429.4在审
发明人：陈乃奇;胡学艳 -专利权人：深圳市先地图像科技有限公司
申请日： 2023-07-28 - 公布日： 2023-10-27 - 主分类号： G01M11/02 文献下载
摘要：本发明实施例提供了一种激光阵列中激光光斑偏移检测方法、系统及相关设备，用于提高激光阵列中激光光斑在竖直方向的偏移检测的检测精度。本发明实施例方法包括：将所述激光阵列中的激光器分别以间隔数N、(N+1)等间隔两两组合分为多个第一类标定组、第二类标定组，每个所述第一类标定组、第二类标定组中包含两个不相邻的激光器，分别作为标定激光器、目标激光器；获取第一类标定组中的目标激光器与所述标定激光器的光斑中心在竖直方向的偏移量Pi以及每个第二类标定组中的目标激光器与所述标定激光器的光斑中心在竖直方向的偏移量Qi；根据公式Yi＝∣Qi‑Pi∣计算相邻激光器的光斑中心在竖直方向的偏移量，其中Yi中i为大于N+1的正整数。
一种激光阵列光斑偏移检测方法系统相关设备

[发明专利]一种波长选择开关的测试装置与方法-CN202310793653.9在审
发明人：王凡;杨睿;郭金平;葛佳琪;李宇锋;郑洁;禤颖仪;王影丽;王瀚峤;楚文学 -专利权人：武汉光迅科技股份有限公司
申请日： 2023-06-29 - 公布日： 2023-10-27 - 主分类号： G01M11/02 文献下载
摘要：本发明涉及光学领域，提供一种波长选择开关的测试装置与方法，由于阵列准直器中每两个端口分别作为输入端口和输出端口为一组，当两组输入端口和输出端口的端口编号之和相同时，所述两组输入端口和输出端口的光学性能一致，因此将阵列准直器两侧端口作为固定输入端口，通过光开关控制阵列准直器两侧端口中的一个作为输入端口，将所有输入端口和输出端口的组合的光学性能，等效为固定输入端口与另一预设输出端口的组合的光学性能，并由光功率计对所有端口进行监测，从而完成测试，避免了可调谐激光器以及光功率计的大量调整，提供了测试效率，降低了测试成本。
一种波长选择开关测试装置方法

[发明专利]用于测量光学系统的成像特性的设备和方法-CN202280018522.7在审
发明人：拉尔夫·波伊卡拉;A·米尔扎雷克;F·彼得 -专利权人：全欧光学检测仪器有限公司
申请日： 2022-02-22 - 公布日： 2023-10-27 - 主分类号： G01M11/02 文献下载
摘要：本发明涉及一种用于测量光学系统(4)的成像特性的设备(2)，其中设备(2)包括：试件保持器(6)，其被设置用于将待测试的光学系统(4)定位在预先确定的测试位置处；刚性的保持设备(8)和多个MTF测量设备(20)，该MTF测量设备在保持设备(8)的可固定地预先确定的位置处被布置成，使得可以用MTF测量设备中的每一者在光学系统(4)的像场中在分别彼此不同的同样可固定地预先确定的角度方位处测量调制传递函数。该设备的改进之处在于，保持设备(8)包括至少一个第一保持器(10)和至少一个第二保持器(12)，并且多个MTF测量设备包括第一组MTF测量设备(20)和第二组MTF测量设备(20)，其中第一保持器(10)被设置用于将第一组MTF测量设备(20)保持在第一位置处，使得第一组MTF测量设备(20)布置在第一球壳面上，第二保持器(12)被设置用于将第二组MTF测量设备(20)保持在第二位置处，使得第二组MTF测量设备(20)布置在第二球壳面上，其中第一球壳面和第二球壳面具有不同的半径并且相对于彼此同心地布置。
用于测量光学系统成像特性设备方法

