[发明专利]TFT阵列基板的制备方法及TFT阵列基板在审
申请号: | 201910041297.9 | 申请日: | 2019-01-16 |
公开(公告)号: | CN109786323A | 公开(公告)日: | 2019-05-21 |
发明(设计)人: | 马倩;任章淳 | 申请(专利权)人: | 深圳市华星光电半导体显示技术有限公司 |
主分类号: | H01L21/77 | 分类号: | H01L21/77;H01L27/12 |
代理公司: | 深圳翼盛智成知识产权事务所(普通合伙) 44300 | 代理人: | 黄威 |
地址: | 518132 广东省深*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 制备 源层 缓冲层 遮光层 光阻 基板 层间绝缘层 源漏金属层 栅极绝缘层 光吸收层 光线反射 吸收层 源漏极 吸收 | ||
1.一种TFT阵列基板的制备方法,其特征在于,包括:
S10,提供一基板,在所述基板上依次制备遮光层、缓冲层;
S20,在所述缓冲层上依次制备有源层、栅极绝缘层、栅极、层间绝缘层、以及源漏金属层;其中,
在所述有源层的一侧制备光吸收层。
2.根据权利要求1所述的TFT阵列基板的制备方法,其特征在于,在所述遮光层靠近所述有源层的一侧制备光吸收层。
3.根据权利要求2所述的TFT阵列基板的制备方法,其特征在于,所述S10包括:
S101,提供一基板,在所述基板上沉积金属膜层;
S102,在所述金属膜层表面涂布黑色光阻,对所述黑色光阻进行曝光、显影,形成光吸收层;
S103,对所述金属膜层进行刻蚀,形成图案化的遮光层;
S104,在所述光吸收层上制备所述缓冲层。
4.根据权利要求1所述的TFT阵列基板的制备方法,其特征在于,在所述源漏金属层靠近所述有源层的一侧制备所述光吸收层。
5.根据权利要求4所述的TFT阵列基板的制备方法,其特征在于,所述S20包括:
S201,在所述缓冲层上依次制备有源层、栅极绝缘层、栅极;
S202,在所述缓冲层上沉积无机材料;
S203,在所述无机材料表面涂布黑色光阻,对所述黑色光阻进行曝光、显影,形成光吸收层;
S204,对所述无机材料进行刻蚀,形成图案化的层间绝缘层;
S205,在所述光吸收层上制备源漏金属层。
6.根据权利要求1所述的TFT阵列基板的制备方法,其特征在于,所述栅极和所述栅极绝缘层经过同一道黄光工艺制备。
7.根据权利要求6所述的TFT阵列基板的制备方法,其特征在于,所述栅极和所述栅极绝缘层的制备过程包括:
在所述有源层表面沉积一层栅极绝缘材料;
在所述栅极绝缘材料表面沉积一层栅极金属薄膜;
在所述栅极金属薄膜表面形成图案化的光刻胶,对所述栅极金属薄膜进行刻蚀,形成图案化的所述栅极;
以所述栅极为自对准,对所述栅极绝缘材料进行刻蚀,形成图案化的栅极绝缘层。
8.一种TFT阵列基板,其特征在于,包括:
基板;
遮光层,形成于所述基板上;
缓冲层,形成于所述遮光层上;
有源层,形成于所述缓冲层上;
栅极绝缘层,形成于所述有源层上;
栅极,形成于所述栅极绝缘层上;
层间绝缘层,形成于所述栅极上;
源漏金属层,形成于所述层间绝缘层上;其中,
所述有源层的一侧设置有光吸收层。
9.根据权利要求8所述的TFT阵列基板,其特征在于,所述光吸收层设置于所述遮光层靠近所述有源层的一侧,所述光吸收层与所述源漏金属层对应设置,所述光吸收层为黑色光阻层。
10.根据权利要求8所述的TFT阵列基板,其特征在于,所述光吸收层设置于所述源漏金属层靠近所述有源层的一侧,所述光吸收层与所述源漏金属层对应设置,所述光吸收层为黑色光阻层。
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