[实用新型]半导体器件有效

专利信息
申请号: 201820371520.7 申请日: 2018-03-19
公开(公告)号: CN207938601U 公开(公告)日: 2018-10-02
发明(设计)人: 佐藤幸弘;清原俊范 申请(专利权)人: 瑞萨电子株式会社
主分类号: H01L23/49 分类号: H01L23/49;H01L23/495;H01L23/485;H01L21/60
代理公司: 北京市金杜律师事务所 11256 代理人: 陈伟;王娟娟
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 半导体器件 接合 接合面 半导体芯片 接合部 本实用新型 绝缘膜 开口部 封固
【权利要求书】:

1.一种半导体器件,其特征在于,包括:

半导体芯片,其包括电极焊盘和绝缘膜,该电极焊盘具有第1接合面,该绝缘膜具有使所述电极焊盘的所述第1接合面露出的第1开口部;

第1导线,其与所述电极焊盘的所述第1接合面接合;以及

封固体,其以与所述电极焊盘的所述第1接合面接触的方式封固所述半导体芯片和所述第1导线,

所述第1接合面由金属构成,

所述封固体由绝缘材料构成,

在俯视观察时,所述第1接合面具有第1区域、第2区域、及位于所述第1区域与所述第2区域之间的第3区域,

所述第1导线具有与所述第1接合面的所述第1区域接合的第1接合部、与所述第1接合面的所述第2区域接合的第2接合部、及位于所述第1接合部与所述第2接合部之间的第1中间部,

在俯视观察时,所述第1中间部沿着第1方向延伸,且所述第1中间部与所述第3区域分离,

在俯视观察时,所述第1区域在与所述第1方向正交的第2方向上的宽度、和所述第2区域在所述第2方向上的宽度,比所述第3区域在所述第2方向上的宽度大。

2.根据权利要求1所述的半导体器件,其特征在于,

所述第1开口部具有第1边和第2边,该第1边在所述第2方向上位于所述第1开口部的一端部且沿着所述第1方向延伸,该第2边位于所述第1边的相反侧的端部且沿着所述第1方向延伸,

所述第1边分别在所述第1区域与所述第3区域之间以及所述第2区域与所述第3区域之间弯曲,

所述第2边分别在所述第1区域与所述第3区域之间以及所述第2区域与所述第3区域之间弯曲。

3.根据权利要求1所述的半导体器件,其特征在于,

在俯视观察时,所述第3区域在所述第2方向上的宽度小于或等于所述第1导线的所述第1中间部在所述第2方向上的宽度。

4.根据权利要求1所述的半导体器件,其特征在于,

在所述第2方向上,第2导线配置在所述第1导线的旁边,

所述第1导线与所述第2导线在所述第2方向上的分离距离比所述第1导线的线径小。

5.根据权利要求1所述的半导体器件,其特征在于,

在俯视观察时,所述第1开口部具有沿着所述第1方向延伸的第1边、及位于所述第1边的相反侧的第2边,

所述第1边在俯视观察时具有沿着所述第1区域延伸的第1部分、沿着所述第2区域延伸的第2部分、以及位于所述第1部分与所述第2部分之间且沿着所述第3区域延伸的第3部分,

所述第1边的所述第1部分的延长线与所述第3部分之间的宽度,比所述第1边的所述第3部分与所述第1导线的所述第1中间部之间的宽度大。

6.根据权利要求1所述的半导体器件,其特征在于,

在俯视观察时,所述第1开口部具有沿着所述第1方向延伸的第1边及位于所述第1边的相反侧的第2边,

所述第1边在俯视观察时具有沿着所述第1区域延伸的第1部分、沿着所述第2区域延伸的第2部分、以及位于所述第1部分与所述第2部分之间且沿着所述第3区域延伸的第3部分,

所述第2边在俯视观察时具有沿着所述第1区域延伸的第4部分、沿着所述第2区域延伸的第5部分、以及位于所述第4部分与所述第5部分之间且沿着所述第3区域延伸的第6部分,

所述第1边的所述第3部分位于所述第1部分的延长线与所述第2边之间,

所述第2边的所述第6部分位于所述第4部分的延长线与所述第1边之间。

7.根据权利要求1所述的半导体器件,其特征在于,

所述第1接合面的所述第1区域具有沿着所述第2方向突出的第1突出部,

在俯视观察时,所述第1突出部在所述第1方向上的长度比所述第1区域在所述第1方向上的长度短。

8.根据权利要求7所述的半导体器件,其特征在于,

在俯视观察时,所述第1突出部在所述第2方向上的长度比所述第1突出部在所述第1方向上的长度短。

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