[发明专利]不同使用环境照度下显示屏亮度适宜匹配关系的测评方法-CN202310165778.7在审
发明人：张华;蒋婷;蔡纯;钟浩;何雨霞;杨宇 -专利权人：深圳市计量质量检测研究院（国家高新技术计量站、国家数字电子产品质量监督检验中心）
申请日： 2023-02-18 - 公布日： 2023-10-27 - 主分类号： G01M11/02 文献下载
摘要：本公开提供一种不同使用环境照度下显示屏亮度的适宜范围的测评方法，其特征在于，包括：获得不同的环境光照度；在所述不同的环境光照度下调节并测量待测电子产品的显示屏亮度；记录多名观察者对经调节并测量的所述待测电子产品的显示屏亮度的舒适程度反应；以及对所记录的多名观察者的舒适程度反应进行统计分析并做归一化，得到不同的环境光照度下所述待测电子产品的显示屏亮度的适宜范围。由此，可以方便地将不同种类、不同屏幕尺寸和显示亮度的电子产品的适宜范围一同进行评价，以获得直观明了的对比评价结果。
不同使用环境照度显示屏亮度适宜匹配关系测评方法

[发明专利]波前像差导出方法、机器学习模型的生成方法、透镜光学系统的制造方法、波前像差导出装置及波前像差导出程序-CN202180095463.9在审
发明人：早川洋平;西谷守 -专利权人：富士胶片株式会社
申请日： 2021-12-20 - 公布日： 2023-10-27 - 主分类号： G01M11/02 文献下载
摘要：本发明提供一种能够简单地导出波前像差的波前像差导出方法、装置及程序和在该波前像差导出方法中使用的机器学习模型的生成方法、利用该波前像差导出方法的透镜光学系统的制造方法。处理器(51)执行：第1步骤，获取透镜装置(1)的分辨率性能信息；及第2步骤，将上述分辨率性能信息输入到机器学习模型(52)中，并从机器学习模型(52)中得到透镜装置(1)的波前像差。
波前像差导出方法机器学习模型生成透镜光学系统制造装置程序

[发明专利]光纤系统SBS增益系数的测量装置及方法-CN202210407306.3在审
发明人：刘芳华;贺岩;刘美忠 -专利权人：中国科学院上海光学精密机械研究所
申请日： 2022-04-18 - 公布日： 2023-10-27 - 主分类号： G01M11/02 文献下载
摘要：一种光纤系统SBS增益系数的测量装置及方法，装置包括单频光纤激光光源、相位调制系统、光纤放大器、环形器、光纤分光器、光纤可调衰减器、光电探测器、示波器、待测光纤系统和隔离器。本发明通过在光纤分光器的Port3端口测量由待测光纤系统激起的SBS瞬态响应，以及运用指数函数拟合SBS建立过程来获得不同注入激光功率下的SBS建立时间常数。基于SBS建立时间常数与激光功率的关系式，可获得待测光纤系统的SBS增益系数。
光纤系统 sbs 增益系数测量装置方法

[发明专利]一种多镜头测试系统-CN202310913096.X在审
发明人：毛业平 -专利权人：彩晶光电科技（昆山）有限公司
申请日： 2023-07-24 - 公布日： 2023-10-27 - 主分类号： G01M11/02 文献下载
摘要：本申请涉及光学技术领域，公开了一种多镜头测试系统，包括测试箱体和位于测试箱体内的测试装置，测试装置包括图像测试板、中继镜组件、测试载具以及调整机构；测试载具包括承载部和测试部，测试部设置于承载部，测试部包括多个安装部，每一个安装部用于放置待测试产品，且多个安装部分别与待测试产品的多个待测试镜头一一对应，各安装部与承载部之间可拆卸式连接。中继镜组件包括中继镜，中继镜与测试载具间隔设置，图像测试板位于中继镜背离测试载具的一侧。测试载具安装于调整机构，调整机构用于驱动测试载具改变位置以使待测试镜头对位图像测试板。本申请公开的多镜头测试系统，能够对待测试产品的不同镜头进行测试，从而提高测试效率。
一种镜头测试系统

[发明专利]一种绿色设计读写台灯照度与遮光性测试装置-CN202311079409.2在审
发明人：沈浩;董明康;李智信;姜翔;楼炜坤 -专利权人：嘉兴威凯检测技术有限公司
申请日： 2023-08-25 - 公布日： 2023-10-27 - 主分类号： G01M11/02 文献下载
摘要：本发明提供了一种绿色设计读写台灯照度与遮光性测试装置，属于机械技术领域。一种绿色设计读写台灯照度与遮光性测试装置，包括：测试台，所述测试台一侧面具有矩形检测图形，且另一侧面具有扇形检测图形，沿所述检测台的外周绕设有滑道；两个滑块，两个所述滑块设置在所述滑道内且能够沿所述滑道移动，其中一个滑块固定夹持件，另一个滑块固定有安装架，所述夹持件用于安装测量尺；和红外测量仪，所述红外测量仪设置在所述安装架上。本发明具有将两种检测方法集成在一个装置上，检测方便的优点。
一种绿色设计读写台灯照度遮光测试装置

