[发明专利]硅基深紫外雪崩光电二极管及其制备方法有效

专利信息
申请号: 201910302110.6 申请日: 2019-04-17
公开(公告)号: CN111834489B 公开(公告)日: 2022-04-19
发明(设计)人: 赵宇坤;陆书龙;边历峰;邱海兵 申请(专利权)人: 中国科学院苏州纳米技术与纳米仿生研究所
主分类号: H01L31/18 分类号: H01L31/18;H01L31/0304;H01L31/0352;H01L31/107;B82Y40/00
代理公司: 南京利丰知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 32256 代理人: 王茹;王锋
地址: 215123 江苏省苏州市*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 深紫 雪崩 光电二极管 及其 制备 方法
【权利要求书】:

1.一种硅基深紫外雪崩光电二极管的制备方法,包括制作形成外延结构的步骤,其特征在于,制作形成外延结构的步骤包括:

S1、提供Si衬底,所述Si衬底为n型高掺杂的衬底;

S2、在所述Si衬底上依次叠层生长AlN缓冲层、n型高掺杂的纳米柱的第一 Al1-mGamN纳米柱,所述第一Al1-mGamN纳米柱为单层的AlN层或者GaN层,或者,所述第一Al1-mGamN纳米柱包括依次交替设置的GaN层和AlN层,或者,所述第一Al1-mGamN纳米柱为单层的Al1-mGamN层;所述m为固定值,或者,m值的大小沿第一Al1-mGamN纳米柱生长方向由大到小渐变;并且,所述第一Al1-mGamN纳米柱中设有布拉格反射镜结构,所述布拉格反射镜结构包括交替排列设置的GaN层和Al1-nGanN层,或者,所述布拉格反射镜结构包括交替排列设置的AlN层和Al1-nGanN的层,其中,0≤n≤1;

S3、在所述第一 Al1-mGamN纳米柱上叠层生长n型或p型低掺杂的第二Al1-xGaxN纳米柱,所述第二Al1-xGaxN纳米柱为单层的Al1-xGaxN层,或者,所述第二Al1-xGaxN纳米柱包括依次交替设置的AlN间隔层和Al1-xGaxN层,其中,所述第二Al1-xGaxN纳米柱的最底层和最顶层均为AlN间隔层;

S4、在所述第二Al1-xGaxN纳米柱上叠层生长p型高掺杂的第三Al1-zGazN纳米柱;其中,0≤m≤1,0≤x<0.8,0≤z<0.8;

S5、在第三Al1-zGazN纳米柱上依次形成n型或p型低掺杂的第四Al1-aGaaN纳米柱和p型高掺杂的第五AlN纳米柱,其中, 0≤a<0.8,所述第四Al1-aGaaN纳米柱为单层的Al1-aGaaN层,或者,所述第四Al1-aGaaN纳米柱包括依次交替设置的AlN间隔层和Al1-aGaaN层,其中,所述第四Al1-aGaaN纳米柱的第一层和最后一层均为AlN间隔层;所述第四Al1-aGaaN纳米柱中Al组分的含量均匀分布或渐变分布;

并且,在同一个外延结构中,同型掺杂的纳米柱中高掺杂的浓度高于低掺杂的浓度。

2.根据权利要求1所述的制备方法,其特征在于:所述第二Al1-xGaxN纳米柱与第三Al1-zGazN纳米柱中Al组分的含量均匀分布或渐变分布。

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