[发明专利]晶圆传送装置及半导体处理设备在审
申请号: | 201911132100.9 | 申请日: | 2019-11-19 |
公开(公告)号: | CN112908918A | 公开(公告)日: | 2021-06-04 |
发明(设计)人: | 任春虎 | 申请(专利权)人: | 长鑫存储技术有限公司 |
主分类号: | H01L21/683 | 分类号: | H01L21/683;H01L21/677 |
代理公司: | 上海盈盛知识产权代理事务所(普通合伙) 31294 | 代理人: | 孙佳胤;董琳 |
地址: | 230001 安徽省合肥市蜀山*** | 国省代码: | 安徽;34 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 传送 装置 半导体 处理 设备 | ||
一种晶圆传送装置和一种半导体处理设备,所述晶圆传送装置包括:底座;机械臂,所述机械臂一端固定于所述底座,可绕所述底座转动,另一端设置有承载部,用于放置晶圆;静电吸附组件,与所述承载部之间相对固定连接,用于通过静电吸附力将晶圆吸附于所述承载部表面。所述晶圆传送装置能够减少晶圆破片风险。
技术领域
本发明涉及半导体设备领域,尤其涉及一种晶圆传送装置及半导体处理设备。
背景技术
半导体处理设备的传送腔室内部处于真空状态,传送腔室内部设置有机械臂用于传输晶圆,机械臂的一端用于放置晶圆。现有技术中,机械部端部表面设置有O型橡胶圈,晶圆与所述O型橡胶圈贴合。晶圆在传输过程中,机械臂会发生旋转,晶圆受到离心力的作用可能给会发生滑片现象。机械臂在传送晶圆开始和结束阶段会有一个加减速的动作,由于机械臂的加速时间过短,晶圆由于惯性会与机械臂分离导致滑片。
并且,机械臂表面的O型橡胶圈随着使用时间加长以及传送频率的增加,表面材质老化,导致与晶圆之间的摩擦力下降,使得晶圆更容易发生滑片。
当晶圆与机械臂之间的动态对齐偏差(dynamic alignment)偏差过大,需要人为打开传送腔室的盖板进行校准,增加人为操作性并且晶圆暴露在空气中会导致晶圆污染,严重可使晶圆报废。
因此,如何避免晶圆在传输过程中发生滑片,是目前亟待解决的问题。
发明内容
本发明所要解决的技术问题是,提供一种晶圆传送装置及半导体处理设备,避免晶圆在传输过程中发生滑片。
为了解决上述问题,本发明提供了一种晶圆传送装置,包括:底座;机械臂,所述机械臂一端固定于所述底座,可绕所述底座转动,另一端设置有承载部,所述承载部具有一承载表面,用于放置晶圆;静电吸附组件,与所述承载部之间相对固定连接,用于通过静电吸附力将晶圆吸附于所述承载部表面。
可选的,所述静电吸附组件内嵌于所述承载部内。
可选的,所述静电吸附组件的吸附表面与所述承载部的承载表面齐平。
可选的,所述静电吸附组件包括至少两个电极,其中至少一个正电极和至少一个负电极,所述正电极与所述负电极之间绝缘隔离。
可选的,所述静电吸附组件包括两个正电极和两个负电极,所述正电极与所述负电极相互间隔设置。
可选的,各个所述负电极之间相互电连接,各个所述正电极之间相互电连接。
可选的,所述正电极和负电极为圆环形。
可选的,所述承载部的承载表面为圆形,所述承载部采用绝缘材料。
可选的,所述静电吸附组件还包括电源,所述电源负极连接至各个所述负电极,所述电源的正极连接至各个所述正电极,用于向所述正电极和所述负电极施加电压。
可选的,所述正电极和所述负电极上施加的电压的范围为8mV~15mV。
可选的,还包括:控制装置,所述控制装置包括:控制模块、信号处理模块、继电器;所述控制模块用于发出控制机械臂的升降指令,所述信号处理模块与所述控制模块连接,用于解析所述升降指令,向继电器发出对应的上升信号或下降信号,所述继电器与所述信号处理模块和所述静电吸附组件连接,当接收到上升信号,所述继电器控制所述静电吸附组件产生静电吸附力,当接收到下降信号,所述继电器控控制所述静电吸附组件停止产生静电吸附力。
可选的,所述继电器还连接至所述底座,所述底座可升降,所述继电器接收到上升信号时,控制所述底座上升;所述继电器接收到下降信号时,控制所述底座下降。
可选的,还包括:报警装置,用于在所述机械臂传送晶圆次数达到阈值时,发出需要更换继电器的警报。
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