[发明专利]用于AR光波导性能检测设备的辅助定标工装及使用方法-CN202311097893.1在审
发明人：周威;梁思远;范浩;何姜;武鹏飞;刘伟达 -专利权人：茂莱（南京）仪器有限公司
申请日： 2023-08-29 - 公布日： 2023-10-27 - 主分类号： G01M11/02 文献下载
摘要：本发明公开了一种用于AR光波导性能检测设备的辅助定标工装及使用方法，辅助定标工装包括用于实体光阑投影的主光路，在主光路上设置用于主光路分离的分光镜组，以及与分光镜组相对应，将分光光路反射图像投射到检测设备投影模组与成像模组的反射镜组，辅助定标工装在与投影模组、成像模组对接处对应设置接收臂和输出臂；实体光阑通过辅助定标工装的主光路投影虚拟光阑，与检测设备投影模组和成像模组的光阑进行匹配，本发明辅助定标工装的接收臂和输出臂均能够根据待测光波导的入射和出射角度对应进行调整，从而可以根据待测光波导的空间角进行调整，可以满足多种规格光波导检测设备的辅助装调，降低光阑匹配的难度，提升匹配和装调效率。
用于 ar 波导性能检测设备辅助定标工装使用方法

[发明专利]光刻机焦距偏移监测方法、装置、电子设备和存储介质-CN202311212200.9在审
发明人：黄有任;陈超 -专利权人：粤芯半导体技术股份有限公司
申请日： 2023-09-20 - 公布日： 2023-10-27 - 主分类号： G01M11/02 文献下载
摘要：本申请实施例公开了光刻机焦距偏移监测方法、装置、电子设备和存储介质。采集多个光刻样本晶圆的图案的样本侧墙角度，光刻样本晶圆的图案由待测光刻机在不同样本光刻焦距下，按第一光刻过程工艺进行光刻得到；根据样本光刻焦距和样本侧墙角度，拟合得到焦距‑角度关系，焦距‑角度关系为一次函数关系；基于焦距‑角度关系确认待测光刻机的焦距偏移状态。使用待测光刻机通过不同焦距使用相同的过程工艺在样本晶圆加工相同的图案，通过光学关键尺寸仪器对便于直接进行检测的产品中的侧墙角度进行测量，确定检测时待测光刻机的焦距‑角度关系，并表征出后续使用过程中的偏差方向和偏差量，工程师可以准确调整光刻细节，提高光刻机作业的质量。
光刻焦距偏移监测方法装置电子设备存储介质

[发明专利]光学遥感器响应度系数确定方法、设备、装置和存储介质-CN202310890784.9有效
发明人：陈洪耀;司孝龙;李鑫;包诗薇;黄文薪;李佳伟;徐伟伟;杨宝云;王戟翔 -专利权人：中国科学院合肥物质科学研究院
申请日： 2023-07-20 - 公布日： 2023-10-27 - 主分类号： G01M11/02 文献下载
摘要：本申请涉及一种光学遥感器响应度系数确定方法、设备、装置、计算机设备和存储介质。方法包括：在目标光学遥感器的过顶时刻，通过光谱辐射计，获取白板的反射辐亮度，并获取目标光学遥感器的天空漫射与总辐射的比值；利用天空漫射与总辐射的比值，对白板在标准环境下的双向反射分布函数进行校正处理，得到校正后的双向反射分布函数；根据校正后的双向反射分布函数，以及白板的反射辐亮度，得到朗伯体的反射辐亮度；基于朗伯体的反射辐亮度，以及大气透过率，得到目标光学遥感器的入瞳处朗伯体反射辐亮度；根据入瞳处朗伯体反射辐亮度，得到目标光学遥感器的响应度系数。采用本方法能够提高在复杂测量环境下得到的光学遥感器响应度系数的准确性。
光学遥感响应系数确定方法设备装置存储介质

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