[实用新型]半导体清洗装置有效
申请号: | 201821370146.5 | 申请日: | 2018-08-24 |
公开(公告)号: | CN209104120U | 公开(公告)日: | 2019-07-12 |
发明(设计)人: | 林芝帆 | 申请(专利权)人: | 禾宬科技有限公司 |
主分类号: | H01L21/67 | 分类号: | H01L21/67 |
代理公司: | 北京维澳专利代理有限公司 11252 | 代理人: | 王立民;张应 |
地址: | 中国台*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 半导体清洗装置 承载平台 清洁组件 半导体芯片 驱动装置 本实用新型 高压冲洗 高压喷头 技术手段 清洁效果 取像装置 清洁 承载台 吹气 耗材 承载 | ||
1.一种半导体清洗装置,其包括有一承载平台(100)、及一设于所述承载平台(100)顶端的清洁组件(200),所述承载平台(100)能供承载半导体芯片(10)用,所述清洁组件(200)能供对所述半导体芯片(10)进行高压冲洗和吹气干燥用,其特征在于:
所述承载平台(100),其包括有一承载台(1)、以及一主要驱动装置(2);
所述承载台(1),其能供承载定位所述半导体芯片(10)用;
所述主要驱动装置(2),其包括有一位于底端的主要纵向驱动装置(21)、及一设于所述主要纵向驱动装置(21)与所述承载台(1)间的主要横向驱动装置(22);
所述主要纵向驱动装置(21),能带动所述主要纵向驱动装置(21),使其上的所述承载台(1)在水平面(A)上做纵向移动;
所述主要横向驱动装置(22),能带动所述承载台(1)在水平面(A)上做横向移动。
2.根据权利要求1所述的半导体清洗装置,其特征在于:所述承载平台(100),其还包括有一次要驱动装置(3),其包括有设于所述承载台(1)与所述主要驱动装置(2)间的一旋转马达(31)、及一支架(32),所述旋转马达(31)能带动所述承载台(1)旋转,所述支架(32)为位于所述旋转马达(31)外;
所述支架(32),其还包括有以三脚架型态设置于所述承载台(1)与所述主要驱动装置(2)间的三支可动伸缩单元(321),所述可动伸缩单元(321)能配合带动所述承载台(1)以水平面(A)为基准,做至少一方向的面偏转。
3.根据权利要求2所述的半导体清洗装置,其特征在于:所述清洁组件(200),其包括有驱动装置(4)、一高压喷头组(5)、以及一取像装置(6);
所述驱动装置(4),其能供承载带动所述高压喷头组(5)用;
所述高压喷头组(5),其设置于所述驱动装置(4)上,能被所述驱动装置(4)带动做至少一方向的立体移动,并能对所述半导体芯片(10)进行高压冲洗、吹气干燥其中之一的动作,且包括有至少一可调整角度的喷头(51);
所述取像装置(6),其设于所述承载平台(100)上方,能对所述承载平台(100)上所承载的所述半导体芯片(10)取像,以计算流道后设定出冲洗运行路径,使所述高压喷头组(5)能依据前述冲洗运行路径进行冲洗。
4.根据权利要求3所述的半导体清洗装置,其特征在于:所述驱动装置(4),其还包括有一纵向驱动装置(41)、一设于所述纵向驱动装置(41)底端的横向驱动装置(42)、及一设于所述横向驱动装置(42)上的垂直驱动装置(43),所述垂直驱动装置(43)能供承载带动所述高压喷头组(5)用。
5.一种半导体清洗装置,其包括有一承载平台(100)、及一设于所述承载平台(100)顶端的清洁组件(200),所述承载平台(100)能供承载半导体芯片(10)用,所述清洁组件(200)能供对所述半导体芯片(10)进行高压冲洗和吹气干燥用,其特征在于:
所述清洁组件(200),其包括有驱动装置(4)、一高压喷头组(5)、以及一取像装置(6);
所述驱动装置(4),其能供承载带动所述高压喷头组(5)用;
所述高压喷头组(5),其设置于所述驱动装置(4)上,能被所述驱动装置(4)带动做至少一方向的立体移动,并能对所述半导体芯片(10)进行高压冲洗、吹气干燥其中之一的动作,且包括有至少一可调整角度的喷头(51);
所述取像装置(6),其设于所述承载平台(100)上方,能对所述承载平台(100)上所承载的所述半导体芯片(10)取像,以计算流道后设定出冲洗运行路径,使所述高压喷头组(5)能依据前述冲洗运行路径进行冲洗。
6.根据权利要求5所述的半导体清洗装置,其特征在于:所述驱动装置(4),其还包括有一纵向驱动装置(41)、一设于所述纵向驱动装置(41)底端的横向驱动装置(42)、及一设于所述横向驱动装置(42)上的垂直驱动装置(43),所述垂直驱动装置(43)能供承载带动所述高压喷头组(5)用。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于禾宬科技有限公司,未经禾宬科技有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201821370146.5/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:晶圆平边识别纠偏装置
- 下一篇:基板处理装置
- 同类专利
- 专利分类
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造